天线高低温耐受试验标准

高、低温耐受试验标准

发行日期2016.6.8 页码：1-3 1.目的：

验证产品在高低温环境下各项性能指标符合客户或出厂检验要求。

2.范围：

公司所有天线产品。

3.职责：

3.1新产品开发时根据客户或设计工程师对产品耐受高低温的要求，项目小组成员需根据要求做相应的高低温耐受测试试验标准和试验，并符合要求，试验时任何不符合的，需寻找根本原因，并采取纠正措施，直至试验合格。

3.2产品批量生产后，质量部需定期对产品高低温耐受能力进行验证。

4.程序：

4.1抽样样品数量由设计团队定义，并通过参加新产品开发负责质量管理的工程师确认，一般已10件为宜.

4.2试验计划见（附件），通常用于样品试验阶段，并保存试验报告和样品，可供查询及追溯。

4.3批量生产产品高低温耐受能力检验频次及数量见作业指导书上规定。

5.低温耐受测试标准：

5.1试验条件：温度：-30℃±5℃时间：160h

5.2 试验步骤：

5.2.1 将处于室温下的试验样品，在不通电的状态下按正常位置放入试验箱（室）内，此时试验箱（室）的温度也为室温

5.2.2 对试验箱（室）进行降温，试验箱（室）内温度以不大于5℃/min的速率下降到试验温度，并且等待试验样品达到稳定温度（所谓稳定温度是指试验样品的温度与其最后温度之差在3℃）。试验样品在达到稳定温度后在规定温度下持续储存160小时

高、低温耐受试验标准

发行日期2016.6.8 页码：2-3

5.2.3 在存储时间结束后，应在升温前停止通电。等待温度恢复到常温后取出试验样品进行性能测试

5.2.4 性能测试：试验样品对比母片测试频率及阻抗匹配符合要求（具体见作业指导书）；装入整机内使用网络分析仪测试频率及阻抗匹配（频率1575M，50Ω阻抗匹配）；无源测试实收卫星（测试一片样品即可）

6. 高温耐受测试标准：

6.1 试验条件：温度：85℃±5℃时间：160h

6.2 试验步骤：

6.2.1 将处于室温下的试验样品，在不通电的状态下按正常位置放入试验箱（室）内，此时试验箱（室）的温度也为室温

6.2.2 对试验箱（室）进行降温，试验箱（室）内温度以不大于5℃/min的速率上升到试验温度，并且等待试验样品达到稳定温度（所谓稳定温度是指试验样品的温度与其最后温度之差在3℃）。试验样品在达到稳定温度后在规定温度下持续储存160小时

6.2.3 在存储时间结束后，应在降温前停止通电。等待温度恢复到常温后取出试验样品进行性能测试

6.2.4 性能测试：试验样品对比母片测试频率及阻抗匹配符合要求（具体见作业指导书）；装入整机内使用网络分析仪测试频率及阻抗匹配（频率1575M，50Ω阻抗匹配）；无源测试实收卫星（测试一片样品即可）

7. 高、低温循环耐受测试标准：

7.1 试验条件：高温温度：85℃±5℃低温温度：-30℃±5℃

7.2 试验步骤：

7.2.1 将处于室温下的试验样品，在不通电的状态下按正常位置放入试验箱（室）内，此时试验箱（室）的温度也为室温

7.2.2 对试验箱（室）进行升温，试验箱（室）内温度以不大于5℃/min的速率上升到试验温度，并且等待试验样品达到稳定温度（所谓稳定温度是指试验样品的温度与其最后温度之差在3℃），保温1h

高、低温耐受试验标准编号：HFDZ-TSB-710-07 版本号：A/0 发行日期2016.6.8 页码：3-3

7.2.3 对试验箱（室）进行降温，试验箱（室）内温度以不大于5℃/min的速率上升到试验温度，并且等待试验样品达到稳定温度（所谓稳定温度是指试验样品的温度与其最后温度之差在3℃），保温1h

7.2.4 按上述高低温循环步骤进行5次交替

7.2.5 高低温循环结束后，应在降温前停止通电。等待温度恢复到常温后取出试验样品进行性能测试

7.2.6 性能测试：试验样品对比母片测试频率及阻抗匹配符合要求（具体见作业指导书）；装入整机内使用网络分析仪测试频率及阻抗匹配（频率1575M，50Ω阻抗匹配）；无源测试实收卫星（测试一片样品即可）

8记录：

8.1所有新产品项目开发时的试验计划及测试结果，必须由项目组长和项目组成员签字确认，并保存在项目文件夹中。

8.2批量生产后的测试记录由质量部保存。

9注解：

9.1这项标准和规定，批量生产时质量和生产部经理需理解和按要求执行本标准。

编制钱涌审核韩巍

日期2016.06.07 日期2016.06.08