超声波考试工艺题答案

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

工艺题1

对一在制高压容器机加工锻件造封头进行超声波检测,具体尺寸见工艺卡中图,锻件材料牌号:20MnMo;超声检测标准为:JB/-2005;锻件合格等级按Ⅱ级验收。

超声波检测工艺卡

1、探头型号:4.2.2条规定:单晶直探头公称频率应选用2MHz~5MHz,探头晶片一般为:φ14~φ25mm。

2、检测时机与表面状态见:4.2.4条规定:检测原则上应安排在热处理后,孔、台等结构机加工前进行,检测面的表面粗糙度Ra ≤μm。

3、检测方法见4.2.5.1规定:一般原则:锻件应进行纵波检测,对筒型和环形锻件还应增加横波检测,由于本题锻件不属于筒型和环形锻件,故仅作纵波检测。

4、检测面(检测方向)见4.2.5.2-a)b)图7之d)。

5、灵敏度调节:见P76~77-4.2.6

试块:若壁厚δ<45mm;用CSⅡ型试块,若δ≥45mm时则用CSⅠ型试块,本题锻件厚度为350mm>45mm,故可用CSⅠ型试块或用大平底调节灵敏度,但大平底调节灵敏度的前提是检测部位的厚度大于或等于3倍近场区长度且检测面与底面平行。

计算近场区:N=D2/4λ=252/4×=66.2mm,3N=198.6mm<350mm,故可用大平底调节灵敏度。

(1)求350/φ2大平底/平底孔分贝差:

△db=20logP350/Pφ2=20log2λX/πφ2=2××350/×22=(db)

(2)求600/φ2平底孔/350大平底分贝差:△db=20logP350/Pφ2+40log600/350=20log2λX/πφ2+

=2××350/×22+=(db)

工艺题2

有一块16MnR钢板规格为4200×2700×90mm,用于制作压力容器筒节,下料尺寸为:

4000×2700mm,要求进行纵波和横波超声波检测,检测标准为:JB/-2005,Ⅱ级合格。现有设备如下:

(1)仪器:CTS-22型

(2)探头:、、、、、;

×14K1、×20K1、×25K1、

×14K1、×20K1、×25K1;(3)试块:CBⅡ-1、CBⅡ-2、CBⅡ

-3、CBⅡ-4、CBⅡ-5、CBⅡ-6、CB Ⅰ

(4)耦合剂:水、化学浆糊、机油

请对下列工艺卡进行审核,发现错误的地方请予以纠正并把正确的结果写在相应的“订正”空格里。

超声波检测工艺卡

订正:

说明:采用液浸法检测时,应选择水层厚度和重合次数

订正依据:

纵波检测:

1)表面补偿:3.3.6灵敏度补偿条;

2)探头:见4.1.2.1表1第3行规定:>40~250mm,单晶直探头,,φ20mm~φ25mm。

3)试块:见表2钢板厚度>60~100mm,使用CBⅡ-3型试块,本题钢板厚度为90mm,故适用本条规定。

4)灵敏度调节与上条规定相同,CBⅡ-3型试块孔深为50mm。

5)扫查方式1、2见4.1.5.3条a)b)条规定,工艺卡内容与标准规定相符,故无须订正。

横波检测:见附录B

1)探头:见附录B之、条规定。

2)试块:见附录B之条规定。

3)槽深:见附录B之条规定,槽深为板厚的3%(本题板厚为90mm,故槽深为2.7mm)。

4)校验跨距::见附录B之之B4.2.1

5)扫查方式1:见附录B之规定。

6)因为钢板为压力容器的筒节制作用板材,故四周均需扫查。

工艺题3

某锻件如图所示,材质SA387Gr22C13(低合金钢),机加工后要求进行超声检测,执行标准:JB/-2005,验收标准:底波降低量Ⅰ级,其他缺陷Ⅱ级。请填写以下工艺卡:

超声波检测工艺卡

(1)扫查面:见图7之f),纵波检测方向1、2、3,横波检测方向为4、5(本

题工件为环形锻件,故需作横波检测,

见P75之4.2.5.1规定);

(2)探头:位置1、2使用探头参数见P73-4.2.2,其中位置1的壁厚为

65mm>45mm,故用单直探头,又考

虑到若使用探头,则3N=127mm,方

向1、2必须使用CSⅠ试块校验,而

用探头时,3N=62.3mm<65mm,则

既可用CSⅠ试块,又可用大平底调节

灵敏度,故采用;同理,位置2的壁

厚(515-298)/2=108.5mm>45mm,亦用探头,此时既可用CSⅠ试块,又

可用大平底调节灵敏度;位置3的壁

厚为(360-298)/2=31mm<45mm,故只能用双晶直探头5P14FG10Z,且

只能用CSⅡ试块;位置4、5所用探

头:见附录C之、、条规定。

(3)试块:如上所述,位置1、2既可用CSⅠ试块,又可用大平底调节灵敏

度;位置3只能用CSⅡ试块调节灵敏

度;位置4、5试块之规定;

(4)灵敏度调节说明:若使用大平底调节灵敏度,则需计算出位置1、2的分

贝差:

(a)求65mm/φ2大平底/平底孔分贝差:

△db=20logP65/Pφ2=20log2λX/πφ2=2××65/×22=28(db)

(b)求φ2大平底/平底孔分贝差:

△db=Pφ2=20log2λX/πφ2=2×××22=32(db)

位置3灵敏度调节见4.2.6.2条之规定;

位置4、5灵敏度调节见条之规定;

(5)扫查灵敏度:位置1、2、3见4.2.6.3

条之规定;位置4、5

相关文档
最新文档