红外光谱分析现代仪器分析实验报告
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本科实验报告
现代仪器分析实验
学院材料科学与工程学院专业班级矿物加工11-2班
学生姓名xxxxx
学号
指导老师_
矿物加工教研室制
一、实验目的
1、掌握红外光谱分析法的基本原理。
2、掌握Nicolet5700智能傅立叶红外光谱仪的操作方法。
3、了解基本且常用的压片制样技术在红外光谱测定中的应用。
4、通过谱图解析及标准谱图的检索,了解由红外光谱鉴定未知物的一般过程。
二、实验原理
红外吸收光谱法是通过研究物质结构与红外吸收光谱间的关系,来对物质进行分析的,红外光谱可以用吸收峰谱带的位置和峰的强度加以表征。测定未知物结构是红外光谱定性分析的一个重要用途。根据实验所测绘的红外光谱图的吸收峰位置、强度和形状,利用基团振动频率与分子结构的关系,来确定吸收带的归属,确认分子中所含的基团或键,并推断分子的结构,鉴定的步骤如下:
(1)对样品做初步了解,如样品的纯度、外观、来源及元素分析结果,及物理性质(分子量、沸点、熔点)。
(2)确定未知物不饱和度,以推测化合物可能的结构;
(3)图谱解析
①首先在官能团区(4000~1300cm-1)搜寻官能团的特征伸缩振动;
②再根据“指纹区”(1300~400cm-1)的吸收情况,进一步确认该基团的存在以及与其它基团的结合方式。
三、使用仪器、材料
1 仪器:美国热电公司Nicolet5700智能傅立叶红外光谱仪;HY-12型手动液压式红外压片机及配套压片模具;磁性样品架;红外灯干燥器;玛瑙研钵。
2 试剂:待测薄膜。
四、实验步骤
1. 红外光谱仪的准备
(1)打开红外光谱仪电源开关,待仪器稳定30 分钟以上,方可测定;
(2)打开电脑,选择win98系统,打开OMNIC E.S.P软件;在Collect菜单下的Experiment Set-up 中设置实验参数;
(3)实验参数设置:分辨率 4 cm-1,扫描次数32,扫描范围4000-400 cm-1;纵坐标为Transmittance
2.固体样品的制备
(1)取干燥的苯甲酸试样约1mg于干净的玛瑙研钵中,在红外灯下研磨成细粉,再加入约150mg干燥且已研磨成细粉的KBr一起研磨至二者完全混合均匀,混合物粒度约为2μm以下(样品与KBr的比例为1:100~1:200)。
(2)取适量的混合样品于干净的压片模具中,堆积均匀,用手压式压片机用力加压约30s,制成透明试样薄片。
3.样品的红外光谱测定
(3)小心取出试样薄片,装在磁性样品架上,放入Nicolet5700智能傅立叶红外光谱仪的样品室中,在选择的仪器程序下进行测定,通常先测空气的空白背景,再将样品置于光路中,测量样品红外光谱图。
(4)扫谱结束后,取出样品架,取下薄片,将压片模具、试样架等擦洗干净置于干燥器中保存好。
4.数据处理
(1)对所测谱图进行基线校正及适当平滑处理,标出主要吸收峰的波数值,储存数据后,打印谱图。
(2)用仪器自带软件对图谱进行检索,并判别各主要吸收峰的归属,得出化合物的结构,并与已知结构进行对比。
五、实验过程原始记录(数据、图表等)
(实验数据处理:通过origin软件绘制红外光谱吸收图,可在后面附页打印)
波数透
500
1000
1500
2000
2500
3000
3500
4000
4500
020
40
60
80
100
光率波数
RC=CRH 顺反异构
C=C 双键伸缩振动
-CH2伸
缩振动
六、实验结果及分析
从图谱中可以看出,
1.X-H伸缩振动区,2800-3000cm-1处出现最强峰,表明其为饱和的C-H振动,取代基对其影响很小,吸收出现在2930cm-1和2850cm-1附近,表明其为-CH2的伸缩振动。
2.指纹区,700cm-1附近和1000cm-1附近出现吸收峰,是RC=CRH的顺反异构。
3.三键和累积双键区无吸收。
4.双键伸缩振动区,1500cm-1和1600cm-1附近出现两个峰,这是单核芳烃的C=C伸缩振动。说明该薄膜材料中含有芳核。
七、实验小结
通过本次试验,让我对红外光谱有了进一步的认识,并在老师的指导下顺利地完成了实验的操作,在对红外吸收光谱测试时要做空气背景扣除,并了解其原理。本次试验受益匪浅,对实验仪器的原理和操作有了基本的掌握。
八、思考题
1.为什么进行红外吸收光谱测试时要做空气背景扣除?
FT-IR仪测试样品的红外光谱时要先测试背景是因为空气中含有较多量的CO2和H2O 会影响测定结果的准确性,所以在测定样品之前需要先测定背景并进行扣除。
2.进行固体样品测试时,为什么要将样品研磨至2μm 左右?避免散射光的影响。
实验报告
实验项目名称:XRD分析
开课实验室:选矿楼年月日
学院材料学院年级、专业、班矿加11-2班姓名温欣
课程
现代仪器分析指导教师成绩
名称
教师
评语教师签名:
年月日
一、实验目的
1.掌握X射线衍射仪的结构和工作原理。
2.了解X射线衍射物相定性分析的方法和步骤。
3.了解X射线衍射精确测定晶胞参数的方法。
4.了解使用相关软件处理XRD测试结果的基本方法。
二、实验原理
X射线是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力。对物质进行物相分析、定性分析、定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。
特征X射线是一种波长很短(约为20~0.06nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光,即当一束X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W. H. Bragg, W. .L Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格定律:
θn
λ
2,
sin
d=
式中λ为X射线的波长,n为任何正整数。当X射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面面上时,在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。