X射线衍射分析

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荧光强度测量公式:
定量分析(元素的含量)
由上式,萤光X射线的强度不仅和被测元素的 含量,性质及初级X射线的强度有关,且与式 样中共存元素的含量及性质有关。
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定量分析的方法(1)单线 条法
• 是最简单的定量方法,但精确稍差
• 把多相混合物中待测物相的某根衍射线 强度与该相纯试样的同指数衍射强度相 比较 • 要求两次实验时仪器的状态和条件必须 严格相同 • 样品中该物相与纯相相近
面积不变
需要说明,一个晶粒中包含多个亚晶粒,晶 粒尺寸测量值,实际是晶粒中的亚晶粒尺寸。
• 衍射仪的组成
– – – – X光管 样品台 测角仪 检测器
X射线衍射仪器与制样
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例一
15.1 17.1 18.0
23.2
淀粉晶型主要类型: A:15°、17°、18°和 23° B :5.6°、17°、22°和 24°有 较强的衍射峰出现; C :A 型和 B 型的综合
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第五节 X射线衍射分析
• X射线衍射分析可给出材料中物相的结 构及元素的状态信息 • XRD物相定性分析
– 利用XRD衍射角位置及强度,鉴定未知样 品是由哪些物相所组成 – 对比粉末衍射标准联合会(JCPDS)出版 的粉末衍射卡片(PDF卡片) – 看“三强线”
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PDF卡片
• 每张 PDF 卡片列出一种单相物质(包括元素单质、合 金、无机化合物、矿物、有机化合物和金属有机化合 物)的多晶 X 射线衍射数据 • PDF 卡片号51-0939,并标出衍射数据的质量(图中为 C),分别是:★(高质量实测数据),C(根据实测 的单晶体结构数据计算而得的理论数据),I(衍射 图已指标化,数据可靠),Q(数据质量符合要求), D(已被质量更高的卡片所替代) • 列出物质的分子式,英文名称和有关的参考文献 • 列出化合物的 CA(Chemical Abstracts)序列号
X射线谱
其波长与靶金属的原子序数 有 超过临界值时,连续X射 短波限 线谱的某些特定波长会出现 一些强度很高的尖锐峰 特征X射线(标识)
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0
n
N态
原 子 的 能 级
m
M态
L态
电 子
l
hl→k=l-k
k
K射线 入射X射线或高速电子 K
K态(击走 电子)
特征X射线产生过程
第四节X射线和物质的相互作用
1
3 4 6 5
7
2
1-高压变压器;2-钨丝变压器; 3-X射线管;4-阳极; 5-阴极;6-电子;7-X射线
常规的X射线产生装置
X射线管的结构
• 封闭式X射线管实质上就是一个大的真空 (105 ~ 107 mmHg )二极管。基本组成包括: • (1)阴极:阴极是发射电子的地方。 • (2)阳极:靶,是使电子突然减速和发射X射线的 地方。
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原子完全无序情况 ,例如稀薄气体。在进 行 X 射线分析时,只能得到一条近乎水平的 散射背底谱线。
I

原子近程有序但远程无序情况,例如非晶体 材料。由于近程原子的有序排列,在配位原子 密度较高原子间距对应的 2θ 附近产生非晶散 射峰。
I
2θ换算为 4π sinθ/λ
非晶体材料的近程原子有序度越高,则配位 原子密度较高原子间距对应的非晶散射峰越强, 且散射峰越窄。
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PDF卡片
• 列出物质的结晶学数据,包括:分子量,晶胞体积, 理论和实测比重,所属空间群,晶胞参数等 • 列出了有关的实验数据,包括:同样质量的样品最强 衍射线与-Al 2O3 (刚玉)最强衍射线的强度比,实验 中所用的X射线种类和波长,实验中是否使用了单色 器和滤色片等等 • 列出粉末衍射的棒图,衍射峰角度(或d值),相对强度, 衍射指标等 • PDF 卡片是进行物相鉴定的重要依据 • 有光盘版发行,可根据实测的多晶X射线衍射图谱自 动进行物相检索
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2
1-高压变压器;2-钨丝变压器; 3-X射线管;4-阳极; 5-阴极;6-电子;7-X射线
常规的X射线产生装置
产生条件
• 3. 在 其 运 动 的 路 径上设置一个障碍 物使电子突然减速 或停止。 • 4. 真空 --- 把阴 极和阳极密封在真 空 度 高 于 10-3Pa 的真空中,保持两 极洁净并使加速电 子无阻地撞击到阳 极靶上。
粒子性
• 特征表现为以光子(光量子)形式辐射和吸收 时具有的一定的质量、能量和动量。 • 表现形式为在与物质相互作用时交换能量。如 光电效应;二次电子等。 • X 射线的频率 ν、波长λ以及其光子的能量ε、动 量p之间存在如下关系: hc h h p

• 式中 h—— 普朗克常数,等于 6.625× 1034 J.s; c——X射线的速度,等于2.998× 108 m/s.
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• 2· X射线强度
• I连 :
• X射线的强度I是由光子能量hν和它的数目n两个因 素决定的,即I=nhν
• 式中h—普朗克常数=6.625×10-34J.s; c—X射线的速度=2.998× 108 m/s. • ν— X射线的频率、波长λ
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• 连续 X 射线谱中每条曲线下的面积表示 连续 X 射线的总强度,也是阳极靶发射 出的X射线的总能量。 • 实验证明,I与管电流、管电压、阳极靶 的原子序数存在如下关系:
X射线分析XRD
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目录
• • • • • 第一节X射线的物理基础 第二节X射线的产生 第三节 X射线谱 第四节X射线和物质的相互作用 第五节 X射线衍射分析
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第一节X射线的物理基础
1-1 X射线的本质
• X射线的本质是电磁波,与可见光 完全相同,仅是波长短而已,因 此具有波粒二像性。
• (1)波动性 • (2)粒子性
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例二
例3
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重结晶 晶体解体
支链淀粉之间相互作用,衍射强度增加
韧化
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Thank you for your attention!
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部分X射线被吸收
分析轻机体 分析各种催化剂物相组成,及 中的重元素
其微观结构,如结晶状态,结 晶度,结晶分布,晶胞常数等
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定性 分析
莫塞莱定律(同系):荧光X射 线的波长随着原子序数的增加有 规律的向波长变短的方向移动, 它表示的是波长与原子序数的关 系
定性分析方法:根据选用的分析晶体 (d已知)和实测2q角,用Bragg方程 ,计算波长。然后查2q 谱线表,可查出相应元素。
引自中南大学
• (3)窗口:窗口是X射线从阳极靶向外射 出的地方。 • (4)焦点:焦点是指阳极靶面被电子束轰 击的地方,正是从这块面积上发射出X射 线。
过程演示
冷却水
X射线
玻璃 钨灯丝
电子 接变压器
金 属 靶
X射线 铍窗口 X射线管剖面示意图 金属聚灯罩
第三节 X射线谱
X射线谱指的是X射线的强度随波长变化的关系曲线。X射 线强度大小由单位面积上的光量子数决定。
• 从上式可以看出,为了提高连续x射线 的强度,提高V,i,采用重金属靶(Z)
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I特 :
• 强度特征:每个特征射线都对应一个特 定的波长,不同靶材的特征谱波长不同。 如管电流和管电压V的增加只能增强特 征X射线的强度,而不改变波长。 • K系特征X射线的强度与管电压、管电流 的关系为:
VK:K系激发电压 K2,n:常数 V:管电压 i:管电流
• X射线的波长范围: 0.01~100 Å 或者10-8-10-12 m • 1 Å =10-10m • 表现形式:在晶体作衍射光栅观察 到的 X 射线的衍射现象,即证明了 X 射线的波动性。
波动性
X射线是波长在10-8到10-12米范围内,具有极强
穿透能力的电磁波。
• 硬X射线:波长较短的硬X射线能量较高, 穿透性较强,适用于金属部件的无损探 伤及金属物相分析。 • 软X射线:波长较长的软X射线能量较低, 穿透性弱,可用于分析非金属的分析。 • X射线波长的度量单位常用埃(Å ),或者 通用的国际计量单位中用纳米(nm )表 示,它们之间的换算关系为: • 1Å =10-10 m 1nm=10-9 m
自然界中的大多物质,其晶体结构都不是理 想的晶体,例如存在孪晶与亚晶块、晶格显微 畸变、位错与层错、甚至原子热振动等,破坏 了晶体结构的完整性,故称为不完整晶体。
物质的晶体不完整性,必然影响X射线空间 干涉的强度分布,在稍偏离布拉格方向上也出 现衍射,造成X射线衍射峰形状的变化,例如 导致衍射峰宽化和峰值强度降低等。

第二节X射线的产生
产生原理
高速运动的电子与物体碰撞时,发生能 量转换,电子的运动受阻失去动能,其 中一小部分(1%左右)能量转变为X射 线,而绝大部分(99%左右)能量转变 成热能使物体温度升高。
产生条件
• 1. 产生自由电子--电子源,如加热钨 丝产生热电子 • 2. 使电子作定向的 高速运动 --- 施加 在阳极和阴极(钨丝) 间的电压
• 由X射线管发射出来的X射线可以 分为两种类型: • (1)连续(白色)X射线 • (2)特征(标识)X射线 • 连续辐射,特征辐射
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• • • 初级X射线
当加在X射线管两端电压未 超过一定数值时,所产生X X射线管产生的射线是初级X射线波长是在一定范围连 射线 续分布。 连续谱X射线(白色 X射线)
衍射峰位角 2θ是反映衍射方向的问题,主 要与辐射波长、晶胞类型、晶胞大小及形状 有关。遵循布拉格方程。
2d sin q n
I

θ
B、衍射强度
衍射积分强度,归根结底是X射线受晶体中 众多电子散射后的干涉与叠加结果。原子在晶 胞中位置及原子种类则决定了衍射强度。
面积不变
(2) 晶体不完整性及其衍射效应
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• (2)内标法: • 将一种己知物相百分含量的标准物质添 加到含有未知物相的测试样品中,充分 混合以获得待测物相含量的方法 • 最常用最有效
• 该物相的情况基本与纯相相近
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(3)增量法(适用低含量 样品)
• 在多相混合物中,对待测物相进行一次 增量,然后根据测定的衍射强度进行计 算,获得待测相的含量
I
2θ换算为 4π sinθ/λ
理想晶体的衍射谱线,是布拉格方向对应 的 2θ 处产生没有宽度的衍射线条。 前提是不存在消光现象。
I

实际晶体中 由于存在晶体 缺陷等破坏晶 体完整性的因 素,导致衍射 谱线的峰值强 度降低,峰形 变宽。
I
2θ I

1-4-2、晶体的衍射谱线 (1) 衍射峰位与衍射强度 A、衍射峰位
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