公司进料检验指导书
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4.1.4、缺陷分类
4.2、插件电阻检验规范
4.2.1、检验仪器和设备：数字电桥、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。
4.2.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.2.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.2.4、缺陷分类
4.3贴片电阻检验规范
4.3.1、检验仪器和设备：数字电桥、恒温烙铁、数字卡尺。
4.3.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.3.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.3.4、缺陷分类
4.4、压敏电阻检验规范
4.4.1、检验仪器和设备：万用表、晶体管特性仪、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。
4.4.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.4.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.4.4、缺陷分类
4.5、热敏电阻检验规范
4.5.1、检验仪器和设备：万用表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。
4.5.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.5.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.5.4、缺陷分类
4.6、电位器检验规范
4.6.1、检验仪器和设备：万用表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。
4.6.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.6.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.6.4、缺陷分类
4.7、插件瓷片/
独石电容检验规范
4.7.1、检验仪器和设备：数字电桥、电容表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。 4.7.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W 荧光灯下。 4.7.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.7.4、缺陷分类
4.8、插件电解电容检验规范
4.8.1、检验仪器和设备：数字电桥、电容表、锡炉、恒温烙铁、数字卡尺。
4.8.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.8.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.8.4、缺陷分类
4.9、贴片陶瓷电容检验规范
4.9.1、检验仪器和设备：数字电桥、电容表、恒温烙铁、数字卡尺。
4.9.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.9.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.9.4、缺陷分类
4.10、插件晶体三极管检验规范
4.10.1、检验仪器和设备：晶体管特性测试仪、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。
4.10.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.10.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.10.4、缺陷分类
4.11、贴片晶体三极管检验规范
4.11.1、检验仪器和设备：晶体管特性测试仪、恒温烙铁、数字卡尺。
4.11.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.11.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.11.4、缺陷分类
4.12、插件一般晶体二极管检验规范
4.12.1、检验仪器和设备：晶体管特性测试仪、数字万用表、恒温烙铁、锡炉、
数字卡尺。
4.12.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.12.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.12.4、缺陷分类
4.13、贴片一般晶体二极管检验规范
4.13.1、检验仪器和设备：晶体管特性测试仪、数字万用表、恒温烙铁、锡炉、
数字卡尺。
4.13.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.13.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.13.4、缺陷分类
4.14、插件稳压二极管检验规范
4.14.1、检验仪器和设备：数字万用表、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。
4.14.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.14.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.14.4、缺陷分类
4.15、贴片稳压二极管检验规范
4.1
5.1、检验仪器和设备：数字万用表、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。
4.1
5.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.1
5.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.1
5.4、缺陷分类
4.16、插件发光二极管检验规范
4.16.1、检验仪器和设备：晶体管特性仪、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。
4.16.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.16.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.16.4、缺陷分类
4.17、贴片发光二极管检验规范
4.17.1、检验仪器和设备：晶体管特性仪、恒温烙铁、数字卡尺。
4.17.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.17.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.17.4、缺陷分类
4.18、插件电感检验规范
4.18.1、检验仪器和设备：数字电桥、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。
4.18.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.18.3、检验项目、检验方法和技术要求
4.18.4、缺陷分类
4.19、贴片电感检验规范
4.19.1、检验仪器和设备：数字电桥、恒温烙铁、锡炉、数字卡尺。
4.19.2、环境条件：常温（25℃±5℃），40W荧光灯下。
4.19.3、检验项目、检验方法和技术要求