应用基因扫描方法快速检测EGFR基因19外显子缺失突变

［］ ７
Ｍｏ ｅ ｔ Ｌ， Ｂｏ ｔ ｏ Ｃ． Ｐ ｎ ｅ ｒｔ ａ ｔｎ ｉ ｅ ｄ Ｄ， ｅ ａ ．Ｓ ｒａ ｅ ｔ １ ｕ ｆ ｃ ＮＫ ｅ ｅ ｔ ｒ ｒｃ ｐｏ
ａｄ ｔｅｒｌ ａｄ ｎ ｔｍｏ ｅｌ Ｊ ．Ｓ ｍ ｍ ｎｌ ０ ６ １ ｎ ｈ ｉ ｉ ｎ ｓＯ ｕ ｒｃｌ ｇ ｓ［ ］ ｅ ｉＩ ｍｕ ｏ，２０ ，８
廉 ， 感度 高 ， 查 出 １ 敏 可 ％的 突 变 。 关键词 癌 ， 小细 胞 肺 ； Ｅ Ｆ 基 因扫 描 ； 基 因 突 变 非 Ｇ Ｒ；
研 究 ＿ 表 明 ， 表 皮 生 长 因 子 受 体 （ ｅ ｌ ＿ 人 ｔ ｈ
ｅ ｉｅｍａ ｇｏ ｔ ｆｃｏ ｃｐｏ ， Ｇ Ｒ） 氨 酸 激 酶 ｐｄ ｒ ｌ ｒｗ ｈ ａ ｔ ｒ ｅ ｔｒＥ Ｆ 酪 ｒｅ
华 舜 生 物 技 术 有 限公 司 ）２ＸＰａｔ ｕ ｓ ｒ ｘ ， ｌｎｉ ｍ Ｍａｔ Ｍｉ ｎ ｅ （ 根公 司 ） Ｇ ｎ ｕ ｎ ｒ 天 ， ｅ ｅＱ ａ ｔ ｏ紫外 分 光 光度 计 （ ｐ 通用
突变及 ｅｏ２ ｘｎ １的 Ｌ ５ Ｒ点突变 ，其 中，ｘｎ９缺 ８８ ｅｏ ｌ 失 突 变 占约 ４ ％ ， 要 是 发 生 ９ １ 、５ １ 、４个 ６ 主 、２ １ 、８ ２ 核 苷 酸 的 框 内缺 失 突 变 。 Ｅ Ｆ ｘｎ９缺 失 突 变 Ｇ Ｒ ｅｏ ｌ 的检 测 ．为 临床 筛 选 靶 向治 疗 患 者 提 供 了 指 导 作
失． 以确定 其灵敏 度 。 （ ） 因扫描 法检 测 ２ ５例 非小 细胞 肺 癌 患者 的手 术 组织 或 穿刺 标本 ； ２基 ２ 荧光标 记 Ｅ Ｆ 基 因 １ 外 显 子 的 上 游 引 物 ，Ｃ 扩 增 目 的 片 段 ， １０ 测 序 仪 进 行 基 因 扫 描 。 ｅ ｅＳ ａ ＧＲ ９ ＰＲ ３０Ａ Ｇ ｎ ｃｎ
（ 收稿 ：０ ０ ０ — ６ 编辑 ： ２ １— ４ ０ 吴淑金 ）
应 用 基 因扫 描 方 法 快 速 检 测 Ｅ Ｆ Ｇ Ｒ基 因 １ ９ 外 显 子 缺 失 突变
黄 迎 苏健 陈世 良 林嘉 颖 陈 志红 张绪超 唐 红 艳 陈剑 光 谢 至 郭爱 林
摘 要 目的 ： 用基 因扫 描 法 检 测 人 表 皮 生 长 因子 受 体 （ Ｇ Ｒ） 因 １ 应 ＥＦ 基 ９外 显 子 缺 失 突 变 。 法 ： １ 将 方 （） Ｅ Ｆ Ｇ Ｒ基 因 １ 显 子 缺 失 （ ｅＥ ４ 一 ７ ０ 型 及 野 生 型 基 因 分 别 克 隆 到 Ｔ载 体 ， 将 含 突 变 型 基 因 及 含 野 ９外 ｄｌ７ ６ Ａ ５ ） 并 生 型 基 因 的 载 体 按 ｌ１ １５ １１ 、 ：０ １１０ ｌ３０的 比 例 进 行 混 合 ， 用 基 因 扫 描 法 检 测 １ ： 、 ：、 ：０ １ 、 ：０ 、 ：０ ５ ９外 显 子 的 缺
２ ０ ，９ （ ） １ ２ ． ０ ６ ２ ８ １ ：— １
ｓｌｍ ｊ ｉ ｏｏ ｐ ｔ ｉｔ ｃｍ ｌ ｌ ｓ ［］ Ｉ ｍ ｎ ｌ ｅ ， ｅ － ａ ｒ ｓ ｃｍ ａ ｈ ｉ ｏ ｐｅ ｃ ｓ Ｉ Ｊ ．ｍ ｕ ｏ Ｒ ｖ ｆ ｏ ｈｔ ．ｌ ｙ ｘ ａ
２ ０ ２ ４ １ ：４ — ５ ． ０ ６， １ （ ） １ ３ １４
［］ ６
Ｙｏ ｏ ａ ， Ｋｉ Ｓ． Ｌ ｃ ｎ ｉ ｇ ｏ ａｕ ａ ｉｌ ｒ ｃ ｌ ｙ ｋ ｙ ｍａ Ｗ Ｍ ｍ ｉ ｅ ｓｎ ｆ ｎ ｔ ｒ ｌｋ ｌｅ ｅ ｌ ｂ ｓ
ｃｌｒ ｏ ｉ ｎａｄｓ ｎｌ ｇ［］ Ｃ ｒ Ｔ ｐＭ ｃ ｂ ｌｍ ｕ ｏ ， ｅ ｃｇ ｔ ｇ ａ ｎ Ｊ ． ｕｒ ｏ ｉ ｏ ｉ ｍ ｎｌ ｌｅ ｎ ｉ ｎ ｉ ｉ ｏ ｒ ｏＩ
实用 医学杂 志 ２ １ 年 第 ２ 卷 第 １ 期 ００ ６ ９
３ ４Biblioteka Baidu１
ａｃｍｍｅｃ ｌｍｍｕｏ ｇ ｅｉ ｓｐ ｒｔ ｎｓｓ ｍ ［］ Ｃ ｔｍ ｔ ， ｏ ｒｉ ａ ｉ ｎｍａｎｔ ｅａａ ｏ ｙｔ Ｊ． ｙｏ ｅｒ ｃ ｉ ｅ ｙ
２ ０ ，５ ４ ： ８ － ９ ． ０ １４ （）２５２ ３
１ 材料 与方 法
１１ 主要 试 剂 和 仪 器 ．
核 酸 抽 提 纯 化试 剂 （ 海 上
区域 发 生 突 变 ，可 使 酪 氨 酸 激 酶 抑 制 剂 治疗 晚 期
非 小 细 胞 肺 癌 的有 效 率 达 到 ８ ％以上 。非 小 细 胞 ０ 肺 癌 Ｅ Ｆ 突 变 ９ ％ 以 上 发 生 在 ｅｏ ｌ ＧＲ ０ ｘ ｎ ９的 缺 失
（）１１ １８ ３ ：５ — ５ ．
［ ］ Ｌ ｎｅ ． ｅｌ ｅｏｎｔ ｎ［ ］ Ａ ｎ ｅ ５ ａｉｒＬＩＮＫ ｃｌｒｃｇ ｉｏ Ｊ ． ｎ ｕＲ ｖＩ ｎｌ ０ ５ ｉ ｍｍｕ ｏ，２ ０ ，
２ （ ）２ ５ ２ ４ ３ １ ：２ — ７ ．
［］ ８
Ｓ ｅ ｒ Ａ， Ｖｉ ｉｒ Ｅ．Ｃｏ ｏ ｎ ｔ ｗａｔ Ｃ ｖｅ ｌｎ ａ Ｍ．Ｓ ｒ ｔ ｇｅ ｆｎ ｔ ｒ ｌ ｋ ｌ ｒ ｔ ｅ ｉ ｓ ｏ ａ ｕ ａ ｉ ｅ ａ ｌ
Ｇ ｎ ｔ ｅ３５软 件 分 析 结 果 。同 时 用 直 接 测 序 法 检 测 Ｅ Ｆ ９外 显 子 的 缺 失 突 变 。 果 ： １ 基 因扫 描 法 可 ｅｏｙ ｒ ． ｐ Ｇ Ｒ１ 结 （） 测 出 １１０混 合 液 中 的 突 变 型 ， 敏 度 较 高 。 （ ） ２ ：０ 灵 ２ ２ ５例 肺 癌 标 本 ， 检 测 出 ２ 可 ７例 （２０ 缺 失 ； 接 测 序 １．％） 直 法则检 出 ２ ５例 （ １５ 缺 失 突 变 。 结 论 ： 因 扫 描 法检 测 Ｅ Ｆ １．％） 基 Ｇ Ｒ基 因 １ ９外 显 子 的缺 失 ， 法 简便 ， 本 低 方 成