边界扫描介绍
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
美国 ASSET 公司
边 界 扫 描 测 试
北京博基兴业科技有限公司
Tel:010-62102917
Fax:010-62102872
www.broadkey.com.cn
随着微电子技术进入超大规模集成电路时代,电路的高度复杂性及多层印制板、表面贴 装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的运用,使得电 路节点的物理可访问性正逐步削减以至于消失,电路和系统的可测试性急剧下降,测试费用 在电路和系统总费用中所占的比例在不断上升。针对电路的器件布局日益复杂、元器件复杂 的封装、密集的管脚;线路板小型化、线越来越细等这些问题就会给电路的线路检测、线路 板故障的检查以及排除和FLASH、CPLD ISP(在线编程)带来很大的麻烦,用传统的ICT(线路 检测设备)已经很难,甚至不可能解决这些问题,因此人们开始寻求更方便、更快捷的方式 来替代传统的检测手段。现在一种叫边界扫描的技术越来越多引起人们的注意,应用比较广 泛的是JTAG接口协议,基于JTAG协议而开发的边界扫描产品也越来越多:
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
边界扫描原理
IEEE 1149.1 标准规定了一个四线串行接口(第五条线是可选的),该接口称作测试访问端口 (TAP),用于访问复杂的集成电路 (IC),例如微处理器、DSP、ASIC 和 CPLD。 除了 TAP 之 外,混合 IC 内部也包含移位寄存器和状态机,以执行边界扫描功能。 在 TDI(测试数据输 入)引线上输入到芯片中的数据存储在指令寄存器中或数据寄存器中。 串行数据从 TDO(测 试数据输出)引线上离开芯片。边界扫描逻辑由 TCK(测试时钟)上的信号计时,而且 TMS(测 试模式选择)信号驱动 TAP 控制器的状态。 TRST*(测试重置)是可选项,而且可作为硬件重 置信号。 在 PCB 上可串行互连多个可兼容扫描功能的 IC,形成一个或多个边界扫描链, 每一个链有其自己的 TAP。 每一个扫描链提供电气访问,从串行 TAP 接口到作为链的一部 分的每一个 IC 上的每一个引线。 在正常操作过程中,IC 执行其预定功能,就好像边界扫 描电路不存在。 但是,当为了进行测试或在系统编程而激活设备的扫描逻辑时,数据可以 传送到 IC 中,并且使用串行接口从 IC 中读取出来。 这样的数据可以用来激活设备核心, 将信号从设备引线发送到 PCB 上,读出 PCB 的输入引线并读出设备输出。
美国ASSET InterTech:
美国 ASSET InterTech 边界扫描公司是一家有 13 年历史,专业从事边界扫描技术开发与 研究的公司,其开发的边界扫描工具在销售市场的占有率第一,并且与摩托罗拉,诺基亚, 思科等知名公司有着长期良好的合作关系,在边界扫描项目中连续三年获得 Best in Test 大奖,参与(IEEE1149.1, 1149.4, 1532,1149.6,IJTAG)标准的制定,在业内享有良好的口 碑和信誉。
大容量: 超过 7000 个零件模型 速度快:2~10 秒准确找出故障点,整板测试时间小于 30 秒(不包括 Flash 编程) 准确率高:可以准确定位至网络或零件脚 数据分析:对故障点进行准确的分析并产生详细的报告
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
内部故障定位浏览器:
通过内部故障定位器准确的反应了当前电路板的情况,无需输入复杂的指令来进行操 作,通过接口信号传输利用扫描,可以快速的对当前所反映出的错误来进行维修.
边界扫描测试是在 20 世纪 80 年代中期作为解决 PCB 物理访问问题的 JTAG 接口发展
起来的,基于 JTAG 协议而开发的边界扫描产品也越来越多。
JTAG 测试的广泛应用和科技的发展,适用于 JTAG 测试的工业标准也在逐步推进,从 最初的用于互连测试的 IEEE 1149.1 工业标准,到 1999 年推出的适合数模混合测试的 IEEE Std 1149.4-1999,再到 2000 年推出的可以对 Flash,CPLD,FPGA 进行 ISP(In System Programming 系统内编程)的 IEEE 1532-2000。JTAG 测试的功能逐渐强大和完善,从而在 更多的领域得到越来越广泛地应用,并已成为国际上通用的电路板测试方法。
(2) ScanWorks 测试系统硬件结构 ScanWorks 测试系统硬件的功能:将程序中的测试数据串(脉冲序列代码)转换成实 际的脉冲序列,输出给待测电路板,并且接收测试数据回到测试系统中,从而实施测试。 简单的讲就是测试系统与待测电路板的通讯接口。
ScanWorks 测试系统硬件基本包括: ·一台 PC, Windows XP,2000 or NT 的操作系统 ·卡式 JTAG 控制器(PCI-100,PCI-400 PCI card) ·接口适配盒 ·电缆
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
应用范围:
准确的测试线路的开短路 解决PCB测试点减少的问题(针对于物理探测点少) 测试晶片的焊接问题 (特别是BGA) 可以直接在板上通过边界扫描芯片对可编程晶片进行编程(包括FLASH和CPLD等) 对新产品的测试使用时间短 快速生产测试可以节省测试时间 高级与快速板卡修理 测试和技术再利用 (产品周期), 随时 –随地测试 – 无需培训 (运行测试)
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
美国的 ASSET 公司利用边界扫描的技术开发了的线路检测设备,相对于传统的检测方 式,ASSET 公司开发的新产品具有尺寸小、使用方便以及可靠性高等特点。
整个 JTAG 测试系统(PCI-400 系统)结构如图所示:
PC with Windows 2K
接口适配盒
百度文库待测电路板
电缆
PCI-400特点:
JTAG 测试的硬件连线
ScanWorks测试系统组成
(1) ScanWorks 测试软件结构 ScanWorks 测试软件主要实现两个功能:1. 根据网络表和 JTAG 芯片的 BSDL 文件, 产生包含所需要的测试数据串(脉冲序列代码)的测试程序;2. 生成存储器和可编程器件 在线烧录数据。
ScanWorks 测试软件基本功能还包括: ·生成测试覆盖率报告 ·测试错误的分析诊断(管脚级)及图形显示 ·程序调试 ·执行存储器测试 ·可编程器件程序烧录
边 界 扫 描 测 试
北京博基兴业科技有限公司
Tel:010-62102917
Fax:010-62102872
www.broadkey.com.cn
随着微电子技术进入超大规模集成电路时代,电路的高度复杂性及多层印制板、表面贴 装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的运用,使得电 路节点的物理可访问性正逐步削减以至于消失,电路和系统的可测试性急剧下降,测试费用 在电路和系统总费用中所占的比例在不断上升。针对电路的器件布局日益复杂、元器件复杂 的封装、密集的管脚;线路板小型化、线越来越细等这些问题就会给电路的线路检测、线路 板故障的检查以及排除和FLASH、CPLD ISP(在线编程)带来很大的麻烦,用传统的ICT(线路 检测设备)已经很难,甚至不可能解决这些问题,因此人们开始寻求更方便、更快捷的方式 来替代传统的检测手段。现在一种叫边界扫描的技术越来越多引起人们的注意,应用比较广 泛的是JTAG接口协议,基于JTAG协议而开发的边界扫描产品也越来越多:
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
边界扫描原理
IEEE 1149.1 标准规定了一个四线串行接口(第五条线是可选的),该接口称作测试访问端口 (TAP),用于访问复杂的集成电路 (IC),例如微处理器、DSP、ASIC 和 CPLD。 除了 TAP 之 外,混合 IC 内部也包含移位寄存器和状态机,以执行边界扫描功能。 在 TDI(测试数据输 入)引线上输入到芯片中的数据存储在指令寄存器中或数据寄存器中。 串行数据从 TDO(测 试数据输出)引线上离开芯片。边界扫描逻辑由 TCK(测试时钟)上的信号计时,而且 TMS(测 试模式选择)信号驱动 TAP 控制器的状态。 TRST*(测试重置)是可选项,而且可作为硬件重 置信号。 在 PCB 上可串行互连多个可兼容扫描功能的 IC,形成一个或多个边界扫描链, 每一个链有其自己的 TAP。 每一个扫描链提供电气访问,从串行 TAP 接口到作为链的一部 分的每一个 IC 上的每一个引线。 在正常操作过程中,IC 执行其预定功能,就好像边界扫 描电路不存在。 但是,当为了进行测试或在系统编程而激活设备的扫描逻辑时,数据可以 传送到 IC 中,并且使用串行接口从 IC 中读取出来。 这样的数据可以用来激活设备核心, 将信号从设备引线发送到 PCB 上,读出 PCB 的输入引线并读出设备输出。
美国ASSET InterTech:
美国 ASSET InterTech 边界扫描公司是一家有 13 年历史,专业从事边界扫描技术开发与 研究的公司,其开发的边界扫描工具在销售市场的占有率第一,并且与摩托罗拉,诺基亚, 思科等知名公司有着长期良好的合作关系,在边界扫描项目中连续三年获得 Best in Test 大奖,参与(IEEE1149.1, 1149.4, 1532,1149.6,IJTAG)标准的制定,在业内享有良好的口 碑和信誉。
大容量: 超过 7000 个零件模型 速度快:2~10 秒准确找出故障点,整板测试时间小于 30 秒(不包括 Flash 编程) 准确率高:可以准确定位至网络或零件脚 数据分析:对故障点进行准确的分析并产生详细的报告
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
内部故障定位浏览器:
通过内部故障定位器准确的反应了当前电路板的情况,无需输入复杂的指令来进行操 作,通过接口信号传输利用扫描,可以快速的对当前所反映出的错误来进行维修.
边界扫描测试是在 20 世纪 80 年代中期作为解决 PCB 物理访问问题的 JTAG 接口发展
起来的,基于 JTAG 协议而开发的边界扫描产品也越来越多。
JTAG 测试的广泛应用和科技的发展,适用于 JTAG 测试的工业标准也在逐步推进,从 最初的用于互连测试的 IEEE 1149.1 工业标准,到 1999 年推出的适合数模混合测试的 IEEE Std 1149.4-1999,再到 2000 年推出的可以对 Flash,CPLD,FPGA 进行 ISP(In System Programming 系统内编程)的 IEEE 1532-2000。JTAG 测试的功能逐渐强大和完善,从而在 更多的领域得到越来越广泛地应用,并已成为国际上通用的电路板测试方法。
(2) ScanWorks 测试系统硬件结构 ScanWorks 测试系统硬件的功能:将程序中的测试数据串(脉冲序列代码)转换成实 际的脉冲序列,输出给待测电路板,并且接收测试数据回到测试系统中,从而实施测试。 简单的讲就是测试系统与待测电路板的通讯接口。
ScanWorks 测试系统硬件基本包括: ·一台 PC, Windows XP,2000 or NT 的操作系统 ·卡式 JTAG 控制器(PCI-100,PCI-400 PCI card) ·接口适配盒 ·电缆
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
应用范围:
准确的测试线路的开短路 解决PCB测试点减少的问题(针对于物理探测点少) 测试晶片的焊接问题 (特别是BGA) 可以直接在板上通过边界扫描芯片对可编程晶片进行编程(包括FLASH和CPLD等) 对新产品的测试使用时间短 快速生产测试可以节省测试时间 高级与快速板卡修理 测试和技术再利用 (产品周期), 随时 –随地测试 – 无需培训 (运行测试)
联系人:赵栓平 电话:86-10-62102917 手机:13146577482
E-mail: zhaoshuanping1981@hotmail.com
地址:北京市海淀区知春路 108 号豪景大厦 C1501
邮编:100086
www.broadkey.com.cn
美国的 ASSET 公司利用边界扫描的技术开发了的线路检测设备,相对于传统的检测方 式,ASSET 公司开发的新产品具有尺寸小、使用方便以及可靠性高等特点。
整个 JTAG 测试系统(PCI-400 系统)结构如图所示:
PC with Windows 2K
接口适配盒
百度文库待测电路板
电缆
PCI-400特点:
JTAG 测试的硬件连线
ScanWorks测试系统组成
(1) ScanWorks 测试软件结构 ScanWorks 测试软件主要实现两个功能:1. 根据网络表和 JTAG 芯片的 BSDL 文件, 产生包含所需要的测试数据串(脉冲序列代码)的测试程序;2. 生成存储器和可编程器件 在线烧录数据。
ScanWorks 测试软件基本功能还包括: ·生成测试覆盖率报告 ·测试错误的分析诊断(管脚级)及图形显示 ·程序调试 ·执行存储器测试 ·可编程器件程序烧录