破坏性试验分析

破坏性试验的虚拟复现

作者：焦晓娟; 任天荣; 林楠; 张励; 杨积东

作者单位：上海航天技术研究院第八设计部; 上海航天技术研究院第八设计部上海

文献来源：系统仿真学报发表时间：2006-12-30来源库：期刊

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摘要：采用动力学仿真软件ADAMS虚拟复现了某破坏性试验的全过程,得到了相关难于测量的关键设计参数数值,采用有限元分析软件ANSYS对零部件进行破坏原因复核,分析结果与试验现象、断裂力学理论分析结论一致,进而确认了破坏性试验虚拟复现的正确性、有效性。

高储能密度陶瓷电容器电气可靠性研究

作者：朱志芳,林福昌,戴玲,赵正涛日期：2004 会议名称：中国电机工程学会高电压专业委员会2004年学术会议会议录：中国电机工程学会高电压专业委员会2004年学术会议论文集(第二卷)

关键词：可靠性破坏性检测

破坏性物理分析(DPA)技术的应用

作者：牛付林日期：2004 会议名称：中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会会议录：中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会论文集

关键词：破坏性物理分析可靠性

电子元件可靠性研究的新进展

作者：王锡清日期：1998 会议名称：中国电子学会第十届电子元件学术年会会议录：中国电子学会第十届电子元件学术年会论文集

关键词：可靠性增长破坏性物理分析

DPA是提高电子元器件使用可靠性的重要手段

作者：张素娟,田立平,周永宁,郑鹏洲日期：2001 会议名称：第九届全国可靠性物理学术讨论会会议录：第九届全国可靠性物理学术讨论会论文集

关键词：可靠性破坏性物理分析

DPA技术在军用瓷介电容器生产中的应用

作者：蔡明通刊名：电子产品可靠性与环境试验出版日期：2009 期号：第4期

破坏性物理分析(DPA)在评价元器件质量水平方面的作用

作者：牛付林，宋芳芳刊名：电子质量出版日期：2004 期号：第4期

机载设备电子元器件应用DPA方法浅析

作者：孙锦阳刊名：军用标准化出版日期：2002 期号：第5期

航天用电子元器件开展DPA工作的情况与效果

作者：梁瑞海刊名：质量与可靠性出版日期：2001 期号：第5期

破坏性物理分析(DPA)在高可靠半导体器件质量验证中的作用

作者：张延伟，于庆奎，何成山刊名：航天器环境工程出版日期：1999 期号：第2期

航天产品电子元器件的质量控制

作者：胡晓军刊名：电子质量出版日期：2009 期号：第6期

关键词：航天产品电子元器件二次筛选失效分析DPA元器件质量数据库

航空塑封器件的使用控制和DPA试验方法研究

作者：李海岸学位授予单位：北京航空航天大学学位名称：硕士学位年度：2007

破坏性物理分析(DPA)——提高电子装备可靠性的重要手段

作者：朱明让,朱军辉,余振醒日期：2001 会议名称：中国航空学会2001年学术年会会议录：中国航空学会2001年学术年会论文集

破坏性物理分析(DPA)方法在识别假冒、翻新集成电路中的应用

肖诗满; 李少平; 雷志锋2008 （页数: 3p）中文会议论文

中国电子学会第十四届青年学术年会; 2008; 广州;

【正题名】:破坏性物理分析(DPA)技术的应用

【个人作者姓名】:牛付林

【作者单位】:信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及应用技术国家级重点实验室

【会议录\文集名】:中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

【文献其他题名】:中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会论文集

【出版年】:2004

【页码】:p.422-425

【总页数】:4p

【会议年】:2004

【会议召开地点】:重庆

【会议届次】:12

【馆藏号】:H048720

【关键词】:破坏性物理分析; 电子元器件; 质量缺陷; 可靠性

【分类号】:TN03

【正文语种】:CHI

【文摘】:破坏性物理分析(DPA)技术是保证电子元器件质量的关键技术,在电子元器件的生产过程中以及上机前,在保证电子元器件质量一致性、可靠性等方面有着广泛且重要的应用优势.但目前国内没有充分应用此技术,严重的限制了国内电子元器件质量的提高,尤其是民用电子元器件普遍存在或多或少的隐蔽的质量缺陷.另外DPA技术向非气密封器件的扩展以适应占电子元器件95%以上的塑封器件的要求也急需形

成相应标准相结合.

【正题名】:必须认真研究和处理DPA不合格的母体

【个人作者姓名】:赵和义; 郑鹏洲

【作者单位】:总装备部合同办(北京); 北京航空航天大学工程系统工程系(北京)

【会议录\文集名】:中国航空学会可靠性专业委员会学术年会

【文献其他题名】:航空可靠性工程进展暨可靠性工程专业委员会第9届学术年会论文集【出版年】:2003

【页码】:p.385-388

【总页数】:4p

【会议年】:2003

【会议召开地点】:井冈山

【会议届次】:9

【馆藏号】:H047907

【关键词】:破坏性物理分析; 母体; 航空系统工程; 电子元件; 可靠性

【分类号】:V243; V374

【正文语种】:CHI

【文摘】:样品的DPA结论为不合格时,样品母体能否使用?正确解决这个问题能使DPA工作为系统可靠性提高发挥更大作用的同时能取得更好的效费比.为回答好这个问题,必须进行认真研究和分析,必要时还要辅助以实验.因此必然对DPA工作者提出更高的技术要求和为用户服务的责任心.

【正题名】: 开展电子、电磁和电气元器件的DPA研究

【个人作者姓名】: 邓永孝

【作者单位】:航天工业总公司771所

【会议录\文集名】: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

【出版年】: 1999

【页码】: P.37-41

【馆藏号】: H044776

【关键词】: 半导体器件; 电子器件、电磁器件; 电气元器件

【分类号】: O472

【正文语种】: CHI

【文摘语种】: CHI

【文摘】:该文在开展半导体器件DPA试验的基础上，介绍了将DPA扩大至电子、电磁和电气元器件领域的研究重点和有关技术途径，以及相应的试验内容。

【正题名】: 破坏性物理分析(DPA)--提高电子装备可套性的重要手段

【个人作者姓名】: 朱明让; 朱军辉; 余振醒

【作者单位】:中国航天科技集团; 中国航天科技集团; 中国航天科技集团

【会议录\文集名】: 全国第三届航空航天装备失效分析会议

【出版年】: 2000

【页码】: P.5-12

【馆藏号】: H044897