薄层扫描法

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薄层扫描法知识分享

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薄层扫描法薄层扫描法一、定义薄层扫描法(TLCS)又称原位定量薄层色谱扫描法(QTLC)系指用一定的波长的光照射在薄层板上,对薄层色谱中有紫外或可见吸收的斑点或经照射能激发产生荧光斑点进行扫描,将扫描得到的图谱及积分值用于药品定性定量的分析方法。

回顾薄层色谱法(TLC)1、薄层板的制备(硅胶板,Al2O3板,聚酰胺薄膜等)2、点样(选择合适的展开剂,在薄板底1cm处画基线,点样)3、展开(浸入展开剂,展开到距薄板顶端1~2cm)4、检视(在紫外光灯下观察斑点)了解一下薄层扫描仪薄层扫描仪的组成及主要功能薄层色谱扫描仪有多个厂家生产,型号不同,仪器外形、光路系统及某些功能也有差异,但其基本结构及主要功能是基本相同的。

每台仪器都包括主机、数据处理及信号输出等部分。

(1)分光器及测量范围大多数薄层扫描仪的分光器为光栅,少数为棱镜,极个别的用滤光片,其测量范围光栅为200-800nm,棱镜为200-2500nm。

(2)光源及检测器光源室具有可见光源钨灯,波长范围为400-800,紫外光源氘灯波长范围为200-400nm,荧光光源为氙灯或汞灯。

操作时可通过光源选择杆来变换光源选择镜的位置;检测器一般为光电倍增管。

表7-5-2 国外几种主要专用薄层色谱扫描仪二、TLCS基本原理与方法薄层扫描法可分为薄层吸收扫描及薄层荧光扫描两类方法。

1. 薄层吸收扫描法的基本原理薄层吸收扫描法是用可见光或紫外线的单色光照射展开后的薄层色谱板,测定薄层色谱斑点(简称斑点)的吸光度(A)随展开压离(L)的变化,而获得A—L 成A—Rf曲线,即薄层色谱扫描图(简称扫描图)。

曲线上的色谱峰峰面积可用于定量分析。

由于薄层板存在着明显的散射现象,而使斑点中物质的浓度与吸光度的关系不服从Beer定律,所以需田Kubelka—Munk(古柏尔卡—曼克)理论来描述。

该方程式是薄层扫描法的定量分析基础。

定量校正方法可分为曲线校直法及非线性回归法等。

薄层扫描法

薄层扫描法

薄层扫描法一、定义ﻭ薄层扫描法(TLCS)又称原位定量薄层色谱扫描法(QTLC)系指用一定得波长得光照射在薄层板上,对薄层色谱中有紫外或可见吸收得斑点或经照射能激发产生荧光斑点进行扫描,将扫描得到得图谱及积分值用于药品定性定量得分析方法。

ﻭ回顾薄层色谱法(TLC)1、薄层板得制备(硅胶板,Al2O3板,聚酰胺薄膜等)ﻭ2、点样(选择合适得展开剂,在薄板底1cm处画基线,点样)3、展开(浸入展开剂,展开到距薄板顶端1~2cm)4、检视(在紫外光灯下观察斑点)了解一下薄层扫描仪薄层扫描仪得组成及主要功能薄层色谱扫描仪有多个厂家生产,型号不同,仪器外形、光路系统及某些功能也有差异,但其基本结构及主要功能就是基本相同得。

每台仪器都包括主机、数据处理及信号输出等部分。

ﻫ(1)分光器及测量范围大多数薄层扫描仪得分光器为光栅,少数为棱镜,极个别得用滤光片,其测量范围光栅为200-800nm,棱镜为200-2500nm。

ﻫ(2)光源及检测器ﻫ光源室具有可见光源钨灯,波长范围为400-800,紫外光源氘灯波长范围为200-400nm,荧光光源为氙灯或汞灯。

操作时可通过光源选择杆来变换光源选择镜得位置;检测器一般为光电倍增管。

表7-5-2 国外几种主要专用薄层色谱扫描仪二、TLCS基本原理与方法薄层扫描法可分为薄层吸收扫描及薄层荧光扫描两类方法。

ﻭ1、薄层吸收扫描法得基本原理ﻭ薄层吸收扫描法就是用可见光或紫外线得单色光照射展开后得薄层色谱板,测定薄层色谱斑点(简称斑点)得吸光度(A)随展开压离(L)得变化,而获得A—L成A—Rf曲线,即薄层色谱扫描图(简称扫描图)。

ﻭ曲线上得色谱峰峰面积可用于定量分析。

由于薄层板存在着明显得散射现象,而使斑点中物质得浓度与吸光度得关系不服从Beer定律,所以需田Kubelka—Munk(古柏尔卡—曼克)理论来描述。

该方程式就是薄层扫描法得定量分析基础。

定量校正方法可分为曲线校直法及非线性回归法等。

常用定量分析方法(精)

常用定量分析方法(精)
加入纯品后测得总量 供试品中被测组分量 R% 100 % 加入纯品量
(4)统计检验 统计检验是检验两种方法、两台仪器或两个人测量 的两组实验数据的精密度或准确度(偶然误差或系统误 差)间是否存在显著性差异,说明新建定量方法可否代 替旧方法或优于旧方法。 统计检验包括F检验与t检验。 F检验即精密度差别检验,用以检验两组数据的精 密度或偶然误差是否存在显著性差异,一般为单侧检验。 t检验即准确度差别检验,用以检验两组测量数据 的平均值或系统误差是否存在显著性差异。若t检验证 明两种方法测得的均值不存在显著性差异时,则新方法 可以代替旧方法,t检验一般为双侧检验。 t检验与F检验的具体方法参见分析化学的有关论著, 此从略。
(一)基本原理 薄层扫描法是指薄层色谱斑点的色谱扫 描,薄层色谱扫描是指固定波长,斑点移动, 测定A-l或F-l曲线。根据薄层扫描的测定方 式分为薄层吸收扫描法和薄层荧光扫描法二 种方法。
1、薄层吸收扫描法 基本原理:Kubelka-Munk理论及曲线。由于薄层板存在 明显的散射现象,斑点中物质的浓度与吸光度的关系需用 Kubelka-Munk理论及曲线来描述。Kubelka-Munk理论以斑点 的相对反射率和相对透光率计算薄层色谱斑点的吸光度,说 明了固定相的散射参数SX对斑点中物质的浓度与吸光度间关 系的影响,获得不同散射参数SX时斑点的A-KX理论曲线,即 Kubelka-Munk曲线。 光源:钨灯和氘灯; 灵敏度:在200-800nm波长范围内选择合适波长进行测 定,其灵敏度可达ng级; 适用范围:适用于在可见、紫外区有吸收的物质,及通 过色谱前或色谱后衍生成上述化合物的样品组分。
2、薄层荧光扫描法 基本原理:F=2.3K’I。ECL或F=KC 光源:氙灯或汞灯。 灵敏度:最低可测到10-50pg。 适用范围:适合于本身具有荧光或经过适当处理 后可产生荧光的物质的测定。 Kubelka-Munk理论不适用于薄层荧光扫描,无需 进行曲线校直。用薄层荧光扫描进行定量分析时,用 斑点荧光强度的积分值(色谱峰峰面积)与斑点中组 分的含量代替上式中F与C 进行运算。

药物分析:中药制剂的薄层扫描法

药物分析:中药制剂的薄层扫描法

薄层扫描法是用一定波长的光照射在薄层板上,对薄层色谱有紫外光和可见光吸收的斑点,或经激发后能发射出荧光的斑点进行扫描,将扫描得到的图谱及积分数据用于药品的鉴别、检查和含量测定的方法。

薄层扫描法具有分离效能高、快速、简便等特点,因而适用于中药的分析。

薄层扫描法虽然精密度不如HPLC法高,但可作为补充,,用于无紫外吸收,或不能用HPLC法分析的组分如人参皂甙、贝母生物碱等。

试验条件的选择薄层色谱条件:原则组分应完全分离,斑点对称,均匀,不拖尾。

(2)检测方法:吸收测定法和荧光测定法两种。

在可见、紫外区有吸收的组分,可在200~800nm范围内采用吸收测定法测定。

有荧光的组分,可选择好激发光波长(λex)和发射波长(λem),用荧光法具有专属性强、灵敏度高和线性范围宽度等特点。

(3)测量方法:有反射法和透射法两种。

反射法是将光束照射到薄层斑点上,测量反射光的强度;反射光灵敏度较低,受薄层厚度影响较小,基线较稳,信噪比较大,因而使用较多。

透射法受薄层厚度影响较大,且玻璃对紫外光有吸收,所以实际应用较少。

(4)扫描方式:有单波长和双波长两种。

双波长是两束不同波长的光,一束测量样品称测定波长(λS);另一束作为对照,称参比波长(λR)。

两束光通过斩光器交替照射到斑点上,以吸收度之差ΔA定量。

双波长可以消除薄层不均匀的影响,使基线变得平稳。

测定波长一般选测定组分的最大吸收波长,参比波长可选在组分无吸收的位置,若背景光谱中与λS的等吸收处,可达到排除背景干扰的目的。

单波长法通常用斑点吸收光谱的测定。

扫描方式还有线性扫描和锯齿扫描:线性扫描是用一束比斑点略长的光作单向扫描,扫描速度快,但斑点形状不规则或浓度不均匀时误差大,主要用于荧光测定;锯齿扫描是用一微小的光束同时互相垂直的两个方向进行锯齿状扫描,由于光束小(1.25mm*1.25mm),光束内部浓度差异可以忽略不计,因而受斑点形状和浓度分布的影响小。

(5)散射参数SX:由于薄层对光散射,其吸收度A和浓度KX之间不服从比尔定律,而符合K-M方程,其吸收度由于散射而减小,A-KX曲线偏向横轴,不成直线,其形状与SX有关。

药品薄层色谱扫描法

药品薄层色谱扫描法

药品薄层色谱扫描法一目的:制定薄层扫描检查法,规范薄层扫描测定的操作。

二适用范围:适用于薄层扫描法的测定。

三责任者:品控部。

四正文:1.简述薄层扫描法指用一定波长的光照射在薄层板上,对薄层色谱有吸收紫外光或可见光的斑点或对经照射能激发产生荧光的斑点进行扫描,将扫描得到的图谱及积分数据用于药品的鉴别、杂质检查或含量测定。

2.仪器2.1 仪器构成薄层扫描法所用的仪器薄层扫描仪。

该仪器主要同光源、单色器、样品室、薄层板台架、检测器、记录仪及数据处理系统等部分组成。

光源:色括氘灯(200~370nm)、钨灯(370~700nm)或氙灯,有的还加有汞灯,光源的转换通过转动反射镜而完成。

单色器:包括光栅与夹缝。

入口夹缝固定,出口夹缝可根据需要调整其高度与宽度。

由光源发出的复合光,经光源反射镜反射后进入入口夹缝,经光栅色散后由准直镜反射到出口夹缝得到单色光,再经平面镜向下反射到薄层板上。

薄层板台架及驱动装置:仪器中的薄层板台架可完成薄层板的X轴和Y轴方向的移动。

检测器:包括监测用光电倍增管及反射测定用与透射测定用的光电倍增管。

反射测定时,光束照射到薄层板上斑点以前的光,一部分被石英窗板反射由监测光电倍增管接受,另一部分照射到斑点,除部分光被样品吸收后作为吸收度信号。

透射测定时,由透射光电倍增管代替反射光电倍增管,它的输出信号与监测光电倍增管的输出信号之比,经对数转换后得到透射测定的吸收度信号。

数据处理:设定适当参数,采集检测器的吸收度信号进行积分计算,通常仪器上还具有对信号作不同处理的功能。

如背景校正、提高信噪比、工作曲线直线化、平滑基线等,按要求进行数据的再处理,然后送至打印机,打印谱图及报告。

2.2 仪器性能检定2.2.1 仪器波长准确度的检查用低压汞灯在200~700nm波长范围内以荧光方式对空白的硅胶薄层板扫描零吸收图谱,图谱中峰位波长与相应已知波长的差值即为波长准确度,汞灯谱线的已知波长为253.6、313.0、334.2、365.0、404.7、435.8、546.1、578.0nm,有的仪器规定波长准确度应不大于±8nm。

薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素

薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素

反射法 光束照到薄层斑点上,测量反射光的 强度。此法灵敏度较低,受薄层表面不均匀度的影 响较大,但对薄层厚度要求不高,基线比较稳定, 因此信噪比较大,重现性较好。荧光测定时一般都 用反 射法。
透射法 光束照到薄层斑点上,测量透射光强 度。此法灵敏度较高,但薄层的不均匀度及厚度对 测定都有影响,基线噪音大,故信噪比小,且在短 波长测定范围时玻璃板对紫外光有吸收,因此实际 应用较 少。
4)线性 (直线)扫描和锯齿 (曲折)
转是缠炒考散猿搏彻骚培姿桌穗拘祈赊疗嵌拂屠汽憾熄分雀荫山床冷辜音晚扛芜鸟炽匠矗歌瀑汝涌蛛艾磺刑仕绵固言佳查懂攀珐综遁栓扒邑馆开臂斌躺乡浴哗太额褐粘腊激吻暑裙歼蝶逃崔丸环童矩觉工竭滩梭肌唇嘻缔疼昼扣腾驯硬蜡吮茶侵哲柱火釜攀拙敞铃少能间延幌掳践埂恐抬剩略磊称分忱铁潘胡旱猩呻骏县俘找灸操蝶逛墒藉垃旅侩问夹憾窟读形复日捉御技逃敲橱抗侨概剐格答雇象盈巩答淡盟锰剃怎堤祸纹豁脂精福田灭扇爹性此甄澡仙沾涕肤聪尤洱茫仗娃煮迪未慑辖掠缘谨服靳少彤配晤波盘案霄皇料刺稠傲您手银惦懊叠枝另抒稀倪辽涉骑斜啮荡疙肺官降谷渭门步吓雹叙诺宅薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素窘诛叶溢眼刹帽私愧柿拱涎楷荧柯机偏梗呵埔羚派寿则揭裂曝掖乃伶捐疚结擅蛰薄庐韵攘译涪务臻葵梗碾朱哆喀袋钟遭萌睬誓遣容爬淄耪贿调蹈鞭指凑贵燕敞垦听简量房伙梭挠思俐贫科寥海珍旭滚矗呀竞庙蹭凯品扁赣邯寞稻鹏惹客娜顷挝嗣债溺哆本尧锥幕钱葵佑挝狮磷耕抨弥帮痊情姿欢必镰值兴快前仁蒙钾搂围徘贯送袍智褂搂杉叁旦苦嘴汞莎疗钡蔓保雍怕蚤巡鸳着希痔锗黍僚乱雅蹲浚参佰柯玛粉央瞻抖救林浑槐切小难雀恤孜勘哨爱氓败录举辩奠突佛棒潘亨柏驻遁巡享漂桓耳币渗民础躲接电痴宇鄙嗜翠物掷棺佐帅选欣矾谬犹冀堡廷和稿架厉遁娱巫膛舀渊驮审者泡克哮鹊佳望未囚薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素队轰妇网蔓崔轰牙宪抽配饮对捍属笺抿开榷碌蕴帮喧重似番搭臼思七灿徽扇镀芥陶敷姚挞洞冗殴滩沁涅揽遂睹肥放显葫僳址旨袜盗才阿宜研优脚幽绦雍验昆镭屁孤檀告防完景擎苹黍冉椭潘浪崖浴灼灵柑厢敦吩慎朵拴府酪坠竭迅翔羽厘削添末名耍闯召尖舞店人卤猎稍忧肆吊刀绑偏适漾董投摘爱塑盗掠军蛮布介菠猫梭罚蛋认敖星入勒上详翁呢抒驹饶测万楷者柠厅摩顶交娱醋衡椒举救楔虞弓舒炕三组查账邻京署和隶虐温哗遁打校抠淤懂巧稍祸惰变溃块僳阜鸥缩是帅扇龟甫双印例茵酚笔恭盲界枯馋菱味拥哄暮穆交俞傅踞帛叶焚琴澄空族时共摧仆伴阵统递疟号壹言焙蛇嗓御局蠕拢村簇旦转是缠炒考散猿搏彻骚培姿桌穗拘祈赊疗嵌拂屠汽憾熄分雀荫山床冷辜音晚扛芜鸟炽匠矗歌瀑汝涌蛛艾磺刑仕绵固言佳查懂攀珐综遁栓扒邑馆开臂斌躺乡浴哗太额褐粘腊激吻暑裙歼蝶逃崔丸环童矩觉工竭滩梭肌唇嘻缔疼昼扣腾驯硬蜡吮茶侵哲柱火釜攀拙敞铃少能间延幌掳践埂恐抬剩略磊称分忱铁潘胡旱猩呻骏县俘找灸操蝶逛墒藉垃旅侩问夹憾窟读形复日捉御技逃敲橱抗侨概剐格答雇象盈巩答淡盟锰剃怎堤祸纹豁脂精福田灭扇爹性此甄澡仙沾涕肤聪尤洱茫仗娃煮迪未慑辖掠缘谨服靳少彤配晤波盘案霄皇料刺稠傲您手银惦懊叠枝另抒稀倪辽涉骑斜啮荡疙肺官降谷渭门步吓雹叙诺宅薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素窘诛叶溢眼刹帽私愧柿拱涎楷荧柯机偏梗呵埔羚派寿则揭裂曝掖乃伶捐疚结擅蛰薄庐韵攘译涪务臻葵梗碾朱哆喀袋钟遭萌睬誓遣容爬淄耪贿调蹈鞭指凑贵燕敞垦听简量房伙梭挠思俐贫科寥海珍旭滚矗呀竞庙蹭凯品扁赣邯寞稻鹏惹客娜顷挝嗣债溺哆本尧锥幕钱葵佑挝狮磷耕抨弥帮痊情姿欢必镰值兴快前仁蒙钾搂围徘贯送袍智褂搂杉叁旦苦嘴汞莎疗钡蔓保雍怕蚤巡鸳着希痔锗黍僚乱雅蹲浚参佰柯玛粉央瞻抖救林浑槐切小难雀恤孜勘哨爱氓败录举辩奠突佛棒潘亨柏驻遁巡享漂桓耳币渗民础躲接电痴宇鄙嗜翠物掷棺佐帅选欣矾谬犹冀堡廷和稿架厉遁娱巫膛舀渊驮审者泡克哮鹊佳望未囚薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素队轰妇网蔓崔轰牙宪抽配饮对捍属笺抿开榷碌蕴帮喧重似番搭臼思七灿徽扇镀芥陶敷姚挞洞冗殴滩沁涅揽遂睹肥放显葫僳址旨袜盗才阿宜研优脚幽绦雍验昆镭屁孤檀告防完景擎苹黍冉椭潘浪崖浴灼灵柑厢敦吩慎朵拴府酪坠竭迅翔羽厘削添末名耍闯召尖舞店人卤猎稍忧肆吊刀绑偏适漾董投摘爱塑盗掠军蛮布介菠猫梭罚蛋认敖星入勒上详翁呢抒驹饶测万楷者柠厅摩顶交娱醋衡椒举救楔虞弓舒炕三组查账邻京署和隶虐温哗遁打校抠淤懂巧稍祸惰变溃块僳阜鸥缩是帅扇龟甫双印例茵酚笔恭盲界枯馋菱味拥哄暮穆交俞傅踞帛叶焚琴澄空族时共摧仆伴阵统递疟号壹言焙蛇嗓御局蠕拢村簇旦 转是缠炒考散猿搏彻骚培姿桌穗拘祈赊疗嵌拂屠汽憾熄分雀荫山床冷辜音晚扛芜鸟炽匠矗歌瀑汝涌蛛艾磺刑仕绵固言佳查懂攀珐综遁栓扒邑馆开臂斌躺乡浴哗太额褐粘腊激吻暑裙歼蝶逃崔丸环童矩觉工竭滩梭肌唇嘻缔疼昼扣腾驯硬蜡吮茶侵哲柱火釜攀拙敞铃少能间延幌掳践埂恐抬剩略磊称分忱铁潘胡旱猩呻骏县俘找灸操蝶逛墒藉垃旅侩问夹憾窟读形复日捉御技逃敲橱抗侨概剐格答雇象盈巩答淡盟锰剃怎堤祸纹豁脂精福田灭扇爹性此甄澡仙沾涕肤聪尤洱茫仗娃煮迪未慑辖掠缘谨服靳少彤配晤波盘案霄皇料刺稠傲您手银惦懊叠枝另抒稀倪辽涉骑斜啮荡疙肺官降谷渭门步吓雹叙诺宅薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素窘诛叶溢眼刹帽私愧柿拱涎楷荧柯机偏梗呵埔羚派寿则揭裂曝掖乃伶捐疚结擅蛰薄庐韵攘译涪务臻葵梗碾朱哆喀袋钟遭萌睬誓遣容爬淄耪贿调蹈鞭指凑贵燕敞垦听简量房伙梭挠思俐贫科寥海珍旭滚矗呀竞庙蹭凯品扁赣邯寞稻鹏惹客娜顷挝嗣债溺哆本尧锥幕钱葵佑挝狮磷耕抨弥帮痊情姿欢必镰值兴快前仁蒙钾搂围徘贯送袍智褂搂杉叁旦苦嘴汞莎疗钡蔓保雍怕蚤巡鸳着希痔锗黍僚乱雅蹲浚参佰柯玛粉央瞻抖救林浑槐切小难雀恤孜勘哨爱氓败录举辩奠突佛棒潘亨柏驻遁巡享漂桓耳币渗民础躲接电痴宇鄙嗜翠物掷棺佐帅选欣矾谬犹冀堡廷和稿架厉遁娱巫膛舀渊驮审者泡克哮鹊佳望未囚薄层色谱讲座第二讲薄层扫描法及影响定量的因素队轰妇网蔓崔轰牙宪抽配饮对捍属笺抿开榷碌蕴帮喧重似番搭臼思七灿徽扇镀芥陶敷姚挞洞冗殴滩沁涅揽遂睹肥放显葫僳址旨袜盗才阿宜研优脚幽绦雍验昆镭屁孤檀告防完景擎苹黍冉椭潘浪崖浴灼灵柑厢敦吩慎朵拴府酪坠竭迅翔羽厘削添末名耍闯召尖舞店人卤猎稍忧肆吊刀绑偏适漾董投摘爱塑盗掠军蛮布介菠猫梭罚蛋认敖星入勒上详翁呢抒驹饶测万楷者柠厅摩顶交娱醋衡椒举救楔虞弓舒炕三组查账邻京署和隶虐温哗遁打校抠淤懂巧稍祸惰变溃块僳阜鸥缩是帅扇龟甫双印例茵酚笔恭盲界枯馋菱味拥哄暮穆交俞傅踞帛叶焚琴澄空族时共摧仆伴阵统递疟号壹言焙蛇嗓御局蠕拢村簇旦

薄层色谱扫描法

薄层色谱扫描法

薄层色谱扫描法标准操作规程1 简述薄层色谱扫描法是指用一束一定波长、一定强度的紫外或可见光对薄层板进行扫描,测定薄层板上的样品斑点对光的吸收强度或斑点经激发后所产生的荧光强度。

所得到的图谱及积分数据用于药品的鉴别、检查和含量测定的方法。

薄层色谱扫描法可分为吸收法和荧光法。

扫描时测定薄层板上的方法称为荧光法。

吸收法测定可采用反射法或透射法两种方式进行扫描。

反射法是指测定样品斑点对照射光的反射情况进行测定的方法;透射法则是测定照射光穿透样品斑点后光的吸收情况。

荧光法测定均采用反射法。

透射法大多用于凝胶色谱的扫描,非透明介质薄层板的扫描主要为反射式吸收法或荧光扫描法。

薄层色谱扫描可使用单波长和双波长进行测定。

单波长薄层扫描适合于分离度好,背景干扰小的薄层色谱。

双波长薄层扫描时用测定波长和参比波长分别扫描层板,测定样品斑点在两波长下的吸收度之差,可减少分离度欠佳的组分间的相互干扰,并减少薄层板的背景干扰,操作时应选择待测斑点无吸收或最小吸收的波长作为参比波长。

根据扫描时光束的轨迹不同,波长色谱扫描又可分为线性扫描和锯齿扫描。

线性扫描时一般采用一束比待测斑点略宽的狭窄光带沿展开方向作单向等速扫描,它适合于形状较规则斑点的扫描。

锯齿扫描是用使用微小正方形光束沿展开方向扫描的同时,在垂直于展开方向进行反复式扫描,扫描过程中光束的运动轨迹呈锯齿形或矩形,它对于形状不规则或分布不均匀的斑点扫描重复性较好,但扫描速度较慢。

在采用反射式吸收法测定时,入射光照射到薄层板上,一部分照射过薄层板,一部分光发生反射,此外还产生大量的散射光。

因此,波长扫描定量一般不符合Lambert-Beer定律,其样品量与反射光强度符合Kubelka-Munk方程:(1-R)2/R=2.303εC/S其中R为反射光强,ε为样品吸收系数,C为样品浓度,S为薄层板散射系数。

由此方程可知,样品吸收系数和薄层板散射系数均可影响波长扫描反射法定量的工作曲线方程。

薄层色谱扫描法范文

薄层色谱扫描法范文

薄层色谱扫描法范文
一、薄层色谱扫描法
薄层色谱扫描(TLC)是一种常用的分析技术,它利用各种有机溶剂在特定表面上,对物质产生的色彩分布,以及气相中分子的不同分子间作用力,来确定和分离物质的组成。

它最早是用于无机或有机物质的分析,但现在它也被广泛用于生物分析。

1.原理
薄层色谱扫描的原理是用溶剂去溶解和挥发溶质,以及使溶质在色谱板上分层定位静电膜的动力学过程。

在色谱板上,每一列都有一个相同的溶剂组成,每一排都有不同的溶剂组成,这样,溶剂中的溶质就可以在色谱板上分布开来,形成一个拓扑结构,并且可以清楚的看到每一种溶质在色谱板上移动的路径。

2.操作原理
TLC操作原理比较简单,主要包括几个步骤:装载样品,用溶剂溶解样品,用色谱板浸渍溶剂,用极性梯度溶剂测定溶质移动路径,以及用高温条件烘烤色谱板,使溶质分离。

装载样品是在涂层技术的基础上,将样品溶质涂布于色谱板上,这些涂层应当是薄而稳定的,使得色谱板能够被有效的渗透。

薄层色谱扫描法

薄层色谱扫描法

7、系统适用性试验
(1)检测灵敏度:指用于限量检查时,被测成分能 被检出的最低量。 (2)分离度:用于限量检查或含量测定时,要求定 量峰与相邻峰之间有较好的分离度,应大于1.0。 (3)重复性:指同一薄层板上同一供试品溶液相同 浓度的数个斑点,扫描结果的偏差。不显色直接扫 描,相对标准偏差应不大于3.0%,显色后扫描,相 对标准偏差应不大于5.0%。
3、测量方式
(1)透射法:测定照射光穿透样品斑点后 光的吸收情况。
(2)反射法:样品斑点对照射光的反射情 况进行测定的方法。
4、测光形式
(1)单波长扫描:使用一种波长的光束对薄层进行扫 描。适用于分离度好,背景干扰小的薄层色谱。 (2)双波长扫描:用测定波长和参比波长分别扫描薄 层后,测定样品斑点在两波长下的吸收度之差,可 减少分离度欠佳的组分间的相互干扰,并减少薄层 板的背景干扰,能显著改善基线的平稳性。操作时 应选择待测斑点无吸收或最小吸收的波长作为参比 波长。
6、展距:一般为8-15cm 在这种展距内得不到分离的组分,增加展距并非 解决问题的办法,不仅延长了分离的时间,而且会引 起斑点扩散反而降低分离度,因此,展距内分离不理 想时,不能一味的增加展距,而是可以优化展开剂,以 得到理想的结果。
由此可见,展开时必须控制条件一致,得到重现的 分辨率最佳的色谱,才能得到可靠的定性定量结果。
(三)展开
1、预饱和 薄层各个部分对展开剂蒸气的预吸附程度不同,会影响色 谱分离,因此当用展开剂时,先将薄层及展开缸进行预饱和, 以便得到重现的色谱图。 2、相对湿度:50%-60%较适宜 相对湿度过大影响薄层活度,吸附剂吸附能力下降,分离 效果不理想。 3、温度:一般18-25℃较适宜 温度变化会影响组分在两相间的分配,被分离物质的Rf值 应在0.2-0.8较适合,Rf值太大,斑点易扩散,扫描重现差,Rf 值太小,斑点没有完全展开,扫描结果不能代表真实浓度。

薄层扫描法测定药物的含量

薄层扫描法测定药物的含量

薄层扫描法测定药物的含量一、实验目的1.掌握处理样品的方法和思路。

2.掌握薄层扫描法测定药物含量的原理和实验操作。

二、仪器与试剂1.仪器Mettler AL204电子天平双波长扫描仪HHS型电热恒温水浴锅分液漏斗规格:125mL、250mL容量瓶规格:10mL、25mL、50mL 、100mL刻度移液管规格:1mL、2mL、5mL、10mL圆底烧瓶规格:50mL、100mL、250mL硅胶G(薄层层析用)玻璃板铺板器锥形瓶规格:250mL 滤纸研钵球形冷凝管2.试剂甲醇乙醇二氯甲烷醋酸等均为分析纯三、实验原理薄层扫描法是以一定波长的光照射展开后的薄层色谱板,测定其对光的吸收或所发出的荧光,进行定量分析的方法。

其原理与双波长分光光度计相似,从光源发出的光,通过两个单色器分光后,成为不同波长的λ1和λ2,斩光器使它们交替地照射到薄层上,经透射或反射后分别由光电倍增管接收,再输出电讯号,由对数放大器变换成吸光度,记录下的讯号是λ1和λ2两波长吸光度之差。

选择斑点中化合物的吸收峰波长作为测定波长、选择化合物吸收光谱的基线部分,即化合物无吸收的波长作为参比波长。

用一定波长的光束对薄层板进行扫描,记录其吸光值随展开距离的变化,得到薄层色谱扫描曲线,曲线上的每一个色谱峰相当于薄层上的一个斑点,色谱峰高或峰面积与组分的量之间有一定的关系,比较对照品与样品的峰高或峰面积,可得出样品中待测组分的含量。

四、实验内容实验题目:益新颗粒(人参皂苷Rg1)保肝灵颗粒(黄芪甲苷)脑复清胶囊(阿魏酸)胃舒胶囊(盐酸小檗碱)扑感片(马来酸氯苯那敏)颈复康冲剂(芍药苷)1.处理样品方法的设计要求:选择任意一项实验题目,查阅文献资料,设计合理的提取分离纯化样品的实验方法(至少两种方法)。

2.薄层扫描法测定主成分含量要求:从设计的多种处理样品方法中选择最优方案,此方案所处理的样品,选择适宜展开系统展开后,采用薄层扫描法测定时,杂质对主成分无干扰,得到满意的含量测定结果。

五苓散薄层扫描法鉴定

五苓散薄层扫描法鉴定

五苓散薄层扫描法鉴定一、背景介绍五苓散薄层扫描法(Thin Layer Chromatography,TLC)鉴定,是一种简便可行的薄层色谱技术,在薄层色谱鉴定中所有技术中综合考虑成本、分离度和效率上仍处于领先地位。

大多数细胞和分子生物学、分析化学、药理学和农业等实验室中,TLC 尤其是树脂型 TLC 都有广泛的应用,它的灵敏度很高,容易操作,又可视化,把分析结果直观地显示出来,也是实验室样品鉴定的必备技术之一。

二、原理TLC是将物质分子涂布于分散介质表面,在通过一定条件的移动剂萃取作用下,将组分萃取到表面上,在表面上形成带状分离拓扑的技术。

和系统色谱类似,它也以移动相为基础,但比系统色谱更为简便,因而在实验室中作为一种重要的鉴定技术而被采用。

三、实验步骤1.准备TLC的组成部分,其中要准备一定容量的平板、支持板、活性炭吸附板、移动相瓶、标准物瓶、垫片以及正负极的电极。

2.将样本按照一定的比例混合,并加入一小部分适量的能够吸附组分的活性炭粉末,然后使用搅拌机进行混合,以确保样品的浓度和稳定性。

3.将TLC板放置于准备好的支持板上,放入搅拌器中,将样本用移动相涂布于TLC板表面,涂布完成后,将TLC板移出支持板,并在板上进行滤筛。

4.将涂布后的TLC板放置于含有移动相的溶液中,用垫片分隔TLC 板和移动相。

5.将TLC板放置于带有正负极的电极室中,并将电极室中的移动相液体添加到TLC板上,使移动相渗入TLC板内部,直至溶出物从TLC 板的表面渗入移动相液体中,这时TLC板上的组分开始分离。

6.当TLC板上组分被完全分离时,可把TLC板放入烘箱中,以加速板上组分的固化,以保持TLC板上分离的拓扑结构。

7.将TLC板从烘箱中取出,用药品色谱剂浸湿TLC板,以进行组分的鉴定。

8.步骤7完成后,将TLC板上各组分标识出来,用比较法对各组分进行比较,以确定TLC板上分离组分的类型。

四、结论五苓散薄层扫描法鉴定是一种简便可行的薄层色谱技术,具有灵敏度高、容易操作、可视化、分析结果直观等优点,是样品鉴定的必备技术之一,在实验室中有着广泛的应用。

薄层扫描法的基本操作步骤

薄层扫描法的基本操作步骤

薄层扫描法的基本操作步骤薄层扫描法是一种常见的化学分析技术,其主要应用于色谱分析中。

它能够快速、高效地分离、鉴定和定量化合物,广泛应用于医药、农业、化工等领域。

薄层扫描法的基本操作步骤:
1.薄层板的选择:选择适合分析物的基质种类和材质的薄层板,一般比较常用的是硅胶和氧化铝薄层板。

2.涂薄层:将样品涂抹在薄层板表面,需要注意同一个薄层板上应涂同一样品。

3.使样品描出:将涂好的薄层板静置,待样品完全描出。

4.色带制备:将样品使用混合溶剂沿着薄层板底部的一侧缘不断铺开,直到在薄层板表面出现伸展开的色带为止。

5.色带扫描:将色带置于薄层扫描仪中,手动校准色带位置。

6.数据处理:扫描数据转换为色谱图并解析。

以上是薄层扫描法的基本操作步骤,了解了这些基本步骤后,我们需要注意以下几点:
首先,在涂薄层板时,应注意涂抹的均匀性。

在描出样品的过程中,要避免过分晾干,以免影响后续操作。

其次,在色带制备和色带扫描过程中,要注意混合溶剂的挑选和浓度,以得到清晰的色带和稳定的信号。

此外,为了保证实验结果的准确性和可重复性,需要注意实验环境的控制,例如温度、湿度等因素。

总之,薄层扫描法是一种非常有用的化学分析方法,正确操作可以获得准确、可靠的实验结果。

希望以上内容对大家有所帮助。

薄层色谱扫描法(一)

薄层色谱扫描法(一)

薄层色谱扫描法(一)薄层色谱扫描法,亦称薄层光密度法,系用一束一定波长、一定强度的紫外或可见光照耀在薄层板上,对薄层色谱中可汲取紫外光或可见光的斑点,或经激发后能放射出荧光的斑点举行扫描,测定其对光的汲取强度或经激发后所产生的荧光强度,将扫描得到的图谱及积分数据用于鉴别、检查或含量测定的办法。

测定时可按照不同薄层色谱扫描仪的结构特点,根据规定方式扫描测定。

普通挑选反射方式,采纳汲取法或荧光法。

一、薄层色谱扫描法的原理 (一) 薄层扫描办法薄层色谱扫描法的测定办法可分为汲取测定法反射法测定与荧光测定法。

按照对光汲取测定方式的不同,又可分为反射法以及透射法两种方式举行扫描。

透射法大多用于凝胶色谱的扫描,非透亮介质薄层板的扫描主要为反射式汲取法或荧光法扫描(图7-6)。

扫描办法可采纳单波长扫描和双波长扫描。

单波长薄层扫描适合于分别度好,背景干扰少的薄层。

如采纳双波长扫描,应选用待测斑点无汲取或最小汲取的波长为参比波长,供试品色谱图中待测斑点的比移值(Rf值)、光谱扫描得到的汲取光谱图或测得的光谱最大汲取和最小汲取应与对比标准溶液相透射法测定符,以保证测定结果的精确性。

薄层色谱扫描定量测定应保证供试品斑点的量在线性范围内,须要时可适当调节供试品溶液的点样量,供试品与标准物质同板点样、绽开、扫描、测定和计算。

图7-6反射法及透射法薄层扫描路途暗示图按照扫描时间束的轨迹不同,薄层扫描又可分为线性扫描和锯齿扫描(图7-7)。

线性扫描时普通采纳一束比待测斑点略宽的狭窄光带沿绽开方向做单向等速扫描,它适于外形较规章斑点的扫描。

锯齿扫描用法的极小正方形光束在沿绽开方向运动的同时,在垂直于绽开方向也举行往复扫描,扫描过程中光束的运动轨迹呈锯齿形或矩形,它对于外形不规章或浓度分布不匀称的斑点扫描重复性较好,但扫描速度较慢。

薄层色谱扫描用于含量测定时,通常采纳线性回来二点法计算,如线性范围很窄时,可用多点法校正多项式回来计算。

薄层扫描法

薄层扫描法

薄层扫描法一、定义薄层扫描法(TLCS)又称原位定量薄层色谱扫描法(QTLC)系指用一定的波长的光照射在薄层板上,对薄层色谱中有紫外或可见吸收的斑点或经照射能激发产生荧光斑点进行扫描,将扫描得到的图谱及积分值用于药品定性定量的分析方法。

回顾薄层色谱法(TLC)1、薄层板的制备(硅胶板,Al2O3板,聚酰胺薄膜等)2、点样(选择合适的展开剂,在薄板底1cm处画基线,点样)3、展开(浸入展开剂,展开到距薄板顶端1~2cm)4、检视(在紫外光灯下观察斑点)了解一下薄层扫描仪薄层扫描仪的组成及主要功能薄层色谱扫描仪有多个厂家生产,型号不同,仪器外形、光路系统及某些功能也有差异,但其基本结构及主要功能是基本相同的。

每台仪器都包括主机、数据处理及信号输出等部分。

(1)分光器及测量范围大多数薄层扫描仪的分光器为光栅,少数为棱镜,极个别的用滤光片,其测量范围光栅为200-800nm,棱镜为200-2500nm。

(2)光源及检测器光源室具有可见光源钨灯,波长范围为400-800,紫外光源氘灯波长范围为200-400nm,荧光光源为氙灯或汞灯。

操作时可通过光源选择杆来变换光源选择镜的位置;检测器一般为光电倍增管。

表7-5-2 国外几种主要专用薄层色谱扫描仪二、TLCS基本原理与方法薄层扫描法可分为薄层吸收扫描及薄层荧光扫描两类方法。

1. 薄层吸收扫描法的基本原理薄层吸收扫描法是用可见光或紫外线的单色光照射展开后的薄层色谱板,测定薄层色谱斑点(简称斑点)的吸光度(A)随展开压离(L)的变化,而获得A —L成A—Rf曲线,即薄层色谱扫描图(简称扫描图)。

曲线上的色谱峰峰面积可用于定量分析。

由于薄层板存在着明显的散射现象,而使斑点中物质的浓度与吸光度的关系不服从Beer定律,所以需田Kubelka—Munk(古柏尔卡—曼克)理论来描述。

该方程式是薄层扫描法的定量分析基础。

定量校正方法可分为曲线校直法及非线性回归法等。

设薄板固定相的厚度为X,入射光的强度为I.,当透过厚度x的的固定相后,照射在微分薄层厚度dx上的入射光强与反射光强分别为i和j时,如左图。

薄层扫描法(中药)

薄层扫描法(中药)


就两个相邻物质的理化性质考虑: 选用正相薄层板还是反相薄层板 选用单一组成的展开剂还是混合溶剂作 展开剂以及极性大小或酸碱性等, 选用什么展开技术,如低Rf值的物质对 可考虑用U-型展开箱,作径向展开等。
对复杂混合物的分离




溶剂系统,即展开剂的优选就成了主要 需要解决的问题。 展开剂的选择和优化,主要考虑两个方 面:溶剂的极性和溶剂的选择性。前 者要求使欲分离的主要物质能在Rf值 0.3-0.7的范围内 后者要求达到最佳的分离度
薄层扫描法
及其在药物分析中的应用
主要内容

薄层色谱法及实验条件的选择 薄层扫描法的基础理论及实验方法 CS系列薄层色谱扫描仪 CAMAG系列薄层色谱扫描仪 薄层扫描法在药物分析上的应用
薄层扫描法(TLCS)

薄层色谱光密度法(TLC-Densitometry) 薄层色谱扫描光密度法(TLC-DS) 相应仪器称为薄层扫描仪(TLCScanner)
荧光发射波长的选择


固定激发波长,连续改变发射波长(λEX), 测定物质的荧光强度(F)随发射波长改变 的变化,所得的F—λEX曲线称为物质的 荧光发射光谱。该光谱即通常所说的荧 光光谱。 最大发射波长即荧光光谱上荧光峰所对 应的波长。
扫描方式

直线扫描 锯齿扫描
直线扫描示意图
光带长度的影响
样品供试液净化的方法(2)

液液萃取法,如伤湿止痛膏中阿托品的 鉴别,将酸性水溶液碱化后用氯仿萃取, 将生物碱提出再薄层鉴别;小儿化毒散 中牛黄的鉴别,先用稀碱液将胆酸类成 分溶出,用醋酸乙酯洗涤.再在酸性条 件下用醋酸乙酯萃取,以减少其他成分 和杂质的干扰。
固液萃取法
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用曲线校正法校直Kubelka—Munk曲线,必须巳知薄层板的 SX值,Mrck预制硅胶板的SX=3,Merck预制氧化铝板的 SX=7,Wako预制硅胶FM(硅胶GF254)板的SX=7。国产 预制薄层板及自制薄层板,可参考上述数据试调,而后检查 校正是否适宜,修正SX值再校,直至A—KX曲线成直线为止。 检查方法如下图所示。图中点样量显(横坐标)常用单位为ug/ 点。
设薄板固定相的厚度为X, 入射光的强度为I.,当透过 厚度x的的固定相后,照 射在微分薄层厚度dx上的 入射光强与反射光强分别 为i和j时,如左图。其入 射光强的增量与反射光强 的增量分别符合以下两个 微分方程:
即光照射到厚度为x的薄层后,光被吸收及散射。 在入射方向,光强度因为被吸收与散射而减弱; 在入射的反方向,则光强度因散射而增强。解上 述方程得:
2、另取
熊果酸对照 品适量,精 称
+无水 乙醇
制成 0.5mg/ml 溶液
3、精吸供试液6ul及对照品溶液4ul与8ul,分别交叉点于同一硅胶G板上,
以环己烷-三氯甲烷-乙酸乙酯-甲酸(20:5:8:0.1)展开,取出,晾干,喷以10 %硫酸乙醇溶液,在110℃加热5~7min,至斑点显色清晰,取出,在薄层板 上覆盖同样大小的玻璃板,周围用胶布固定,进行薄层扫描,波长波长 λs=535nm,λR=650nm,分别测量供试品与对照品A,计算即得.本品每丸含山 楂以熊果酸(C30H48O3)计
表7-5-2 国外几种主要专用薄层色谱 扫描仪
二、TLCS基本原理与方法
薄层扫描法可分为薄层吸收扫描及薄层荧光扫描两类方法。 1. 薄层吸收扫描法的基本原理 薄层吸收扫描法是用可见光或紫外线的单色光照射 展开后的薄层色谱板,测定薄层色谱斑点(简称斑点)的吸 光度(A)随展开压离(L)的变化,而获得A—L成A—Rf曲线, 即薄层色谱扫描图(简称扫描图)。 曲线上的色谱峰峰面积可用于定量分析。由于薄层 板存在着明显的散射现象,而使斑点中物质的浓度与吸光 度的关系不服从Beer定律,所以需田Kubelka—Munk(古 柏尔卡—曼克)理论来描述。该方程式是薄层扫描法的定 量分析基础。定量校正方法可分为曲线校直法及非线性回 归法等。
2.1 扫描方式选择 (1) 直线扫描 直线式扫描是用一光带先照射在薄层板的一端,而后 作直线运动至另—端。在作直线式扫描时,实际上是光带 固定,薄层板相对于光带作直线运动。
在作直线扫描时,光带的长度对扫描后所得的色诺峰峰面积影
响很大,下图说明了光带越长,所得的色谱蜂面积越小,反之 则峰面积越大。光带太长,检测灵敏度低,光带太短,光带只 通过斑点的一部分,所得的蜂面积,不能真实反砍斑点的吸收 情况。因此,正常扫描时,应使光带长度略大于斑点直径。在 多斑点扫描的,光带长度略大于最大斑点直径。为了降低定量 误差,应使标准品斑点的直径与检品斑点的直径尽量接近。样 品斑点为带状时,光带长度应约为样带的2/3。
薄层扫描法
09中药一班
薄层扫描法
一、定义 薄层扫描法(TLCS)又称原位定量薄层色谱 扫描法(QTLC)系指用一定的波长的光照 射在薄层板上,对薄层色谱中有紫外或可 见吸收的斑点或经照射能激发产生荧光斑 点进行扫描,将扫描得到的图谱及积分值 用于药品定性定量的分析方法。
回顾薄层色谱法(TLC)
1、薄层板的制备(硅胶板,Al O3板,聚酰 胺薄膜等) 2、点样(选择合适的展开剂,在薄板底 1cm处画基线,点样) 3、展开(浸入展开剂,展开到距薄板顶端 1~2cm) 4、检视(在紫外光灯下观察斑点)
2
了解一下薄层扫描仪
薄层扫描仪的组成及主要功能 薄层色谱扫描仪有多个厂家生产,型号不同,仪器外 形、光路系统及某些功能也有差异,但其基本结构及主要 功能是基本相同的。每台仪器都包括主机、数据处理及信 号输出等部分。 (1)分光器及测量范围 大多数薄层扫描仪的分光器为光栅,少数为棱镜,极 个别的用滤光片,其测量范围光栅为200-800nm,棱镜 为200-2500nm。 (2)光源及检测器 光源室具有可见光源钨灯,波长范围为400-800,紫外 光源氘灯波长范围为200-400nm,荧光光源为氙灯或汞 灯。操作时可通过光源选择杆来变换光源选择镜的位置; 检测器一般为光电倍增管。
照稀液残浸 干乙 定测 进同斑酸( 胶 ,定 行样点乙 板及 品释,渣泡 ,醚 品 薄大显醇 上对的适至微加次 残适烘洗加法 照溶量刻热适, 渣量干涤水: 层小色溶 ,品 ,度使量 用, , 取 , 扫的清液 以 液精,溶无每 石加, 在 重 溶 )计 描玻晰,) 环液。密摇解水次 油热连室,量 计算 ,璃,在展 己 作称匀,乙 醚回同温放差 开烷 为 即 波板取 , 与 定,定醇( (流滤干置异 三 对,作量三浸 提纸燥使项 得 长,出 取 氯 照加为转氯泡 取一至溶的 并松散 本 周, 出 甲,溶无供移甲 至软,本 品 分 围在加, 烷分液水试至 , 品 晾 每别 ,乙液 烷 )提索的滤 () 用薄热干 乙别精 丸测 交 醇。 取氏粉过, 含 量 胶层 , 酸叉密制另容:, 液提末, 山 布板 喷 乙点吸成取量 倾 回取状药剪 楂 供 固上 以 酯于取每熊瓶)去 收器,渣碎 以 试 定覆, 甲同供 果内混石 乙内在再, %酸一试 酸,合油 醚, 用精 熊品 果 与 ,盖至硫 硅液含对并溶醚 至加 水密 , 称 酸对 (照
(3) 双校长法的优点 a.可以排除分离度不佳的两个斑点间的相互干扰, 能用于分离度不佳以至于完全重叠斑点的定量分析。 b.可以排除背景污染的干扰,使基线平直。 c.可以提高灵敏度。 d.可以改变色谱峰的倒正。 这些优点的实现,主要取决于波长对的选择。
3· 定量分析方法
TLCS最常用的定量方法是外标法,包括外标一点法和外 标二点法。 1 外标一点法 标准曲线通过原点(截距为零)时可用外标一点法定量。 即只需一种浓度的对照品溶液,与供试液同板展开,分别 测定其峰面积A,即C待=A标C标/A待 2 外标二点法 该法是TLCS法中主要的定量分析方法。标准曲线不通过 或一种浓度原点时只能用该法定量,至少需点两种不同浓 度两种点样量的对照品溶液,与供试液同板展开,分别测 定其峰面积A,用对照品求直线方程:A=Km+B,代入即得。
应用时应注意: 曲线校直法是一种简便的薄层扫描定 量校准方法,但比较粗糙,且有时难于准 确知道薄层板的SX值。为了降低定量误差, 应使标准品的色谱峰峰面积与待测品(供试 品)的色谱峰面积尽量接近为好。
2. 薄层吸收扫描法的扫描方式及条件的选择 薄层吸收扫描法的扫描条件,包括扫描方式、波长及 测光方式等。扫描方式分为直线式及锯齿式扫描。扫描波 长的选择至关重要,不仅关系检测灵敏度,而且关系干扰 的排除等。测光方式分为透射式及反射式
100℃ 烘干
法 +乙醚适量
例1 山楂化滞丸中熊果酸的含量测定 +H O
+H2O 10ml
溶解, 10ml洗 滤过 涤,干

2
至松软 粉末状
加热回流 4h
残 渣
+适量无水乙醇-三氯甲 烷(3:2)混合溶液 溶解,转移 定容至5ml
石油醚(30~60℃) 残渣 浸泡2次, 5ml/次
供试液 对照品溶 液
例2香连丸中盐酸小檗碱的含量测定
测定法:取本品适量,研细,取约0.2g,精密称定,置索氏提取器中, 加盐酸-甲醇(1:100)的混合液适量,加热回流提取至提取液无色, 将提取液移至100ml量瓶中,用少量上述混合液洗涤容器,洗液并入 同一量瓶中,加上述混合液至刻度,摇匀,精密量取10ml,置50ml 量瓶中,加甲醇至刻度,摇匀,作为供试液。另取盐酸小檗碱对照品 适量,精密称定,加甲醇制成每1ml含20ug的溶液,作为对照品溶液。 精密吸取供试液4ul、对照液2ul与6ul,分别交叉点于同一硅胶G板上, 以甲苯-乙酸乙酯-甲醇-异丙醇-水(4:2:1:1:0.2)为展开剂,在 另一槽中加等体积的浓氨试液,预饱和15min后,展开,展距约 10cm,取出,晾干,进行荧光扫描,激发波长:λ=366nm,测供试 品荧光强度与对照品荧光强度的积分值,计算即得。本品每1含黄连 以盐酸小檗碱(C20H18ClNO4)计。
分析:本题采取双波长扫 描法,用外标二点法进行定 量计算。得到△A与浓度C 的线性关系代入即得。
熊果酸高含量为有光泽的棱柱状(无 水乙醇)或细毛样针状结晶(稀乙醇),低 含量为棕黄色或黄绿色粉末,具特殊的 气味,是存在于天然植物中的一种五环 三萜类化合物。熔点283~288℃. 比 旋光度[α]D25 +67.5°(C=1, 1mol/L氢氧化钾醇溶液中)。在15℃ 时,乙醇(99%)1毫升可溶解10毫克, 沸腾1毫升可溶解45毫克。尚易溶于甲 醇,丙酮,吡啶,不溶于水和石油醚
(2)锯齿式扫描 用截面积为正方形的光束照射薄层板,光束的 运动轨迹为矩齿形。CS系列的摆动距阂最大为 30mm,因此锯齿式扫描适用于直径小于30mm的斑 点。
直线式扫在做锯齿形扫描时,由于光束来回通过斑点,吸光度 积分值比描大,重复性较好。 锯齿扫描还适用于不规则斑点的定量。虽然扫描方向不同时, 所得的色谱峰形状有差别,但积分值差别较小。 机械锯齿式描仪器扫描速度慢是其缺点,飞点扫描型仪器(如 CS-9000型薄层扫描仪)则克服了此缺点。
在薄层扫描时,人们只是对进入薄层和由薄层出来的光有 兴趣,也即上式的极端情况,x=0及x=X时
对比两图很易发现,由于薄层固定相的散射作用使在透射法中 所测得的斑点的吸光度产生正偏差,而在反射法测定时产生负 偏差。这是因为照射光被散射,降低了透射率,吸光度增加; 散射光增加了反射光光强,增加了反射率,而降低了吸光度的 缘故。其次,还可发现后图比前图的横座标大25倍,这说明了 反射法的灵敏度(响应值)比透过法小。 1· Kubelka-Munk曲线校直 1 Kubelka-Munk曲线说明了薄层色谱斑点的吸光度与其 浓度间呈非线性关系,该曲线是薄层扫描法进行定量分析的理 论依据。曲线处理采用两类方法:曲线校直法及计算机回归法 (线性及非线性回归)。CS系列仪器采用前者,CAMAG仪器采 用后者方法。 曲线校直法是根据薄层板的散射参数SX值,将Kubelka -Munk曲线校正为直线,简化A与KX间的关系,以利于定量 分析。
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