x射线物相分析的基本原理
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X射線分析儀器的基本結構和工作原理
常規EDXRF分析儀器的基本構成
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X射線分析儀器的基本結構和工作原理
X光管原理﹕
當電流經過燈絲時﹐熱電子逸出在燈絲區域形成電子霧﹐ 部分電子被高壓電場加速﹐高速撞向燈光陽極靶材﹐產生連續 的X射線及靶材的特征譜。其中約有99%的能量轉換為熱量﹐只 有約1%的能量轉換為X射線。
X射線分析技朮的基本原理和技朮特點
X射線分析的物理學基礎﹕
當一束高能粒子(射線)與原子相互作用時﹐如果其能量大 于或等于原子某一軌道電子的結合能﹐則可將該軌道電子有 逐出﹐形成空穴﹔這時原子處于非穩定狀態﹐在極短的時間 內外層電子向空穴躍遷﹐使原子恢復到穩定狀態﹔在這一躍 遷過程中﹐兩電子殼層的能量差將以特征x射線的形式溢出 原子。
如果空穴在K/L/M殼層產生﹐就相應產生K/L/M線系的X 熒光射線。
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X射線分析来自百度文库朮的基本原理和技朮特點
X射線分析技朮的物理學基礎﹕ 特征X熒光譜線的能量 – 元素種類 – 定性 特征X熒光譜線的強度 – 元素含量 – 定量
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X射線分析技朮的基本原理和技朮特點
X射線分析技朮的應用技朮特點﹕
1.基體效應導致基體材質對分析結果有嚴重影響。 2.由于特征譜線存在重疊和相互干擾﹐在很多特殊 情況下﹐直接采信XRF的分析結果會產生風險(逃 逸峰)。 3.科學的應用方法致關重要﹐甚至比儀器本身更重 要。
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X射線分析儀器的基本結構和工作原理
常規EDXRF分析儀器的基本構成
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X射線分析儀器的基本結構和工作原理
X光管原理﹕
當電流經過燈絲時﹐熱電子逸出在燈絲區域形成電子霧﹐ 部分電子被高壓電場加速﹐高速撞向燈光陽極靶材﹐產生連續 的X射線及靶材的特征譜。其中約有99%的能量轉換為熱量﹐只 有約1%的能量轉換為X射線。
X射線分析技朮的基本原理和技朮特點
X射線分析的物理學基礎﹕
當一束高能粒子(射線)與原子相互作用時﹐如果其能量大 于或等于原子某一軌道電子的結合能﹐則可將該軌道電子有 逐出﹐形成空穴﹔這時原子處于非穩定狀態﹐在極短的時間 內外層電子向空穴躍遷﹐使原子恢復到穩定狀態﹔在這一躍 遷過程中﹐兩電子殼層的能量差將以特征x射線的形式溢出 原子。
如果空穴在K/L/M殼層產生﹐就相應產生K/L/M線系的X 熒光射線。
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X射線分析来自百度文库朮的基本原理和技朮特點
X射線分析技朮的物理學基礎﹕ 特征X熒光譜線的能量 – 元素種類 – 定性 特征X熒光譜線的強度 – 元素含量 – 定量
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X射線分析技朮的基本原理和技朮特點
X射線分析技朮的應用技朮特點﹕
1.基體效應導致基體材質對分析結果有嚴重影響。 2.由于特征譜線存在重疊和相互干擾﹐在很多特殊 情況下﹐直接采信XRF的分析結果會產生風險(逃 逸峰)。 3.科學的應用方法致關重要﹐甚至比儀器本身更重 要。
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