晶闸管(可控硅)两端并联电阻和电容的作用

合集下载

两个晶闸管反向并联的作用

两个晶闸管反向并联的作用

两个晶闸管反向并联的作用晶闸管是一种特殊的半导体器件,具有可控的导通能力。

而晶闸管反向并联是将两个晶闸管反向连接并联在一起,以实现特定的电路功能。

本文将从晶闸管的基本原理、反向并联的作用以及应用领域等方面进行详细介绍。

我们来了解一下晶闸管的基本原理。

晶闸管是由四层PNPN结构构成的,其中,PN结构为两个P型半导体和两个N型半导体的交替排列。

晶闸管的导通能力是由控制端控制的,当控制端施加一个正脉冲信号时,晶闸管将开始导通,而当控制端施加一个负脉冲信号时,晶闸管将停止导通。

晶闸管的导通能力使其在电力电子领域得到广泛应用。

接下来,我们来介绍晶闸管反向并联的作用。

晶闸管反向并联主要有以下几个作用:1. 提高电压承受能力:晶闸管单独使用时,其电压承受能力有限。

而通过将两个晶闸管反向并联,可以有效提高电路的电压承受能力。

因为晶闸管反向并联后,两个晶闸管的电压承受能力相加,从而使整个电路能够承受更高的电压。

2. 提高电流承受能力:晶闸管单独使用时,其电流承受能力也有限。

而通过将两个晶闸管反向并联,可以有效提高电路的电流承受能力。

晶闸管反向并联后,两个晶闸管的电流承受能力相加,从而使整个电路能够承受更大的电流。

3. 提高可靠性:晶闸管反向并联可以提高整个电路的可靠性。

当一个晶闸管出现故障时,另一个晶闸管仍然可以正常工作,从而保证整个电路的正常运行。

这种冗余设计可以提高电路的可靠性,减少故障发生的可能性。

4. 增加电路的灵活性:晶闸管反向并联可以增加电路的灵活性。

通过对两个晶闸管的控制信号进行合理设计,可以实现电路的不同工作模式,满足不同的应用需求。

我们来介绍晶闸管反向并联的应用领域。

晶闸管反向并联广泛应用于高压、大电流的电力电子领域。

例如,交流电调压、交流电变频、直流电调速等领域都需要使用到晶闸管反向并联技术。

此外,晶闸管反向并联还可以应用于电力系统中的开关电源、变流器、电焊机等设备中,以实现对电压和电流的精确控制。

可控硅并联阻容吸收电路的选型与计算(修正)

可控硅并联阻容吸收电路的选型与计算(修正)

可控硅并联阻容吸收电路的选型与计算为什么要在晶闸管两端并联阻容网络一、在实际晶闸管电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管可以看作是由三个PN结组成。

在晶闸管处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管安全运行,常在晶闸管两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管。

同时,避免电容器通过晶闸管放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管。

由于晶闸管过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择电容的选择C=(2.5-5)×10的负8次方×IfIf=0.367IdId-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF选用2.5mF,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)/If=2.14-8.56选择10欧PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)2Pfv=2u(1.5-2.0)u=三相电压的有效值阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

晶闸管可控硅两端并联电阻和电容的作用

晶闸管可控硅两端并联电阻和电容的作用

晶闸管可控硅两端并联电阻和电容的作用
一、晶闸管
晶闸管(Thyristor)是一种三极电子开关,又称电子开关、可控硅(SCR)或可控整流器(ACR),它是由四种半导体材料:N型、P型硅片(半晶体)以及PN结夹挟层所组成。

在正常的工作电压下,晶闸管处于
关断状态,只有当其贴入一个适当的控制信号(比如电流或电压)后,晶
闸管才能变成导通状态,从而使回路导通。

二、可控硅
可控硅一般指多个PN结构的晶体管组成,以实现可控电压和可控电
流的功能。

它的特点是功耗低,速度快,耐压大。

目前常用的可控硅有双
结晶闸管、可控整流管、可控桥式整流管、可控双极管、可控多结晶闸管、可控晶振等。

它们均具有高耐压、高热稳定性、高效率、低功耗、高动态
响应速度等优点。

1、电阻:可控硅的两端连接一个并联电阻,是为了限定电流,若不
设置,当电流过大时,电压会升高,电流会变大,从而可能造成晶闸管烧毁;
2、电容:电容主要是用来补偿可控硅负载电流的波形,把负载电流
变成稳定的直流电流,并且电容能够改善其瞬态响应特性。

晶闸管可控硅阻容吸收元件的选择

晶闸管可控硅阻容吸收元件的选择

晶闸管可控硅阻容吸收元件的选择TPMK standardization office【 TPMK5AB- TPMK08- TPMK2C- TPMK18】一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN 结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

在交流调压电路中双向可控硅(晶闸管)的使用注意事项

在交流调压电路中双向可控硅(晶闸管)的使用注意事项

在交流调压电路中双向可控硅(晶闸管)的使用注意事项目前交流调压多采用双向可控硅,它具有体积小、重量轻、效率高和使用方便等优点,对提高生产效率和降低成本等都有显著效果,但它也具有过载和抗干扰能力差,且在控制大电感负载时会干扰电网和自干扰等缺点,下面我们来谈谈可控硅在其使用中如何避免上述问题。

1灵敏度双向可控硅是一个三端元件,但我们不再称其两极为阴阳极,而是称作T1和T2极,G为控制极,其控制极上所加电压无论为正向触发脉冲或负向触发脉冲均可使控制极导通,在图1所示的四种条件下双向可控硅均可被触发导通,但是触发灵敏度互不相同,即保证双向可控硅能进入导通状态的最小门极电流IGT是有区别的,其中(a)触发灵敏度最高,(b)触发灵敏度最低,为了保证触发同时又要尽量限制门极电流,应选择(c)或(d)的触发方式。

2可控硅过载的保护可控硅元件优点很多,但是它过载能力差,短时间的过流,过压都会造成元件损坏,因此为保证元件正常工作,需有条件(1)外加电压下允许超过正向转折电压,否则控制极将不起作用;(2)可控硅的通态平均电流从安全角度考虑一般按最大电流的~2倍来取;(3)为保证控制极可靠触发,加到控制极的触发电流一般取大于其额值,除此以外,还必须采取保护措施,一般对过流的保护措施是在电路中串入快速熔断器,其额定电流取可控硅电流平均值的倍左右,其接入的位置可在交流侧或直流侧,当在交流侧时额定电流取大些,一般多采用前者,过电压保护常发生在存在电感的电路上,或交流侧出现干扰的浪涌电压或交流侧的暂态过程产生的过压。

由于,过电压的尖峰高,作用时间短,常采用电阻和电容吸收电路加以抑制。

3控制大电感负载时的干扰电网和自干扰的避免可控硅元件控制大电感负载时会有干扰电网和自干扰的现象,其原因是当可控硅元件控制一个连接电感性负载的电路断开或闭合时,其线圈中的电流通路被切断,其变化率极大,因此在电感上产生一个高电压,这个电压通过电源的内阻加在开关触点的两端,感应电压一次次放电直到感应电压低于放电所必须电压为止,在这一过程中将产生极大的脉冲束。

晶闸管可控硅阻容吸收元件的选择精编WORD版

晶闸管可控硅阻容吸收元件的选择精编WORD版

晶闸管可控硅阻容吸收元件的选择精编W O R D版IBM system office room 【A0816H-A0912AAAHH-GX8Q8-GNTHHJ8】一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

RC计算

RC计算

可控硅两端并联阻容元件的选择2009-09-09 17:37一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlvdlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C 串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择电容的选择C=(2.5-5)×10的负8次方×IfIf=0.367IdId-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF选用2.5mF,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)If=2.14-8.56选择10欧PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)2Pfv=2u(1.5-2.0)u=三相电压的有效值阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

阻容保护中电阻电容的选取

阻容保护中电阻电容的选取

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择电容的选择:C=(2.5-5)×10的负8次方×IfIf=0.367IdId-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF选用2.5mF,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)/If=2.14-8.56选择10欧PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)/2Pfv=2u(1.5-2.0)u=三相电压的有效值阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

可控硅gk之间并联电阻的作用

可控硅gk之间并联电阻的作用

可控硅gk之间并联电阻的作用
可控硅gk之间并联电阻的作用主要是降低电路中的电压波动和
电流峰值,提高电路的稳定性和可靠性。

当可控硅gk触发导通时,
电路中会出现瞬间的电流峰值,如果电路中没有并联电阻进行限流,则会对电路中的器件和设备产生损害。

并联电阻可以起到限流的作用,将电流峰值限制在安全范围内,保护电路中的器件和设备不受损坏。

此外,并联电阻还可以降低电路中的电压波动,使电路中的电压更加稳定。

因此,可控硅gk之间并联电阻的作用非常重要,可以保护电
路中的器件和设备,提高电路的稳定性和可靠性。

- 1 -。

晶闸管 阻容吸收元件的选择

晶闸管 阻容吸收元件的选择

一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C 串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择电容的选择:C=×10的负8次方×IfIf=Id-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=×10的负8次方×500=选用,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)/If=选择10欧PR=×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)/2Pfv=2u u=三相电压的有效值If----正向电流PR---- 电阻功率PfV--- 额定功率fc--- 不是符号!是f*c,就是频率*容值!阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

晶闸管(可控硅) 阻容吸收元件的选择

晶闸管(可控硅) 阻容吸收元件的选择

晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C 串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择电容的选择:C=(2.5-5)×10的负8次方×IfIf=0.367IdId-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF选用2.5mF,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)/If=2.14-8.56选择10欧PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)/2Pfv=2u(1.5-2.0)u=三相电压的有效值If----正向电流PR---- 电阻功率PfV--- 额定功率fc--- 不是符号!是f*c,就是频率*容值!阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

晶闸管可控硅两端并联电阻和电容的作用精编WORD版

晶闸管可控硅两端并联电阻和电容的作用精编WORD版

晶闸管可控硅两端并联电阻和电容的作用精编W O R D版IBM system office room 【A0816H-A0912AAAHH-GX8Q8-GNTHHJ8】晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC 串联网络,该网络常称为RC 阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN 结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容 C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅) 两端并联RC 阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C 串联电阻R 可起阻尼作用,它可以防止R、L、C 电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN 结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择电容的选择:C=(2.5-5)×10的负8次方×IfIf=0.367IdId-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF选用2.5mF,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)/If=2.14-8.56选择10欧PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)/2Pfv=2u(1.5-2.0)u=三相电压的有效值阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

晶闸管阻容吸收回路

晶闸管阻容吸收回路

晶闸管阻容吸收回路一、晶闸管两端并联RC阻容吸收电路的作用在实际晶闸管电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

晶闸管有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管可以看作是由三个PN结组成。

晶闸管处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管安全运行,常在晶闸管两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管。

同时,避免电容器通过晶闸管放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管。

由于晶闸管过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、晶闸管阻容吸收元件的选择. 例:晶闸管是200A/1400V(KP200A)的,阻容电路该如何选择啊?结果:电阻:10欧姆,电容0.5微法电阻功率:P=F*C*Um*10^(-6)电容的选择C=(2.5-5)×10的负8次方×IfIf=0.367IdId-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF选用2.5mF,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)If=2.14-8.56选择10欧PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)2Pfv=2u(1.5-2.0)u=三相电压的有效值阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

RC吸收电路的参数选取

RC吸收电路的参数选取
晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择2009-06-24 23:41一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。 我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN结组成。 在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。 为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。 由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。 二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择 电容的选择: C=(2.5-5)×10的负8次方×If If=0.367Id Id-直流电流值 如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅) 可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF 选用2.5mF,1kv 的电容器 电阻的选择: R=((2-4) ×535)/If=2.14-8.56 选择10欧 PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)/2 Pfv=2u(1.5-2.0) u=三相电压的有效值阻容吸收回路在实际应通常取2毫秒左右,R=220欧姆/1W,C=0.01微法/400~630V/。 大功率负载通常取10毫秒,R=10欧姆/10W,C=1微法/630~1000V。R的选取:小功率选金属膜或RX21线绕或水泥电阻;大功率选RX21线绕或水泥电阻。 C的选取:CBB系列相应耐压的无极性电容器。 看保护对象来区分:接触器线圈的阻尼吸收和小于10A电流的可控硅的阻尼吸收列入小功率范畴;接触器触点和大于10A以上的可控硅的阻尼吸收列入大功率范畴。

双向可控硅两端并联y电容

双向可控硅两端并联y电容

双向可控硅两端并联y电容随着科技的发展,双向可控硅在电力电子领域的应用越来越广泛。

然而,其在实际使用中可能会面临电气安全问题。

为了提高设备的安全性、稳定性和效率,我们提出了一种新型的电气连接方案,即在双向可控硅两端并联Y电容。

本文将详细介绍这种方案的原理、优点以及实际应用效果。

一、双向可控硅及其常见问题双向可控硅是一种重要的电力电子器件,具有开关速度快、功耗低等优点,广泛应用于各种电源和电机控制电路中。

但是,由于其工作特性,在使用过程中可能会出现电晕、电磁干扰等问题,进而影响设备的稳定性及安全性。

因此,对于双向可控硅的设计和应用,合理解决这些问题至关重要。

二、Y电容的作用与优势Y电容是保护元件的重要组成部分,主要作用在于抑制电磁干扰(EMI)。

通过并联Y电容,可以有效地吸收和传导电磁能量,从而降低设备内部的电磁噪声,提高系统的稳定性。

此外,Y电容还可以减轻电晕现象,避免因电晕放电引起的电气事故。

三、双向可控硅两端并联Y电容的实现与应用基于以上原理,我们在双向可控硅的两端并联了Y电容。

这一设计不仅能有效吸收和传导电磁能量,还能显著减少电晕现象的发生。

具体来说,该方案的优势包括:1. 提高了设备的电气安全性能;2. 降低了电磁干扰的影响;3. 增强了系统的稳定性;4. 便于维护和管理。

四、结论综上所述,双向可控硅两端并联Y电容是一种有效的解决方案,能够提高设备的电气安全性能、稳定性及效率。

通过实现这一方案,我们可以更好地应对双向可控硅可能面临的电气安全问题,为使用者提供更可靠、gao效的产品和服务。

同时,这也为其他类似产品的设计和应用提供了有益参考。

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容及阻容元件的选择一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC串联网络,该网络常称为RC阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN 结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅)两端并联RC阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C串联电阻R可起阻尼作用,它可以防止R、L、C电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择电容的选择:C=(2.5-5)×10的负8次方×IfIf=0.367IdId-直流电流值如果整流侧采用500A的晶闸管(可控硅)可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF选用2.5mF,1kv 的电容器电阻的选择:R=((2-4) ×535)/If=2.14-8.56选择10欧PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)/2Pfv=2u(1.5-2.0)u=三相电压的有效值阻容吸收回路在实际应用中,RC的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容
一、晶闸管(可控硅)两端为什么并联电阻和电容在实际晶闸管(可控硅)电路中,常在其两端并联RC 串联网络,该网络常称为RC 阻容吸收电路。

我们知道,晶闸管(可控硅)有一个重要特性参数-断态电压临界上升率dlv/dlt。

它表明晶闸管(可控硅)在额定结温和门极断路条件下,使晶闸管(可控硅)从断态转入通态的最低电压上升率。

若电压上升率过大,超过了晶闸管(可控硅)的电压上升率的值,则会在无门极信号的情况下开通。

即使此时加于晶闸管(可控硅)的正向电压低于其阳极峰值电压,也可能发生这种情况。

因为晶闸管(可控硅)可以看作是由三个PN 结组成。

在晶闸管(可控硅)处于阻断状态下,因各层相距很近,其J2结结面相当于一个电容C0。

当晶闸管(可控硅)阳极电压变化时,便会有充电电流流过电容C0,并通过J3结,这个电流起了门极触发电流作用。

如果晶闸管(可控硅)在关断时,阳极电压上升速度太快,则C0的充电电流越大,就有可能造成门极在没有触发信号的情况下,晶闸管(可控硅)误导通现象,即常说的硬开通,这是不允许的。

因此,对加到晶闸管(可控硅)上的阳极电压上升率应有一定的限制。

为了限制电路电压上升率过大,确保晶闸管(可控硅)安全运行,常在晶闸管(可控硅) 两端并联RC 阻容吸收网络,利用电容两端电压不能突变的特性来限制电压上升率。

因为电路总是存在电感的(变压器漏感或负载电感),所以与电容C 串联电阻R 可起阻尼作用,它可以防止R、L、C 电路在过渡过程中,因振荡在电容器两端出现的过电压损坏晶闸管(可控硅)。

同时,避免电容器通过晶闸管(可控硅)放电电流过大,造成过电流而损坏晶闸管(可控硅)。

由于晶闸管(可控硅)过流过压能力很差,如果不采取可靠的保护措施是不能正常工作的。

RC 阻容吸收网络就是常用的保护方法之一。

二、整流晶闸管(可控硅)阻容吸收元件的选择
电容的选择:
C=(2.5-5)×10的负8次方×If
If=0.367Id
Id-直流电流值
如果整流侧采用500A 的晶闸管(可控硅)
可以计算C=(2.5-5)×10的负8次方×500=1.25-2.5mF
选用2.5mF,1kv 的电容器
电阻的选择:
R=((2-4) ×535)/If=2.14-8.56
选择10欧
PR=(1.5×(pfv×2πfc)的平方×10的负12次方×R)/2
Pfv=2u(1.5-2.0)
u=三相电压的有效值
阻容吸收回路在实际应用中,RC 的时间常数一般情况下取1~10毫秒。

小功率负载通常取2毫秒左右,R=220欧姆/1W,C=0.01微法/400~630V/。

大功率负载通常取10毫秒,R=10欧姆/10W,C=1微法/630~1000V。

R 的选取:小功率选金属膜或RX21线绕或水泥电阻;大功率选RX21线绕或水泥电阻。

C 的选取:CBB 系列相应耐压的无极性电容器。

看保护对象来区分:接触器线圈的阻尼吸收和小于
10A 电流的可控硅的阻尼吸收列入小功率范畴;接触器触点和大于10A 以上的可控硅的阻尼吸收列入大功率范畴。

(注:文档可能无法思考全面,请浏览后下载,供参考。

可复制、编制,期待你的好评与关注)。

相关文档
最新文档