千分尺的使用和校准
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测量前应将测量面及被测件擦试干净，等温2H （20℃±5） 千分尺的零位调整
千分尺两测量面与量块接触时,要使用测力装置,不 要转动微分筒,以测力装置的棘轮断续响3声读数 为准
原始记录表
客户名称： 仪器名称: 技术依据 校准地点 校准日期 校准用标准仪器 千分尺专用量块 平面平晶 平行平晶 测长仪 测力仪 外 测 观: 力： 正常 型号规格 5. 12~100 mm JJG21-2008 本中心实验室□ 客 户 现 场 □
千分尺的校准和技术要求
校准项目、方法及通用技术要求 一、外观和各部分相互作用:目力观察和手动试验 二、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：手感检查 必要时使用杠杆千分尺检查（ 要求≤0.01mm ）
千分尺的校准和技术要求
三、测力：用分度值不大于0.2N的专用测力计 测力应为（5～10）N
四、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离： 用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量（ ≤ 0.4mm ） 五、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离： 当测量下限调整正确后，读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量 要求：压线≤0.05mm 离线≤0.1mm
千分尺的校准和技术要求
十、数显千分尺的细分误差: 在任意位置上,沿测量 方向转动微分筒,每间隔0.04mm检查一次,共计12 次,分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差, 以其最大差值确定. 要求≤±2um 十一、校对用量杆（尺寸及变动量）: 外径: 在光学计或测长机上用4等量块以比较法 数显: 在光学计或测长机上用3等量块以比较法
千分尺的校准和技术要求
六、测量面的平面度:用平面平晶以技术光波干涉法 对于后续校准的可用刀口尺以光隙法 要求: 外径千分尺 ≤0.6um 壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um 数显外径千分尺 ≤0.3um 七、数显外径千分尺的示值重复性：在相同条件下 重复测量5次分别读数，以最大与最小读数差确定 要求： ≤1um
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千分尺的使用和校准
内容
1 2 3 4
千分尺的概述 千分尺的结构、工作原理和读数
千分尺的校准和技术要求
千分尺的正确使用和注意事项
千分尺----概述 特点：符合阿贝原理、精度高、使用方便 阿贝原理：被测量线应与测量线相重合或在其 延长线上 外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm, 移动量为25mm.
千分尺校准记录表
原始记录编号： 规格型号: 校 准 员: 环境温度: 分度值 编 号 ℃ 仪器编号: 审 核: % Mitutoyo 技 术 特 征
相对湿度: 生产厂家 证 书 号
两测量面平面度 N 检定部位(mm) 条纹数 平行度(μ m)
工作面的平行度
标准值（mm）
标准值偏差（μ m）
示值（mm）
有测力装置,保持恒定的测量力.
千分尺的分类和结构
千分尺的分类和结构
千分尺的分类和结构
千分尺的分类和结构
数显外径千分尺
固定测砧 微分丝杆 紧固螺钉 微分筒 测力装置
数字显示屏
隔热装置
功能按钮
千分尺的工作原理和读数方法
工作原理:运用螺旋副传动原理，借助测微螺杆与 螺母配合，将螺杆的回转运动变为直线运动，从 固定套管和微分筒上读出长度尺寸。 读数原理:微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准 线，纵刻线上下有50个分度，每个分度为0.5mm.微 分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周.微分螺杆移动0.5mm,微分筒旋转 一个分度时（1/50转）测微螺杆移动0.01mm.
千分尺的校准和技术要求
八、两测量面的平行度：测量上限至100mm用平行 平晶检查，或可用量块检查。采用量块时，其4块 尺寸差为1/4螺距，每个量块以其同一部位放入下 图所示的测量面间的4个位置上分别读数，以四组 差值中最大值来确定。
要求：见下表
千分尺的校准和技术要求
千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度
示值误差（μ m）
结论： 测量结果扩展不确定度: U=1.4μ m k=2
1、所校项目符合技术依据要求□ 2、按校准结果使用□
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尺寸:如图所示5点中最大偏差 变动量:如图所示5点中最大与最小尺寸之差
千分尺的校准和技术要求
千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量
校对量杆标称尺寸/mm 尺寸偏差/um（外径/数显） 变动量/um（外径/数显）
25,50 75 100 125 150 175 200 225,250
±2 ±3 ±3 ±4 ±4 ±5 ±5 ±6
5 / 3.0
200～225, 250～275, 300～325, 350～375, 400～425, 450～475,
225～250 275～300 325～350 375～400 425～450 475～500
±8 / ±4 ±9 / ±5 ±10 / ±6 ±11 / ±6 ±12 / ±7 ±13 / ±7
测量范围/mm 最大允许误差/um （外径/数显） 两测量面的平行度/um （外径/数显）
0～25, 25～50 50～75, 75～100
±4 / ±2 ±5 / ±3
2 / 1.5 3 / 2.0
100～125, 125～150
150～175, 175～200
±6 / ±3
±7 / ±4
4 / 2.5
千分尺的工作原理和读数方法
读数举例：
10
5
0
5
0
5.Байду номын сангаас44mm
8.465mm
千分尺的校准和技术要求
按现行有效版本JJG21-2008 主要校准设备 3、4等量块（专用量块） 平面平晶、平行平晶、刀口尺 专用测力仪 杠杆千分表、百分表, 塞尺，立式接触式干涉仪 或测长机
校准所需设备实物图示
1.25 1.5 2 2.5 2.5 2,5 3.5 3.5 1.5 2 2 2.5 2.5 3.5 3.5
1 1 1 1.5 1.5 1.5 1.5 1.5
275,300
325,350,375,400 425,450,475
±7
±9 ±11
4
4.5 5
3.5
4 5
2
2.5 3
千分尺的正确使用和注意事项
6 / 3.5 7 / 4.0 9 / 5.0
11 / 6.0
千分尺的校准和技术要求
九、示值误差: 外径（壁厚、板厚）用5等量块,数显用4等量块校 准.或用千分尺专用量块. 在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量. (A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00) A---测量下限值 示值误差要求上表
千分尺两测量面与量块接触时,要使用测力装置,不 要转动微分筒,以测力装置的棘轮断续响3声读数 为准
原始记录表
客户名称： 仪器名称: 技术依据 校准地点 校准日期 校准用标准仪器 千分尺专用量块 平面平晶 平行平晶 测长仪 测力仪 外 测 观: 力： 正常 型号规格 5. 12~100 mm JJG21-2008 本中心实验室□ 客 户 现 场 □
千分尺的校准和技术要求
校准项目、方法及通用技术要求 一、外观和各部分相互作用:目力观察和手动试验 二、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：手感检查 必要时使用杠杆千分尺检查（ 要求≤0.01mm ）
千分尺的校准和技术要求
三、测力：用分度值不大于0.2N的专用测力计 测力应为（5～10）N
四、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离： 用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量（ ≤ 0.4mm ） 五、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对距离： 当测量下限调整正确后，读取微分筒的零刻线与固定套管纵 向刻线右边缘的偏移量 要求：压线≤0.05mm 离线≤0.1mm
千分尺的校准和技术要求
十、数显千分尺的细分误差: 在任意位置上,沿测量 方向转动微分筒,每间隔0.04mm检查一次,共计12 次,分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差, 以其最大差值确定. 要求≤±2um 十一、校对用量杆（尺寸及变动量）: 外径: 在光学计或测长机上用4等量块以比较法 数显: 在光学计或测长机上用3等量块以比较法
千分尺的校准和技术要求
六、测量面的平面度:用平面平晶以技术光波干涉法 对于后续校准的可用刀口尺以光隙法 要求: 外径千分尺 ≤0.6um 壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um 数显外径千分尺 ≤0.3um 七、数显外径千分尺的示值重复性：在相同条件下 重复测量5次分别读数，以最大与最小读数差确定 要求： ≤1um
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千分尺的使用和校准
内容
1 2 3 4
千分尺的概述 千分尺的结构、工作原理和读数
千分尺的校准和技术要求
千分尺的正确使用和注意事项
千分尺----概述 特点：符合阿贝原理、精度高、使用方便 阿贝原理：被测量线应与测量线相重合或在其 延长线上 外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm, 移动量为25mm.
千分尺校准记录表
原始记录编号： 规格型号: 校 准 员: 环境温度: 分度值 编 号 ℃ 仪器编号: 审 核: % Mitutoyo 技 术 特 征
相对湿度: 生产厂家 证 书 号
两测量面平面度 N 检定部位(mm) 条纹数 平行度(μ m)
工作面的平行度
标准值（mm）
标准值偏差（μ m）
示值（mm）
有测力装置,保持恒定的测量力.
千分尺的分类和结构
千分尺的分类和结构
千分尺的分类和结构
千分尺的分类和结构
数显外径千分尺
固定测砧 微分丝杆 紧固螺钉 微分筒 测力装置
数字显示屏
隔热装置
功能按钮
千分尺的工作原理和读数方法
工作原理:运用螺旋副传动原理，借助测微螺杆与 螺母配合，将螺杆的回转运动变为直线运动，从 固定套管和微分筒上读出长度尺寸。 读数原理:微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准 线，纵刻线上下有50个分度，每个分度为0.5mm.微 分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm, 微分筒旋转一周.微分螺杆移动0.5mm,微分筒旋转 一个分度时（1/50转）测微螺杆移动0.01mm.
千分尺的校准和技术要求
八、两测量面的平行度：测量上限至100mm用平行 平晶检查，或可用量块检查。采用量块时，其4块 尺寸差为1/4螺距，每个量块以其同一部位放入下 图所示的测量面间的4个位置上分别读数，以四组 差值中最大值来确定。
要求：见下表
千分尺的校准和技术要求
千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度
示值误差（μ m）
结论： 测量结果扩展不确定度: U=1.4μ m k=2
1、所校项目符合技术依据要求□ 2、按校准结果使用□
通用量具知识讲解 LOGO
尺寸:如图所示5点中最大偏差 变动量:如图所示5点中最大与最小尺寸之差
千分尺的校准和技术要求
千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量
校对量杆标称尺寸/mm 尺寸偏差/um（外径/数显） 变动量/um（外径/数显）
25,50 75 100 125 150 175 200 225,250
±2 ±3 ±3 ±4 ±4 ±5 ±5 ±6
5 / 3.0
200～225, 250～275, 300～325, 350～375, 400～425, 450～475,
225～250 275～300 325～350 375～400 425～450 475～500
±8 / ±4 ±9 / ±5 ±10 / ±6 ±11 / ±6 ±12 / ±7 ±13 / ±7
测量范围/mm 最大允许误差/um （外径/数显） 两测量面的平行度/um （外径/数显）
0～25, 25～50 50～75, 75～100
±4 / ±2 ±5 / ±3
2 / 1.5 3 / 2.0
100～125, 125～150
150～175, 175～200
±6 / ±3
±7 / ±4
4 / 2.5
千分尺的工作原理和读数方法
读数举例：
10
5
0
5
0
5.Байду номын сангаас44mm
8.465mm
千分尺的校准和技术要求
按现行有效版本JJG21-2008 主要校准设备 3、4等量块（专用量块） 平面平晶、平行平晶、刀口尺 专用测力仪 杠杆千分表、百分表, 塞尺，立式接触式干涉仪 或测长机
校准所需设备实物图示
1.25 1.5 2 2.5 2.5 2,5 3.5 3.5 1.5 2 2 2.5 2.5 3.5 3.5
1 1 1 1.5 1.5 1.5 1.5 1.5
275,300
325,350,375,400 425,450,475
±7
±9 ±11
4
4.5 5
3.5
4 5
2
2.5 3
千分尺的正确使用和注意事项
6 / 3.5 7 / 4.0 9 / 5.0
11 / 6.0
千分尺的校准和技术要求
九、示值误差: 外径（壁厚、板厚）用5等量块,数显用4等量块校 准.或用千分尺专用量块. 在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量. (A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00) A---测量下限值 示值误差要求上表