半导体测试流程
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何謂積體電路(IC)
積體電路特性
IC測試在IC製程中的位置
IC測試廠機台
IC測試廠設備Probe Card-針測板
半導體IC測試基本名詞介紹•Probe Card:針測板
•Socket:IC測試時承載之基座
•Bin:IC分類之稱呼
•Change Kit:變異製具
•Lead Scan:掃腳機
•Ball Scan:掃球機
•Laser Mark:雷射蓋印機
•Burn In:預燒機
•Baker Oven:烤箱
Wafer Die •Wafer:晶圓
•Die(裸晶):晶片上面的基本單位
LCD Driver
封測
磁帶封裝