Xrd定性定量分析

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内标法
XRD应用实例1(k值法)
• 根据k值法法可以得到某物相的含量: M 1 Ii S X i K IS M Z
• MS---刚玉的质量 • MZ--- 原物总质量
• 计算结果如下:
XRD应用实例2(k值法)
Thank you!
外标法
• 外标法是用对比试样中待测的第j相的某条衍射线 和纯j相(外标物质)的同一条衍射线的强度来获 得第j相含量的方法。
• 标准物质不加到待测试样中,且通常以某纯待测 物相为标样,制成一系列外标试样,测绘出工作 曲线,进行定量相分析的方法叫外标法。
• 外标法优点是待测样中不混入标准物质。 缺点是强度不同时测量,会影响测量准确度。
衍射仪法的衍射强度:
I0 表示入射线强度,各参数都是单相物质的衍射参量。 对多相混合物,μl应为混合物的吸收系数μm 其余均与含量无m
W i
定量相分析的方法
物相定量分析的具体方法有: • 单线条法 • 外标法 • 内标法 • K值法 • 绝热法 • 直接比较法 • 联立方程法
《材料研究方法》第一次汇报
第八组 研究方法:XRD
XRD定量分析
XRD定量相分析
• X射线物相定量分析是根据混合相试样中各 相物质的衍射的强度来确定各相物质的相 对含量。
• 从衍射线的强度理论可知,多相混合物中 某一相的衍射强度,随该相的相对含量的 增加而增加。因而,可通过衍射强度的大 小求出混合物中某相参与衍射的体积分数 或重量分数。

化合物结构表征课件第二章XRD定量相分析

化合物结构表征课件第二章XRD定量相分析

布拉格方程
衍射波的角度与晶面间距 、X射线波长和晶面取向有 关,可以用布拉格方程表
示。
晶体结构与XRD
晶体结构的周期性导致X射 线衍射现象的出现,不同 的晶体结构具有独特的衍
射图谱。
XRD定量相分析的方法
相对强度法
通过测量各衍射峰的强度,利用已知 纯物质的标准谱图进行对比,计算各 相的相对含量。
绝对强度法
晶体结构的解析
晶体结构类型
根据衍射数据确定晶体所属的晶系和 空间群。
晶胞参数
通过晶格常数计算晶胞参数,如晶格 类型、晶格常数等。
定量相分析的计算方法
峰面积法
通过测量各物相衍射峰的 面积或高度,计算各物相 的相对含量。
线性组合法
通过测量各物相衍射峰的 角度位置,利用线性组合 计算各物相的相对含量。
案例三:矿物材料的XRD定量相分析
总结词
通过XRD技术对矿物材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于了解矿物的形成过程和演化历史 。
详细描述
矿物材料是由地质作用形成的天然矿石和矿物集合体,其晶体结构和相组成反映了地球的形成和演化 历史。XRD技术可以对矿物材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析,从而了解矿物的形成过程 和演化历史,为地质学和地球科学的研究提供重要依据。
案例二:陶瓷材料的XRD定量相分析
总结词
利用XRD技术对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于优化陶瓷 材料的制备工艺和提高其性能。
详细描述
陶瓷材料广泛应用于电子、能源、环保等领域,其性能与晶体结构和相组成密 切相关。XRD技术可以对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析, 从而优化制备工艺,提高陶瓷材料的性能和稳定性。
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• 计算结果如下:
XRD应用实例2(k值法)
Thank you!
用K值法进行定量相分析时 第一步是求出K值 第二步是求出混合试样中i相含量 Wi 第三步是从 Wi值算出原待测样中i相重量百分数 Wi 。
Wi Wi 1 - WS
XRD应用实例1(k值法)
• 根据k值法法可以得到某物相的含量: Ii MS 1 Xi K IS MZ
• MS---刚玉的质量 • MZ--- 原物总质量
外标法
• 外标法是用对比试样中待测的第j相的某条衍射线 和纯j相(外标物质)的同一条衍射线的强度来获 得第j相含量的方法。
• 标准物质不加到待测试样中,且通常以某纯待测 物相为标样,制成一系列外标试样,测绘出工作 曲线,进行定量相分析的方法叫外标法。
• 外标法优点是待测样中不混入标准物质。 缺点是强度不同时测量,会影响测量准确度。
K值法
• K值法也是内标法的一种,只是对内标法做 了修改,使常数C与标准物质的掺入量无关, 并称之为基体冲洗法,也就是k值法。 • k值法的优点: • 1.K值与内标物质加入量的多少无关; • 2.不用绘制定标曲线,分析手续简化。
• 研究方法》第一次汇报
第八组 研究方法:XRD
XRD定量分析
XRD定量相分析
• X射线物相定量分析是根据混合相试样中各 相物质的衍射的强度来确定各相物质的相 对含量。
• 从衍射线的强度理论可知,多相混合物中 某一相的衍射强度,随该相的相对含量的 增加而增加。因而,可通过衍射强度的大 小求出混合物中某相参与衍射的体积分数 或重量分数。
衍射仪法的衍射强度:
I0 表示入射线强度,各参数都是单相物质的衍射参量。 对多相混合物,μl应为混合物的吸收系数μm 其余均与含量无关(记为K,未知常数)。则:

XRD定量分析..

XRD定量分析..

若被测试样含A、B、C等n个相,欲测A相,可掺内标物质 S,此时A相的体积分数分别为CA 和CA’ ,而Cs为标准 物质在复合试样中的体积分数,则在复合试样中: IA=K2CA’ /μ,
= K4xA ’ = KSxA
IS =K3CS /μ
因 xA’ = xA(1- xS)
IA / IS =K2CA’ /K3CS =K2xA’ ρs /K3xSρA 此时A相含量 xA与IA / IS 线性相关。
KS的处理:
I A / I S K S xA
做出A相与标准物质复合试样的定标曲线,即,事先测量出一
套由已知A相浓度的原始试样和恒定浓度的表征物质(即xS不
变)组成的复合试样,做出定标曲线,测定其IA / IS ,则KS就可 以确定。
3、K值法
原理:由内标法可得 Ii/IS=(Cixi/ρ i)/(CSxS/ρ S), 令 Ki = (Ci/ρ i)/(CS/ρ S), 则有 Ii/IS= Kixi/xS Ki的处理:纯待测物与参比物1:1混合。(以Al2O3为参比物质) 在待测样品中加入一定质量分数xS的参比物S,则任意相i和参比 物S而言有: xi = xS (Ii/IS)/Ki, 则i相在原始样品中的质量分数 Xi = xi/(1- xi)
外标法的特点
不必在试样中加入无关的相,可以定量计算 混合物中单相的含量。 需要配制不同α含量的样品做定标曲线,过程 较为复杂。
2、内标法
在被测粉末样品中加入一种恒定的标准物质制成复合试样。 通过测复合试样中待测相的某一衍射线强度与内标物质某一 衍射线强度之比,测定待测相含量。 标样:常用Al2O3, SiO2, NiO
β
,线吸收系数为μ
α
该公式表示了待测物相的在试样中的质量分数与衍射峰强度 之间的关系。

第四章XRD的定量分析

第四章XRD的定量分析

第四章XRD的定量分析
主讲:金祖权博士
土木工程学院
课堂复习
粉末照相法
德拜-谢勒法
X 射线仪
物相定性分析
主要内容X射线定量分析
物相定量分析定量分析原理
a相的衍射强度:混合物线吸收系数见公式a相的衍射强度公式见公式u Ca K Ia /*=
外标法原理:
混合物中的A相强度公式
纯物质强度公式:I=K/u
两者相除:得到公式
外标法测试方法
测出混合物和纯物质的衍射强度,
带入公式可求
测出纯A的衍射强度
测出不同A含量混合物的衍射强度
绘制定标曲线,然后依据曲线标定
内标法原理:
试样:
基本控制式:
内标法测试方法
内标和外标法制作标准曲线费事
Chung提出了标准化的内标法,也称为基体冲洗法—K值法
原理:利用预先测定好的参比强度K值,在定量分析时不需要做标准曲线,利用被测相质量含量和衍射强度的线性方程,通过数学计算而得到.
定量分析应注意问题实验设备、测试条件和方法
试样的要求
定性图谱
无标定量在水泥中的应用。

XRD分析

XRD分析

研究X射线波长和一般晶体晶格参数发现,两者的尺寸是数值相当或比较接近,从而有科学家断言,晶体晶格是X射线发生衍射现象的天然栅栏!后来果然得到了验证。

晶体是这样;非晶体的物质没有这种有规律的格子排列格局,当然就不能获得X射线衍射现象了。

物质有没有固定的熔点、沸点,并没有验证是一个纯净物、包括晶体的独有的予以可区别其它物质的测试属性。

晶体的熔点、沸点是相对比较固定,熔程也是比较窄,但拥有这一熔点、沸点的物质未必仅此一个;有些非晶体的纯净物,其熔点沸点也会在一定数值、熔程也会很窄。

总之,可能在二十世纪初期还可以这样做,但现在更科学的大型精密仪器分析法出现后,就不被认同了。

X射线衍射原理及应用介绍:特征X射线及其衍射X射线是一种波长很短(约为20~0.06 nm)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。

在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。

考虑到X射线的波长和晶体内部原子间的距离(10^(-8)cm)相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束X射线通过晶体时将会发生衍射;衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上增强、而在其它方向上减弱;分析在照相底片上获得的衍射花样,便可确定晶体结构。

这一预见随后为实验所验证。

1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式——布拉格定律:2d sinθ=nλ,式中,λ为X射线的波长,衍射的级数n为任何正整数。

当X射线以掠角θ(入射角的余角,又称为布拉格角)入射到某一具有d点阵平面间距的原子面上时,在满足布拉格方程时,会在反射方向上获得一组因叠加而加强的衍射线。

xrd定量分析

xrd定量分析

Ii由实验可得,关键求出 KCi 和 mi
Ii KCi
i
n
mii
i 1

Ii
KCi
i M
Ii由实验可得,关键求出 KCi 和 M,混合物
质量吸收系数。
M
mi
基本依据:混合物中各物相衍射强度随该相
含量的的增加而提高,但由于各相吸收系数
的不同,其衍射强度 I 并不正比于含量,而
需要修正。
§2 . X射线定量分析方法 2.1 直接分析法(外标法、纯品标准法)
e2 C 2m
2
N
F
2 P 1 Cos 2 2 Sin 2Cos
e 2M
1
2 l
…… (1)
I
I 0 S3 32R
e2 C 2m
2
N
F
2 P 1 Cos 2 2 Sin 2Cos
e 2M
1
2 l
令物理常数K:
K
I0 S3 32R
e2 C 2m
2
令与结构有关的部分R: R N F 2 P 1 Cos 2 2 e 2M Sin 2Cos
加入量原则上按参考物定量线与待测相定量线 强度相近,一般以5~20%为宜。必须混合均匀。
参考物定量线选择除除不重叠最强线原则外, 应尽量靠近待测相定量线。
常用参考物:NaCl, CaF2, MgO, ZnO,Al2O3,quartz等
内标法优点
➢原则上不受实验条件变化的影响,但保持一致更好;
X射线的吸收
通过物质时,X射线能量转变为其它形式的能量而衰
减损耗。
衰减的程度与所经过物质中的距离成正比
Ix
I xdx
I
dI
x

关于XRD物相定量分析

关于XRD物相定量分析

关于XRD物相定量分析X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)是一种常见的物相分析技术,可以用于准确测定材料中的晶体结构、晶格参数和晶体取向。

它是通过将束缚在一个固定平面的晶体样品,用X射线进行照射,并测量和分析散射的X射线来实现的。

XRD物相定量分析是一种将XRD技术与定量分析方法相结合的技术,旨在确定材料中各种不同晶相的存在量。

这种分析方法在材料科学、地质学、矿物学和结构化学等领域具有重要的应用价值。

XRD物相定量分析主要分为两个步骤:第一步是通过X射线衍射图谱的处理和分析来确定各种晶相的存在和优先方向。

第二步是根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。

下面将详细介绍这两个步骤。

在XRD物相定量分析的第一步中,需要进行X射线衍射图谱的处理和分析,以确定各种晶相的存在和优先方向。

通常使用的工具是X射线衍射图谱,可以通过它来获得物样品的晶格常数和相位辅助信息。

在这一步中,需要使用的方法包括傅立叶变换、谱分析和红外线色散等。

这些方法可以将衍射峰的波长与晶体结构的特征相结合,以确定晶体中晶格参数和晶相的存在。

在第二步中,根据衍射峰的强度和峰面积来定量计算每个晶相的相对含量。

通常使用的方法是相对强度法和内部标定法。

相对强度法是通过比较不同晶相的强度峰来计算相对含量。

而内部标定法则是将一种已知晶相作为内部标定物质,通过测量其相对峰强来计算其他晶相的相对含量。

这种方法需要准确的内部标定物质来进行校准。

除了这两个步骤外,还需要考虑一些影响XRD物相定量分析的因素。

例如,样品制备和衍射仪的性能等。

样品制备需要保证样品的纯度、颗粒大小和十分的均匀性,以避免峰重叠和多相分析误差。

而衍射仪的性能则涉及到亮度、解析度和角度精确度等因素,对结果的准确性和精度有着重要的影响。

总体来说,XRD物相定量分析是一种重要的材料表征技术,可以准确测定材料中各种晶相的相对含量,并为材料的特性和性能提供重要的信息。

XRD实验物相定性分析解析

XRD实验物相定性分析解析

XRD实验物相定性分析解析X射线衍射(XRD)是一种非常常用的实验技术,用于物相的定性和定量分析。

通过观察材料中X射线的衍射图案,我们可以确定材料的晶体结构、晶体定向和晶格参数等信息。

本文将详细介绍XRD实验物相定性分析的原理和解析过程。

nλ = 2dsinθ其中,n是衍射阶次,λ是入射X射线的波长,d是晶格间距,θ是入射角。

通过测量衍射角θ和计算晶格间距d,我们可以确定材料的晶体结构。

在进行XRD实验时,我们首先需要准备待测物样品,通常是一块固体材料。

然后,我们将样品放置在X射线束下,以使X射线通过样品,发生衍射。

衍射的X射线通过样品后,会被X射线探测器测量,产生衍射谱图。

在解读衍射谱图时,我们需要关注以下两个关键参数:衍射角(2θ)和衍射强度(I)。

衍射角是X射线的入射角度,是由仪器测量得到的,而衍射强度则表示材料中的晶体结构和取向。

通常,衍射强度与晶体的晶格性质、晶体结构以及晶体定向有关。

通过比对样品的衍射谱图与数据库中的标准衍射谱图,我们可以确定材料的物相。

数据库中包含了各种材料的XRD衍射谱图,包括金属、陶瓷、无机晶体等。

对于未知物相的样品,我们可以通过计算其衍射角和衍射强度与数据库中的标准进行比对,从而找到与其相匹配的物相。

此外,我们还可以通过拟合样品的衍射谱图,计算出材料的晶格参数。

常用的拟合方法有布拉格法、勒貌法和整形法等。

这些方法利用了衍射角和衍射强度的信息,通过数学模型计算出最适合样品的晶格参数。

需要注意的是,XRD实验在物相定性分析上具有一定的局限性。

例如,对于非晶态或粘土等无定形材料,XRD无法提供明确的物相信息。

此外,XRD实验还无法确定材料中不同晶体相的相对含量,只能进行物相定性分析。

综上所述,XRD实验是一种常用的物相定性分析技术。

通过观察样品的衍射谱图,并与数据库中的标准进行比对,我们可以确定材料的物相。

此外,通过拟合样品的衍射谱图,我们还可以计算材料的晶格参数。

xRD原理简介

xRD原理简介

X射线,又叫X光,英文简称X-ray,是一种电磁波。

它的波长介于紫外线和伽玛射线之间,它的波长分布在可见光之外,因此肉眼无法观察到。

常用的X射线波长分布在0.5埃~2.5埃。

正因为它是一种电磁波,因此它与无线电波、红外线、可见光、伽玛射线等,没有本质区别,只是波长不同而已。

∙X射线既然是一种波,因此在特定条件下,会产生X射线干涉和衍射现象,也可以用频率、波长来表征;∙X射线还具有料子性,它能产生光电效应、荧光辐射和康普顿散射等现象。

因此我们可以把X射线看成是一个个的光子(光量子),每一个光子都具有特定的能量。

光子数量可以由光电计数器(一种传感器)捕获。

∙用于金属探伤的X-ray波长一般在0.05埃~1.0埃之间或更短,因为当X-ray波长愈短时,光子能量就愈大,x-ray的穿透能力就愈强,可以检测更厚、更重的材料。

因此有时,我们把波长短的X射线为硬X射线,反之则称为软X射线。

XRD是什么意思?XRD是英文X-ray diffraction或者X-Ray Diffractometer的缩写,即X射线衍射,或X射线衍射仪。

我们经常也把X射线衍射分析技术也直接称为XRD分析,或简称为XRD。

XRD分析手段有2种,分单晶X射线衍射法,多晶X射线衍射法。

对应地,所用的XRD设备,也分为单晶衍射仪和多晶衍射仪。

物相,简称为相,它是有某种晶体结构并能用化学式表征其化学成分(或有一定的成分范围)的固体物质。

化学成分不同的是不同的物相,化学成分相同而内部结构不同的,也是不同的物相。

例如,同样是铁,它能以晶体结构为体心立方结构的Fe、也能以面心立方结构的Fe、还能以体心立方结构的高温Fe,这3种物相形式存在。

什么是物相分析?或者说什么是X射线衍射分析?其实这两者是一个问题。

物相,是指具有某种晶体结构并能用化学式表征其化学成分的固体物质,因此对每种物质或材料,常常需要弄清楚它含有什么元素,每种元素的存在状态如何,这种回答这种元素的存在状态,即是物相分分析的问题,也称为物相鉴定。

XRD物相定量分析分析

XRD物相定量分析分析
对于没有RIR值的物相,可以自己测量,将质量比为1:1的纯相和标准刚玉混合, 测试混合相的XRD,将待测相的最强峰强度比上刚玉最强峰强度就是RIR值。
Thank You!
XRD物相定量分析
X射线定量分析原理
各相衍射线的强度随其含量的增加而提高,但含量与强度并不成正比,需加以修正。
主要方法:外标法、内标法(K值法)、绝热法(自清洗法)
外标法
原理:外标法是将待测样品中i相的某一衍射线条的强度与纯物质i相的相同 衍射峰线条强度进行直接比较,即可求得待测样品中i相的相对含量。 方法: 假设待测样品为α+β两相,则wα+wβ=1 那么
以Al2O3为内标相,则KAS=RIR(SiO2)=3.41; KAC=RIR(CaCO3)=2; KAA=1 WA=IA/(IA/KAA+IC/KAC+IS/KAS) =6.0/(6.0/1+45.1/2+100/3.41)=0.10 Ws=Is/KAS (IA/KAA+IC/KAC+IS/KAS) =100/3.41(6.0/1+45.1/2+100/3.41)=0.51 Wc=Ic/KAC (IA/KAA+IC/KAC+IS/KAS) =45.1/2(6.0/1+45.1/2+100/3.41)=0.39
• X的质量分数可表示为:
• 其中A表示内标相,K为参比强度值,可以通过实测或者是查找PDF卡 片获得。
单击S/M自动匹配
限制元素
单峰检索

点击回去按钮再曲线拟合
拟合结果误差在一定范围内(<5%)
找到
找到各物质的最强相 I% 删掉剩下的,保留最强项,点击close

XRD实验物相定性分析报告

XRD实验物相定性分析报告

XRD实验物相定性分析报告X射线衍射(XRD)是一种常用的非破坏性物相分析方法,可用于定性和定量分析样品的晶体结构、晶体相、晶格常数等信息。

在本次XRD实验中,我们将对一系列样品进行物相定性的分析。

首先,我们选取了五个不同的样品进行实验。

这些样品包括纯净的金属铜、金属铝以及复合样品铜铝合金,以及两种不同的无机化合物(氧化铜和氧化铝)。

实验使用的仪器是一台经典的X射线粉末衍射仪。

在实验中,我们首先对每个样品进行了样品的制备。

对于金属样品,我们使用细砂纸对其进行打磨,以获得光滑的表面;对于化合物样品,我们使用电子天平仔细称取,并在细砂纸上打磨以获得细粉末。

接下来,我们将样品放置在玻璃制的样品台上,并确保样品表面的平整度和均匀性。

然后,我们调整仪器的参数,例如电压和电流,以获得最佳的实验条件。

最后,我们通过旋转样品台来获取样品在不同角度下的衍射图谱。

根据实验得到的衍射图谱,我们可以观察到不同样品之间的显著差异。

在所有样品中,我们观察到了数个有强衍射峰的峰位,这些峰位对应于不同的晶面。

通过与标准晶体数据库进行对比,我们可以确定每个样品的物相。

在金属铜样品中,我们观察到了强衍射峰位于2θ角为43.3°和50.4°左右,这是金属铜的典型衍射峰。

通过与数据库的对比,我们可以确定金属铜的物相。

对于金属铝样品,我们观察到了强衍射峰位于2θ角为38.7°和44.7°左右,这是金属铝的典型衍射峰。

通过与数据库的对比,我们可以确定金属铝的物相。

对于铜铝合金样品,我们观察到了金属铜和金属铝的衍射峰,这表明该样品是铜铝合金。

通过在数据库中查找铜铝合金的物相,我们可以进一步确定其组成和晶体结构。

对于氧化铜样品,我们观察到了强衍射峰位于2θ角为35.5°和38.8°左右,这是氧化铜的典型衍射峰。

通过与数据库的对比,我们可以确定氧化铜的物相。

对于氧化铝样品,我们观察到了强衍射峰位于2θ角为37.8°和43.6°左右,这是氧化铝的典型衍射峰。

XRD定性分析

XRD定性分析

生物医学领域的应用
生物矿化作用研究
药物释放行为研究
生物材料结构分析
生物分子相互作用研究
对样品的要求
样品必须是晶体
样品必须均匀
添加标题
添加标题
样品必须无杂质
添加标题
添加标题
样品必须无应力
实验条件的影响
温度:温度变化 会影响XRD定性 分析的准确性
湿度:湿度过高可 能导致样品变质, 影响分析结果
注意事项:a. 样品纯度要求高,避免杂质干扰;b. 实验条件要稳定,确保数据准确性;c. 结果分析要严谨,避免误判。
应用范围:广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域,是研究晶体结构的重要手段之一。
衍射峰的识别和比对
结果解读
确定峰位:根据峰位确定物相 峰高分析:通过峰高判断物相含量 峰宽分析:通过峰宽判断晶体结构 半高宽分析:通过半高宽判断晶体取向
高通量XRD技术
定义:高通量XRD技术是一种高效率、高通量的X射线衍射技术,能够快速、准确地获取样品 的晶体结构和相组成信息。
应用领域:广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域,尤其在催化剂、电池材料、药物研发 等领域具有重要作用。
发展趋势:随着计算机技术和探测器技术的不断发展,高通量XRD技术将进一步提高检测速度 和精度,拓展应用领域,为科学研究和技术创新提供更加有力的支持。
未来展望:未来,高通量XRD技术有望与其他分析技术相结合,形成更为强大的综合分析系统, 为解决复杂问题提供更加全面的解决方案。
微区XRD技术
定义:利用微小 区域内的X射线 衍射现象进行物 质结构分析的技 术
应用领域:材料 科学、生物学、 医学等
发展趋势:提高 检测灵敏度、实 现实时动态监测、 拓展应用范围

XRD及其定性分析

XRD及其定性分析

2. 定量分析 2.1 定量分析原理 2.2直接比较法 2.3 内标法 2.4 K值法
物相定性分析
基本原理
任何一种结晶物质有特定的晶体结构,在X线 照射下,产生特定的衍射花样.
多相试样的衍射花样由所含物质的衍射花样 机械加和而成
衍射花样数据:由d(衍射线位置)-I(衍射线相 对强度组成.
测角仪实验选择
取出角选择:
取出角变小,分辨率提高,X强度减少. 兼顾两者,常取6度.
发射狭缝选择:
狭缝大,能量增加;但在低角范围因辐射宽度大而使 部分射线在试样框上.
定性—1度狭缝;低角度衍射缝:1/2或1/6度.
实验条件选择
测角仪实验选择
接受狭缝
狭缝小,分辨率高,衍射强度下降 定性为0.3mm,较高分辨率为0.15
梭拉狭缝由一纪等距平行的重金属薄片组成,用来限制由焦点F发出 的射线的水平发散角。 接收狭缝用以排除非衍射线进入计数管和限制衍射束在水平方向上 的发散度,使衍射线背底得到改善。
测角仪光学布置
线焦点尺寸:1.5*10mm 靶面与接受方向夹角3度 入射光阑:梭形光阑和两 个窄缝光阑组成.光束中 光线与图面平行. 接受光阑:梭形光阑和一 个窄缝光阑组成.限制射 入到计数器的光束宽度. 梭形光阑:互相平行,间隔 很密的重金属(Ta或Mo)组 成
用带游标的量片尺可以测得线对之间的距离2L,且精度可 达0.02-0.1mm。
• 当采用φ114.6的德拜相机时,测量的衍射线弧对间距
(2L)每毫米对应的2θ角为1°;若采用φ57.3的德拜相 机时,测量的衍射线弧对间距(2L)每毫米对应的2θ角为 2°。
• 实际上由于底片伸缩、试样偏心、相机尺寸不准等因素的
探测器

XRD定量分析方法及应用

XRD定量分析方法及应用
¾ 外标法优点是待测样中不混入标准物质。缺点是强度不同 时测量,会影响测量准确度。
外标法
2. 定量分析方法
各相为同素异构的多晶型物相组成的待测I j试/样I js,=即W试样j 各相元
素组成和质量吸收系数μm均相同。
石英-方石英 ¾在相同摄照条件下,同一晶 面衍射线积分强度之比,即等 于待测试样中j相的重量分数, 其关系为一直线。 ¾外标法一般只用于两相体系。
BaCO3、MgO、ZnO、TiO2等9种分析纯试剂,作为配制待测样品的 原料。先对这些纯试剂进行XRD物相定性分析,以确保其都是均一 的单相物质,即不能有同素异构相存在。以纯Si粉作为内标物。 内标曲线的制作及验证定量分析 ¾ 将试样以一定的比例混合,设A、B 为所选需进行定量分析并为制作 内标曲线的试样,将各组试样按表1配比配成4组样品。然后将配置 的样品研磨使其充分混匀,一般混合研磨时间不少于2 h。
内标法
2. 定量分析方法
内标法是含多相物质(μm不相同)的待测试样中加入一恒定重量
百分数Ws的内标物质而进行定量相分析的方法。 设待测试样有N个相,欲求其中i相的重量百分数Wi,在待测
试样中加入重量分数为Ws的内标物质s,均匀混合制成混合 试样,其中第i相和内标物质某条较强衍射线积分强度如下式
∑ ρ s W j μ mj
j =1
式中Wi′是i相在混合试样中的重量分数 ,Wi′=Wi(1-Ws)
两式相比得
Ii Is
=
KiWi′ρs KsWs ρi
=
Ki Ks

(1
−Ws )
Ws ρi
ρ
sHale Waihona Puke Wi=K ′Wi
若两相物质i和s一定,所用X射线波长λ一定,因每个待测试样 中加入的内标物质的重量百分数Ws都保持恒定,则K′为常 数,上式为线性函数。表明混合试样中i相与s相某一较强衍射 线条积分强度比值与i相在原待测试样中的重量分数Wi成正比。

XRD

XRD

XRD可以做定性,定量分析。

即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量,可以测定材料的内应力,材料晶体的大小等等。

X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。

晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。

由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。

满足衍射条件,可应用布拉格公式:2dsinθ=λ应用已知波长的X射线来测量θ角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查有Pcpdgwin,Search match,High score和Jade,比较常用的是后两种。

High score(1)可以调用的数据格式更多。

(2)窗口设置更人性化,用户可以自己选择。

(3)谱线位置的显示方式,可以让你更直接地看到检索的情况(4)手动加峰或减峰更加方便。

(5)可以对衍射图进行平滑等操作,使图更漂亮。

(6)可以更改原始数据的步长、起始角度等参数。

(7)可以进行0点的校正。

(8)可以对峰的外形进行校正。

(9)可以进行半定量分析。

(10)物相检索更加方便,检索方式更多。

(11)可以编写批处理命令,对于同一系列的衍射图,一键搞定。

软件下载:xlxia@Jade和Highscore相比自动检索功能少差,但它有比之更多的功能。

(1)它可以进行衍射峰的指标化。

(2)进行晶格参数的计算。

(3)根据标样对晶格参数进行校正。

(4)轻松计算峰的面积、质心。

(5)出图更加方便,你可以在图上进行更加随意的编辑。

软件下载:hbsdwbg@此外,还有Pcpdgwin和search match人体哪些部位吸收X射线多人体组织结构的密度可归纳为三类:属于高密度的有骨组织和钙化灶等;中等密度的有软骨、肌肉等;低密度的有脂肪组织以及存在于呼吸道、胃肠道、鼻窦和乳突内的气体等。

Xrd定性定量分析

Xrd定性定量分析
方法概要:在被测的粉末试样中加入一种含量恒定的标准物质,混合均匀后制成 复合试样,测量复合试样中待测相的某一衍射峰强度与内标物质某一衍射峰强 度,根据两个强度之比来计算待测相的含量。 公式推导:设被测试样由n个相组成,待测相为A,在试样中掺入内标物质S,混 合均匀后制成复合试样。 令: WA ---A在被测试样中的重量百分数;
I s K s ρ j Ws
令:K
j s
=
Kj Ks

ρs ρj
Ij Is
=
K
j s

W
' j
Ws
Kjs仅与j相及S相的密度、X射线波长(λ)及选测衍射峰的衍射角 (2θ)有关,与相的含量无关。在两相衍射线强度Ij和IS所对应的衍射角 2θj和2θS一定的情况下Kjs为常数。
测定出 Kjs 后,就可求出W’j后,再利用关系式W’j=Wj/(1-Ws) 即可 求出Wj。
内标法的缺点: 需要作定标曲线,操作较麻烦。
二、 K值法(基体冲洗法) Chung F. H. , J. Appl. Cryst. 7(1974), 519
方法概要: 1974年F. H. Chung对内标法作了改进,在推导过程中把强度公式中
各吸收系数用其它量取代,好像把吸收效应从基体中冲洗出去,故称为基体冲
WC = 0.10389 = 33.51%
K值法的优点: 1. K值与待测相和内标物质的含量无关。因此可以任意选取内标物质的 含量 2.只要配制一个由待测相和内标物质组成的混合试样便可测定K值,因 此不需要测绘定标曲线 3.K值具有常数意义,只要待测相、内标物质、实验条件相同,无论待 测相的含量如何变化,都可以使用一个精确测定的K值
∑ 2 ρ S W j (µ m ) j

xrd定量分析

xrd定量分析

⏹ 原理及普适公式目的是在物相鉴定基础上,测定物质中各相含量。

根据衍射强度与该物质参与衍射的体积或重量的增加而增加关系(非线性)。

表示为n 相混合物中,j 相某衍射线的强度与参与衍射的该相的体积V j 或重量分数W j 的关系式:mj nj j j j j j W V CK I μρ∑==1/mj nj j j j j j W W CK I μρ∑==1/为定量分析普适公式(Alexander 定量分析公式),其中常数213213424⋅=λπc m e I r C o强度因子Mhkl hklj e coa k P F K 222202sin 2cos 11-⋅⋅+=θθθν结构因子)(212i i i lz hy hx i ni i hkle f F++-=∑=π(i 为晶胞中原子)注意:公式中,因各相μm 不同,每相V j 或W j 的变化引起μm 总体变化,导致I j ~V j 或W j 的非线性。

由处理K j 与总体μm 的不同引伸出多种定量分析方法,以满足实际需求,此处介绍常用方法。

Rietveld 无标样定量方法将专论。

试样要求:晶粒足够细,大小相当,混合均匀,无择优取向等。

⏹ 外标法要纯标样,它不加到待测样中,该法实用于大批量试样中某相定量测量。

要在相同的实验条件,测选定的同一衍射线强度。

① 当 μm 均同(同素异构)j jmjs s js j mj nj j jj j js jw C W C W CK W W CK I I ==⋅=∑='')()(1μρμρ∵μm 均同,∑=1j W (对待测样相),对纯相 1=js W ② 当μm 不同时a )对两相混合物i 、j ,用j 相作外标可导出 [])(mi mj j mj js mj j j I I I W μμμμ--=其中μmi , μmj 已知,I j 和I js 可测,从而可计算出j 相在混合相中的重量百分数w j,如mi mj μμ= 既为上例。

XRD定量分析方法

XRD定量分析方法

背景的扣除
随机取向 择优取向
Random orientation Preferred orientation
择优取向使某些晶面在试样表面上平行于表 面的分布几率增大,另一些晶面的分布几率减小。
衍射线的重叠是常见的,即使是同一个物相 也有可能出现。如,对于立方晶系d=(h2+k2+l2)1/2, 故( 300 )和( 221 )衍射线因 d 值相同而重叠, (410)和( 322)衍射线重叠。谱线重叠会影响 分析结果的准确性,甚至给分析造成困难。因此, 有时候需要对重叠线进行分离。对于同一物相的 重叠线,可以根据相对强度公式通过结构因子和 多重性因子进行强度的分割。目前 X射线衍射仪 大多配有分峰程序,可对重叠线进行分峰。
对于同素异构体(化学组成相同但结构不 同,如-SiO2和-SiO2、-Al2O3和-Al2O3 ), 由于吸收系数相同,m= mj, 故 可直接根据样品中 j 相和纯 j 相的同一根衍射线 的相对强度比求出j相含量。这种样品的外标法 标准曲线是直线。 由此可见,外标法主要适用于测定同素异 构体和两相混合物的相组成 。 ,
(5) 对于固溶体,要考虑固溶成分对散射因子、 角因子、吸收系数的影响。 (6) 用全自动衍射仪测定衍射线扣除背底后的累积 强度作为净峰强度(积分强度法)。 (7) 尽量选择强度高、不存在重叠的衍射峰测量, 而且各物相所用衍射峰尽量靠近。当两个相的 晶体结构相近时,主要的衍射峰容易发生重叠, 通常要对衍射线进行分峰及合理扣除背底,进行 衍射强度的修正。 (8) 对于含非晶相的样品,应通过拟合扣除非晶相的 “馒头峰”。 (9) 微量相可采用转靶或同步辐射衍射仪测定。
由于各物相的l不相同,含量改变也会改变。 假设j相的体积分数为fj ,试样被照射的体积V为 单位体积,则 :
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WA’---A在复合试样中的重量百分数; WS--- S在复合试样中的重量百分数
WA = WA’/ (1-WS ); WA’ = WA× (1-WS ) 根据X射线定量分析的普适公式,复合试样中A与S的衍射强度分别为:
I A = CK A
W
' A
n +1
; I S = CK S
WS
n +1
∑ 2 ρ A W j (µ m ) j
∑ 2 ρ S W j (µ m ) j
j =1
j =1
IA IS
=
KA ρA

ρS KS
•W 'A WS
=
KA KS

ρS ρA

(1
− WS WS
)

WA
令:
KA KS

ρS ρA

(1 − WS WS
)
=
K,
它是与WA无关的常数,
于是得到内标法的基本方程:
IA IS
=
K •WA
复 合 试 样 中 A 与 S 相 的 强 度 比 IA/IS 与 待 测 试 样 中 A 相 的 重 量 分 数 WA 呈 线 性 关 系,K为其斜率。
目前,最先进的衍射仪公司提供60集卡片,采用计算机自动检索
每种结晶物质都具有自己特有的晶体结构。在一定波长的X射线 作用下,每种晶体物质给出自己特有的衍射花样。衍射花样与物质种 类一一对应
多相试样的衍射花样所有组成物相的衍射花样机械叠加而成 定性相分析采用d--晶面间距和I--衍射线相对强度的数据代表衍射 花样,用d-I数据作为定性相分析的基本判据 定性相分析的方法:将试样衍射得到的一组d-I数据与标准的PDF 卡片手册中的d-I数据组进行比对,以判定试样中存在的物相
的含量为Ws,j相的含量变为W'j。复合试样中选测的j相的某条衍射线强度为
IA,选测的S相的某条衍射线强度为IS ,可分别表示为:
I j = CK j
W
' j
n +1
∑ 2ρ j
W(j µ

mj
j =1
Is = CK s
Ws
n+1
∑ 2ρs W j (µm ) j
j =1
Ij
=
Kj

ρs

W
' j
物理性质:εα、nωβ、εγ—折射率;Sign—光性正负;2V—光轴夹角;D—密度;mp—熔点;Color—颜色; Ref—参考资料
试样来源:制备方法;化学分析,有时亦注明升华点(S.P.),分解温度(D.T.),转变点(T.P.),摄照温度等。
2. PDF检索手册
Hanawalt J. D.等人于1938年首先发起,以d-I数据组代替衍射花 样,制备衍射数据卡片的工作
8 X射线物相分析
8.1 定性相分析
1. PDF卡片 2. PDF检索手册 3. 定性分析实例
8.2 定量相分析
1. 内标法;2. K值法 3. 绝热法;4. 直接对比法 5. 无标样法
8.1 定性相分析
1. PDF卡片
物相的化学式和名称:其后常有一个数字和 大写英文字母的组合说明。数字表示单胞中 的原子数;英文字母表示布拉菲点阵类型:
1 − 吸收因子 2µ
将与相含量无关的物理量与强度因子分别用常数C及K表示:
C
=
1 32πR
I0
e4 m2c4
λ3
K
=
1 V02
F2 hkl
Phkl
1+ cos2 2θ sin2 θ cosθ
e−2M
衍射线强度公式可简化为:
I = CK V 2µ
对于由n个相组成的多相混合物,设第j相为待测相,假定该相参加衍射
待测相(第j相)的衍射线强度与其含量关系的普适公式为:
I j = CK j
Vj
n
∑ 2 ρ W j ( µ m ) j
j =1
或 I j = CK j
Wj
n
∑ 2 ρ j W j ( µ m ) j
j =1
一般情况下,待测相的衍射线强度与其含量(Vj或Wj )间没有简单的线性关 系。因此发展了多种定量相分析方法。
3. 定性分析实例
8.2 X射线定量相分析
任务:在定性相分析的基础上测定多相混合物中各相的含量 理论基础:物相的衍射强度与该物相参加衍射的体积成正比
用衍射仪测定(平板试样)时,单相物质的衍射强度公式为:
I
=
1 32πR
I0
e4 m2c4
λ3 V02
VFh2kl
Phkl
1+ cos2 2θ sin 2 θ cosθ
[ ] ( ) I A
= CK
A 2ρA
µm
WA A WA +WB)
=
CK
A
WA
2 ρ A (µ m )A
一般情况下,待测相的衍射线强度与其含量(Vj或Wj )间没有简单的线性关 系。已发展了多种定量相分析方法。
Ä 内标法
Ä K值法(基体冲洗法)
Ä 绝热法
Ä 直接对比法
Ä 无标样法
Ä 其它新方法
一、 内标法
计算得:
W M′
=
922 • 0.69 4829 2.47
= 0.05334,
WM
=
0.05334 1− 0.69
= 17.21%
W Q′
=
8604 4829

0.69 8.08
=
0.15215,
WQ
=
0.15215 1− 0.69
=
49.08%
W C′
=
6660 4829

0.69 9.16
=
0.10389,
洗法。另外其推导的K值与内标物质加入量的多少无关,且测算容易,因此也
常称为K值法。
K值法与内标法的主要区别在于对比而K值法的比例常数K与内标物质含量无关。
公式推导: 设待测试样中含有n个相,要测其中j相的含量(Wj) 在待测样品中掺入内标物质为S制备成复合试样。复合试样中内标物质S相
实验步骤: (1) 测定Kjs值 制备一个待测相(j相)和内标物质(S相)重量为1:1的两相复合 试样,测量此复合试样中j及S相某选测峰的衍射强度Ij和IS。因为此复合试样中 W’j/Ws=1,故Kjs = Ij/IS (2) 制备待测相的复合试样 向待测试样中掺入与测Kjs时相同的内标物质(掺入 量不限),混合均匀,即为待测相的复合试样
(3) 测量待测相的复合试样 所选测的衍射峰及实验条件与测定Kjs时完全相同 (4) 计算待测相的含量 由测量待测相的复合试样所得的Ij和IS、S相的掺入量 Ws、预先测出的Kjs计算出W’j ,再利用关系式W’j=Wj/(1-Ws) 即可求出Wj。
W
' j
=
Ij Is

Ws
K
j s

Wj
=
W
' j
三、绝热法
Chung F. H. , J. Appl. Cryst. 8(1975),17
方法概要: 1975年由Chung F. H.在K值法的基础上提出。测量时,内标物质由
待测试样中某一组分充当,而不另外加入,好像与系统外隔绝,借用物理学名 词称为“绝热法”。 公式推导: 设待测试样由n个已定性鉴定的相组成,没有非晶相或未鉴定相存 在(即使有,其含量就少到可以忽略)。采用待测试样中的j相作为内标物质, 按K值法计算公式可写出:
C—简单立方;B—体心立方; F—面心立方;T—简单正方; U—体心正方;R—简单菱方; H— 简 单 六 方 ; O 简 单 斜 方 ; Q—底心斜方;S—面心斜方; M—简单单斜;N—底心单斜; Z—简单三斜。
矿物学名称: «—数据高度可靠 i—已指标化和估计强度,但可 靠性不如« O—可靠性较差 C—衍射数据来自理论计算。
实验条件:Rad.—辐射种类(如Cu Kα);λ—波长;Filter—滤波片;Dia.—相机直径;Cut off—相机或测角仪能测得 的最大面间距;Coll—光阑尺寸;I/I1—衍射强度的测量方法;d corr. abs.?—所测值是否经过吸收校正; Ref—参考资料
晶体学数据:Sys.—晶系;S.G—空间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶胞中原 子或分子的数目; Ref—参考资料
的体积为Vj,强度因子为Kj(C为物理常量),由该相产生的衍射线强
度为:
Ij
=
CK
j
Vj 2µ
待测相的含量通常用体积分数Vj或重量分数Wj表示。若多相试样的密度为ρ, 第j相试样的密度为ρj,Vj与Wj的关系为:
Vj
=Wj
ρ ρj
多相试样的线吸收系数μ可用各组成相的质量吸收系数(μm)j表示:
n
∑ µ = ρµ m = ρ W j ( µ m ) j =1
I s K s ρ j Ws
令:K
j s
=
Kj Ks

ρs ρj
Ij Is
=
K
j s

W
' j
Ws
Kjs仅与j相及S相的密度、X射线波长(λ)及选测衍射峰的衍射角 (2θ)有关,与相的含量无关。在两相衍射线强度Ij和IS所对应的衍射角 2θj和2θS一定的情况下Kjs为常数。
测定出 Kjs 后,就可求出W’j后,再利用关系式W’j=Wj/(1-Ws) 即可 求出Wj。
方法概要:在被测的粉末试样中加入一种含量恒定的标准物质,混合均匀后制成 复合试样,测量复合试样中待测相的某一衍射峰强度与内标物质某一衍射峰强 度,根据两个强度之比来计算待测相的含量。 公式推导:设被测试样由n个相组成,待测相为A,在试样中掺入内标物质S,混 合均匀后制成复合试样。 令: WA ---A在被测试样中的重量百分数;
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