芯片IC检验标准
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1. 抽样计划标准
正常情况下，根据公司标准抽取样品和本公司实际情况作出的芯片检验标准为准则。
非正常情况下，转换规则如下： 正常 加严：在正常检验状态下，如果连续3批中有1批抽检时发现问题，则由正常检验转为加严检验（全检）。
加严
正常：在加严检验状态下，如果连续3批没有发现问题，则由加严检验转为正常检验。
停止检验：在加严检验状态下，如果退货数累积到3批或者连续2批被拒收将停止检验，直至措施已被有 效执行方恢复检验，检验从正常检验开始。
2. 接收标准（AQL ）（客户有要求是按客户要求执行）
致命缺陷（CR ）： 0 严重缺陷（MA ）：0.25 轻微缺陷（MI ）： 0.65
3. 物料是否接收和退货，及判定标准，参照下列缺陷分类
4. QC 检验员接触IC 时，必须配戴防静电装置
备注：以上表格打印出来根据每一批次作出质检报告(内含质检人员及时间供应商) 每一批次都有跟踪都有追溯。