数显卡尺内校管理办法
卡尺内校 SOP1
SOP-QR-104三阶文件生效日期2012.06.19 编号SOP-QR-104版本/次A/1卡尺内校作业指导书编制人曲海涛审核人邱丰批准人张述强日期2012.06.19 日期2012.06.19 日期2012.06.19文件修改记录文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期A0 首次发行2012.06.19卡尺内校作业指导书版本/次A/11. 目的1.1 确保校准结果的结果的准确性，使校准作业规范化。
2. 范围2.1 本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺，包括高度尺、游标卡尺、戴表卡尺、电子数显卡尺。
3. 职责3.1 卡尺保管人：负责所属卡尺维护和保养。
3.2 品保部：卡尺专用量块的维护和保养。
3.3校验人：卡尺内校结果的记录和校验标识标签的确认。
4. 作业内容说明：4.1 卡尺结构：4.1.1游标卡尺结构如下图所示。
4.1.2 电子数显卡尺结果如下图所示。
4.1.3 戴表卡尺结构如下图所示。
卡尺内校作业指导书版本/次A/14.2 校验/检定条件：4.2.1 室内温度：25±3℃4.2.2 相对温度：65±15％4.3 校验/检定用主要标准器具:成都产二级量块.4.4外观检查4.4.1 检查方法：目检与试验；4.4.2 卡尺表面应无锈蚀，碰伤或其它缺陷，刻度和数字应清晰、均匀；4.4.3 尺框沿尺身移动应平稳，不应有阻滞及明显晃动现象，紧固螺丝的作用可靠。
4.5显示值校验/检定4.5.1所卡尺校正外卡任意选五个点校正，第五点须是该卡尺的最大量程范围，所卡尺校正内卡任意选三个点校正，第三点须是该卡尺的最大量程范围. 所卡尺校正深度，任意选四个点校正，第四点须是该卡尺深度的最大量程范围。
所有卡尺必须校正并须校正卡尺的外卡，内卡，深度。
4.5.2 误差:4.5.2.1 所有游标卡尺、带表卡尺在100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm以上误差为±0.02mm；4.5.2.2 数显卡尺100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm以上误差为±0.02mm。
检具数显内沟槽宽卡尺内校规程
6、校验结果出来和校验周期： 校验结果出来和校验周期：
6.1.凡经校验符合本规程要求的卡尺，贴合格标签，做好校验记录，才能用于产品检测；不符 合本规程要求的将进行维修，维修后重新校验仍不符合的将其报废，并在《监视和测量装置管 理一览表》上注销，贴报废标签，单独放置，有用之零件在后续维修卡尺时使用； 6.2.校验周期：六个月一次。
4.1.卡尺的校验项目和主要工具如下表： 序号 校验项目 主要校验工具 校验类别 新购 使用中 维修后 ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋ ＋
1 外观 目测 2 各部分相互作业 目测及手感 3 刀口内量爪的尺寸和平行度 目测及0.001mm精度的千分尺 4 零值误差 ×10倍的放大镜 5 示值误差 3等量块组（目前没有） 注：“+”标示应校验。 4.2.校验室内温度应为20±5°C，校验前，被检验卡尺和其他工具一同放置于校验室内的工作 台上，其平衡温度、时间不小于2小时。
5、校验要求及方法： 校验要求及方法：
5.1外观 5.1.1.卡尺外观不应有锈蚀、碰伤或其他缺陷，刻线或数字清晰、均匀，不应有脱色现 象，游标卡尺刻线应刻至斜面下边缘，表蒙透明清洁； 5.1.2.卡尺应有制造厂商、分度值和出厂编号； 5.1.3.使用中的和维修后的卡尺，允许有不影响使用准确度的外观缺陷。 5.1.4.检验方法：目测。 5.2.各部分的相互作用： 5.2.1.尺框沿尺身引动应平稳，不应有阻滞或松动的现象，数字显示应清晰、完整，无黑 斑和闪跳现象，各按钮功能稳定、工作可靠； 5.2.2.紧固螺钉的作用应可靠，尺框和尺身的配合间隙不能引起明显错位。 5.2.3.校验方法：目测及手感。 5.3.量爪的尺寸和平行度:应符合下表规定： 5.3.1.刀口内量爪的尺寸和平行度:应符合下表规定： 量爪的尺寸 分度值 平行度 新购和维修后 使用中 +0.020 +0.020 0.01、0.02 0.01 +0.005 -0.010 +0.035 +0.035 0.05 0.01 +0.010 -0.020 5.3.2.校验方法：先将一块尺寸为20mm的3等量块的长边加持于两外测量爪测量面之前，紧 固螺钉后，该量块应能在量爪测量面间滑动而不脱落，用测力约（6~7）N的外径千分尺沿量爪 在平行于尺身方向校验，尺寸偏差以测量值于量块尺寸之差确定； 5.3.3.在其他任意方向校验时，测得值遇量块尺寸之差应补超过上表规定的上偏差； 5.3.4.平行度用外径千分尺沿量爪在平行于尺身方向测量，以量爪全长范围内最大与最小 尺寸之偏差。
数显卡尺的校验程序-质量计量管理
数显卡尺试行检定规程适用于﹑修理后和使用中的分辨率为0.01mm﹐测量范围至500mm 的数显卡尺的检定。
检定项目和检定条件1.数显卡尺的检定项目和主要检定工具列表1.2.检定卡尺的窒内温度为20°±5℃。
检定前﹐应将被检数显卡尺及量块等检定工具同时置于金属平板或木桌上﹐平衡温度的时间不少于表2的规定。
3.检定卡尺的室内相对湿度不超过80%.检定要求和检定方法4.外观4.1要求﹕数显卡尺的表面上不应有锈蚀﹑碰伤或其它缺陷。
数显窗不得倾斜。
玻璃表面应清洁﹑透明﹑无破损和划伤。
表1注﹕表中“+”表示应检定﹔“-”表示可不检定。
表2数显卡尺上应刻有制造厂名(或厂标)﹑出厂编号和各功能按钮的标志。
使用中和修理后数显卡尺不应有影响使用准确度的外观缺陷。
4.2检定方法﹕目力观察5.各部分相互作用5.1要求﹕尺框和微动装置沿尺身移动时应手感平稳﹑无卡住或松动现象。
尺框相对尺身无明显晃动。
制动螺钉的作用应可靠。
深度尺不允许有窜动。
微动装置的空程﹐新制的不应超过1/4转﹐修理后和使用中的应不超过1/2转。
5.2检定方法﹕观察和试验在检定尺框和微动装置沿尺身移动平稳性时﹐如有异议﹐则在尺框上悬挂砝码对尺框和微动装置沿尺身移动时的相对移动力进行检定。
移动力及其变化不大于表3的规定值。
表3检定。
将数显卡尺量爪垂直向上安放﹐并使百分表测头在距离外量爪端面10mm处与外量爪测量接触。
然后在接触点附近正反两方向悬挂砝码。
百分表上示值的变化量即为晃动量。
晃动量应不大于表4的规定值。
表46.显示器6.1要求﹕在全部测量范围内﹐数字显示均应清晰﹑完整﹑无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能可靠﹑工作稳定。
6.2检定方法﹕观察和试验。
7.测量面的有面粗糙度7.1要求﹕不大于表5的规定。
表 5 (μm)面粗糙检定仪上检定。
8.外量爪测量面的平面度8.1要求﹕不大于0.002mm。
8.2检定方法﹕用2级平晶以干涉法检定﹐或用零级样板直尺以光隙法检定。
卡尺 内校指导
文件编号
标准文件
版别
A/0
文件名称:“卡尺”内校指导
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1、校正目的: 说明卡尺校正之程序,确保卡尺在使用期间能维持其准确度。
2、校正范围: 凡本公司所有用于生产及来料质量判定的卡尺（带表卡尺、数显卡尺）均属此范围。
3、校正权责: 计量组。
4、校正环境：温度（20±5）℃；湿度（60±20）％。
10、准备工作：
10.1 应用清洁液清洗平台,再将待校件与量块标准件放置平台上准备清洁。
10.2 以棉花棒沾无水酒精清洁待校件与量块标准件及辅助器具表面,再用干净白布擦干净。
10.3 清洁完毕之后应将待校件与量块标准件放置于平台上至少30分钟以上，使标准件与待校件及校正环境温度同温；校正前应先戴上细纱手套。
a.依校正点拿取标准量块与卡尺直接测量。
b.长度为0-150mm的卡尺的校正点可选择: 5mm、 10mm、20mm、 40mm、60mm、80mm、100mm、130mm、等，每个测量校验点测量2次后取其平均值，并把测量结果记录于校正报告内。
c.长度为0-200mm的卡尺的校正点可选择: 10mm、20mm、40mm、60mm、80mm、100mm、150mm、180mm、等，每个测量点测量2次后取其平均值，并把测量结果记录于校正报告内。
11、校正内容:外观、归零、长度(包括外径、内径、深度)。
11.1外观检查：
卡尺表面镀层均匀、标尺上标记刻度应清晰，无生锈碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，表
盘刻度应清晰，卡尺外部及内外径刀口是否弯曲变形，紧固螺丝是否能牢固，内外径测量面
是否完全密合，尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象，数字显示应清晰、完
内校校准规范
XX（科技）有限公司卡尺校准规范文件编编号：发布日期：实施日期：1、目的对内部的卡尺校准，确保准确度和实用性保持完好。
2、规范性引用文件本规范引用下列文件：JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。
3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为：0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围：0～500mm，各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准，其它类型卡尺也可参照执行。
4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度（20±5）℃，恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前，应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上，其平衡温度时间见表-1的规定。
表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触（深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面）时，由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。
其重合度应符合表-2的规定。
带表卡尺部超过不超过分度值的1/2，数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定，带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。
表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框，使通用卡尺的量爪两外侧面接触，分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。
必要时用工具显微镜校准。
5.1.2 对于深度通用卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。
5.2示值变动性5.2.1在相同条件下，移动尺框，是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触，重复测量10次读数。
示值变动性以最大与最小读数的差值确定。
5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布：对于测量范围在300mm 内的卡尺，不少于均匀分布3点，如测量范围为（0～150mm ）的卡尺，其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为（0～300mm ）的卡尺，其受校点为 101.30mm ；102.60mm ；291.90mm ；对于测量范围大于300mm 的卡尺，不少于均匀分布6点，如测量范围为（0～500mm ）的卡尺，其受校点为 80mm ；161.30mm ；240mm ；321.60mm ；400mm ；491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。
量具内校规程
1、数显卡尺校准规程1目的对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于数显卡尺的内部校准3校验基准外校合格的量块。
4环境条件室温5校验步骤5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，表头是否平稳、平滑。
5.2调校零位，或使指针对准零点。
5.3取2〜3块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。
每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《内校记录》内。
允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。
5.4测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。
测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm,将其平均值记录在《内校记录》中。
5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准；5.6历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格；6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》2、数显千分尺内部校验规程1目的对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于千分尺的内部校准。
3校验基准外校合格的标准量块。
4环境条件室温5校验步骤5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，刻度是否清晰。
5.2扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。
5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3〜4块，（可对标准量块进行组合测量）。
每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《内校记录》内。
允许误差范围为±0.01mm。
5.5历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格。
6校准周期每半年一次7相关记录《内校记录》1目的对FRT进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围适用于FRT的内部校准。
内校校准规范
XX（科技）有限公司卡尺校准规范文件编编号：发布日期：实施日期：1、目的对内部的卡尺校准，确保准确度和实用性保持完好。
2、规范性引用文件本规范引用下列文件：JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。
3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为：0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围：0～500mm，各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准，其它类型卡尺也可参照执行。
4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度（20±5）℃，恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前，应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上，其平衡温度时间见表-1的规定。
表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触（深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面）时，由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。
其重合度应符合表-2的规定。
带表卡尺部超过不超过分度值的1/2，数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定，带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。
表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框，使通用卡尺的量爪两外侧面接触，分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。
必要时用工具显微镜校准。
5.1.2 对于深度通用卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。
5.2示值变动性5.2.1在相同条件下，移动尺框，是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触，重复测量10次读数。
示值变动性以最大与最小读数的差值确定。
5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布：对于测量范围在300mm 内的卡尺，不少于均匀分布3点，如测量范围为（0～150mm ）的卡尺，其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为（0～300mm ）的卡尺，其受校点为 101.30mm ；102.60mm ；291.90mm ；对于测量范围大于300mm 的卡尺，不少于均匀分布6点，如测量范围为（0～500mm ）的卡尺，其受校点为 80mm ；161.30mm ；240mm ；321.60mm ；400mm ；491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。
卡尺内部校准规范
名称： 卡尺内部校准规范 编号： TT-WIC20030一.目的通过对卡尺规定其校正方法和频次确保装置的监视和测量结果准确有效二.适用范围:适用于本厂所用来测量0~150mm的通用卡尺三．定义数显、带表卡尺校验四.权责:品保部计量管理员负责对卡尺的内部校准五．流程图无六. 内容说明:6.1校正环境：温度21~25°C,湿度不低于30%RH，且不高于75%RH6.2校正时机：依校准计划（每年1次）6.3校正引用参考文件：JJG30-2002(国家通用卡尺检定规程)6.5.1校正前：用防锈油除去卡尺上的锈并清洁油污及灰尘6.5.2校正中：标准件校验法6.5.2.1校验标准工具：经国家或国定认可的实验室校验合格的标准件卡尺专用块规6.5.2.2校正项目步骤1）外观a仔细观察卡尺，卡尺表面镀层均匀，标尺标记应清晰，不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划伤，有无粗细不匀及影响外观质量的其他缺陷b使用中和修理后的卡尺，允许有不影响使用准确度的外观缺陷c检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上2）各部位相互配合a尺框尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象，数字显示应清晰、完整、无黑斑闪跳现象，各按钮功能稳定，工作可靠b紧固螺钉的作用应可靠，微动装置的空程应不超过1/2转c检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上3）示值变动性a移动尺框使数显卡尺或带表卡尺量爪两侧接触b重复测量十次并读数c示值变动性以最大与最小读数差值确定d带表卡尺不超过分辨率的1/2，电子数显卡尺不超过0.01mme检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上4）数字显示器的示值稳定性a在测量范围内的任意位置紧固尺框，观察1小时内显示值变化不超过0.01mmb检定结果合格与不合格记录于《卡尺內校报告》上5)卡尺受检点分布用四等专用块规校准，测量范围0~150mm卡尺外量爪受检点分布与允许误差：(41.2+/-0.02、81.5 +/-0.03、121.8+/-0.03)mm，深度尺用两块20mm块规校验允许误差+/-0.02mm6）在对量块规格值与测得的平均值进行比较并依判定标准进行判定7)在对量块取用时，需戴上手指套，且轻拿轻放6.5.3校正后6.5.3.1给被校正卡尺进行防锈保养，并放于盒内6.5.3.2给量块进行防锈保养，并整齐放于盒内6.5.3.3在卡尺校验履历表上做好记录6.5.3.4把校验合格的发给使用或保养者6.6判定标准在保证量测准确度的情况下，可依此判定该卡尺的示值误差是否可以达到允收标准，达到允收标准的发放使用，不达标准的按《不合格管理程序》追溯被测产品6.7校验结果处理6.7.1对所有项目的都在要求范围内的，在卡尺适当位置（或卡尺盒上）贴上仪器校验合格标签6.7.2在同一卡尺中，有部分项目不在要求范围内，能进行维修的可适当维修，维修后的卡尺需重新进行检验。
卡尺内部校准规范
校点为101.20,201.50,291.80mm。
5.5 内量爪的校准：先将一块尺寸为20mm的3级或5等量块的长边夹持于两外量爪测量面之间，紧固螺
钉后,该量块应能在量爪测量面间滑动而不脱落。用测力（6-7)N的外径千分尺测量内量爪三次，
取平均值，记录在《内校记录表》中。
5.6 示值误差:历次测量值与标准值之差，均要求在允许误差范围内,判断校准合格。对于分度值为
盖红色受控文件印章为受控文件,若印章不是红色则为非受控文件,请只使用受控 印章 文件.
文件编号:WI-QA-0005
标题:卡尺内部校准规范
版本:
A1
页数:
2/2
生效日期:2006-10-25 5.4 用同样的方法，在整个量程上对其它的受校点分别测量三次,再取平均值记入《内校记录表》内 。 对于测量范围在300mm内的卡尺,受校点不少于均匀分布3点,如测量范围为(0-300mm)的卡尺,其受
0.01或0.02mm的卡尺:尺寸范围为0-150mm,允许示值误差±0.02mm;尺寸范围>150-200mm,允许示
值误差为±0.03mm;尺寸范围>200-300mm,允许示值误差为±0.04mm。
6.相关记录《ຫໍສະໝຸດ 校记录表》3.校准用基准件 外校合格的标准量块和数显外径千分尺。
4.校准条件 4.1 温度:20±5℃，湿度：≤80%RH。 4.2 校准前,将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于木桌上平衡温度时间2H。
5.校准步骤 5.1 检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，表盘卡尺表头的指针是否完好，有无松
动，刻度是否清楚，推动表头是否平稳、平滑、数显卡尺显示屏是否完好。 5.2 示值的变动性：移动尺框，使卡尺的两外测量面接触，重复测量10次并读数，以最大与最小读 数的差值确定,带表卡尺不超过分度值的1/2;数显卡尺不超过0.01mm。 5.3 取一块20mm基准量块进行度量，量块被测量面要干净、平整。连续测量三次，取平均值记录在 《内校记录表》中，校准时每一受校点应在量爪的里端和外端两位置校准，量块工作面的长边和 卡尺的测量面长边应垂直。
数显卡尺内部校正作业指导书
数显卡尺内部校正作业指导书文件编号：1. 目的1.1. 保证数显卡尺的有效使用，确保产品实现过程的质量。
2. 适用范围2.1. 适用于公司内部校正的数显卡尺3. 职责3.1品管部计量管理人员负责计量仪器的校准工作。
3.2相关使用部门配合计量管理人员进行校准工作。
4. 作业流程4.1. 校准项目及要求表14.2. 校准条件与设备：4.2.1校准条件环境温度:15~25℃范围内,温度波动不超过±3℃/6h﹔湿度:不大于80%RH﹔.校准前，应将卡尺等校准工具设备同时置于平板及木桌上，其平衡温度为平板1小时，木桌为2小时。
4.2.2校准用标准器：经校准机构校准的数显卡尺4.2.3.校准方法比较法4.3校准过程:4.3.1外观﹕采用目视观测。
卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰、表面透明清洁、不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划伤、无目力可见的断线或粗细不均等以及影响外观质量的其他缺陷。
4.3.2标志﹕有制造厂名,规格型号、分度值等。
4.4示值误差4.4.1首先用已经经过校准的卡尺分别测量尺寸为1mm\6mm\10mm\50mm\100mm\200mm的长度块。
用比较法，将被校装置分别对其进行测量，重复测量三次，并记录下数值。
4.4.2结果计算: 应符合表1要求计算公式：Ln平均=Ln1+Ln2+Ln3/3示值误差△L=(Ln平均-L平均)\ L平均*100%式中: △L----数显卡尺的示值误差;L平均----已校准装置的测量平均值Ln平均----被校数显卡尺测定的平均值;4.5数字显示器的示值稳定性将被校装置置于以任意值打开的状态，观察一小时内的变化5. 支持性文件5.1. XXX-QP-XXX 《监视和测量装置控制程序文件》6. 质量记录6.1. XXX-QR-XXX 《监视和测量装置校正记录》。
卡尺校正规程
1 目的为有效管理本公司卡尺的使用、保养及维护，使生产能顺利运行，并延长其使用寿命，保持卡尺的准确度，以确保产品质量。
2 范围本规程适用于公司所有卡尺的首次检定、后续检定和使用中检查。
3 定义卡尺：卡尺是利用带有量爪（或基准面）的尺框在尺身上相对运动，通过游标、指示表或数显形式显示尺身和尺框上两量爪（或测量面）之间的平行间距，用于测量外尺寸、内尺寸和深度尺寸以及盲孔、阶梯形孔及凹槽等相关尺寸的计量器具。
4 职责4.1 校正实验室负责卡尺校正作业细则的制定及卡尺的定期校正；4.2 检测中心负责卡尺校正规程的审核；4.3 品质管理处经理负责卡尺校正规程的核准。
5 内容5.1 计量性能要求5.1.1 标尺标记的宽度和宽度差游标卡尺的主标尺和游标尺的标记宽度和宽度差应符合表1的规定。
表1 标尺标记的宽度和宽度差 mm带表卡尺的主标尺标记和圆标尺标记宽度及指针末端宽度应为（0.10—0.20mm ），宽度差应不超过0.05mm 。
5.1.2 测量面的表面粗糙度测量面的表面粗糙度应符合表2的规定。
表2 测量面的表面粗糙度 分度值标尺标记宽度 标尺标记宽度差 0.020.08—0.18 0.02 0.050.03 0.10 0.05分度值（分辨力）/mm表面粗糙度R a/μm外量爪测量面内量爪测量面深度卡尺的尺框测量面和尺身测量面深度测量杆的测量面0.01， 0.02 0.20.4 0.20.80.05， 0.10 0.4 0.45.1.3 测量面的平面度测量面的平面度应不超过表3的规定。
表3 测量面的平面度 mm测量范围外量爪测量面的平面度深度卡尺的尺框测量面和尺身测量面在同一平面时的平面度0<L≤1000 0.003 0.0051000<L≤2000 0.005 0.006注：测量面边缘0.2mm范围内允许塌边。
5.1.4 圆弧内量爪的基本尺寸偏差和平行度两量爪合并时，圆弧内量爪基本尺寸，首次检定的一般为10mm或20mm整数，其偏差应符合表4的规定；后续检定的基本尺寸允许为0.1mm的整倍数，保证使用的情况下可为卡尺分度值的整数倍，并在证书内页上注明。
卡尺内校操作规程
卡尺内校操作规程卡尺是一种常用的测量工具，在使用前需要进行内校操作以确保其准确性和精度。
下面是卡尺内校的操作规程，详述了具体的步骤和注意事项。
一、准备工作1.确保卡尺清洁干净，没有杂质和污渍。
2.检查卡尺的清晰度，确保读数尺上的刻度和标度清晰可见。
3.检查卡尺的零位，确保读数尺上的零刻度与刻度线对齐。
二、内校操作1.选择一个标准样品，其长度应与卡尺的测量范围相匹配。
标准样品可以是已经检定合格的卡尺、钢尺等。
2.将标准样品放置在平坦的工作台上。
3.将卡尺完全关闭，将读数尺缩回，确保没有误差。
4.使用手指轻轻按住卡尺的刀口，将卡尺平放在标准样品上。
5.在经过平放后，将标准样品与卡尺的一端对齐，确保两者之间没有间隙。
6.利用读数尺读取标准样品的长度，记录下读数。
三、计算误差1.将读数尺的读数与标准样品的长度做差，得到偏差数值。
2.根据偏差数值判断卡尺的正负误差，并计算得到相对误差。
四、调整方法1.如果卡尺的误差在正常的范围内，可以不进行调整。
2.如果卡尺的误差超出了正常范围，需要进行调整。
调整方法可以有以下几种：-若误差过大，则需要将卡尺送至专业单位进行修复。
-若误差较小，可以通过手动调整读数尺的位置来校正偏差。
五、再次内校1.在完成调整后，重新对卡尺进行内校操作，以确认误差是否已被消除。
2.重复以上操作，并记录误差值，直到卡尺的误差在正常范围内。
六、操作注意事项1.内校操作应在稳定的环境中进行，避免受到外界干扰。
2.内校操作应在合适的温度和湿度条件下进行，避免温度和湿度对卡尺产生影响。
3.内校操作应由经验丰富的操作人员进行，确保操作的准确性和稳定性。
4.内校操作后，应将卡尺存放在干燥、清洁的环境中，避免受潮和受损。
总结：卡尺内校操作是确保卡尺准确度和精度的重要步骤，通过选择标准样品、进行读数和计算误差等步骤，可以对卡尺进行内部校对，以保证测量的准确性。
在进行内校操作时，需要注意操作方法和环境条件，以确保操作的准确性和稳定性。
数显卡尺的校准
数显卡尺的检定/校准作业指导书依据：JJG30─2002通用卡尺检定规程注意事项：检定过程必须带手套，防止标准器生锈。
标准器应放在干燥和温度适宜的检定室内，注意保持清洁，使用前应将各工作面用汽油擦试干净。
每次使用完毕必须用汽油擦洗干净并涂上防锈油，放入盒内。
检定条件：温度（20±5）℃湿度：不超过80％RH应将被检卡尺及量块等检定用设备同时置于平板或木桌上，其平衡温度1h或2h。
（根据测量范围≤300mm）外观：卡尺表面应镀层均匀、标尺标记清晰，无目力可见的断线或粗细不均。
带表卡尺表蒙透明清洁。
新购卡尺必须有制造厂名或商标、标志、分度值和出厂编号。
各部分相互作用：尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象。
如有松动用螺丝刀调节尺框上的前脚和后脚螺钉。
根据GB-T201214.2-1996规定测量范围为（0～150mm）卡尺，它的移动力一般在（3～7）N，变化值2N，。
测量范围为（0～200、300mm）卡尺，它的移动力一般在（4～8）N，变化值2N。
注：阻滞（移动时一段灵活，一段不灵活）松动（尺框上的前脚和后脚螺钉间隙过大）测量面的平面度：两外测量面手感接触时的合并，在宽量面处不应透光，在刀口窄量面处不应透白光。
外量爪测量面的平面度用刀口形直尺检定，检定时，分别在外量爪测量面的长边、短边和对角线位置上进行。
当所有检定方位上出现的间隙均在中间部分或两端部位时，取其中一方位间隙量最大的作为平面度。
当其中有的方位中间部分有间隙，而有的方位两端部分有间隙，则平面度以中间和两端最大间隙量之和确定。
圆弧内量爪的基本尺寸和平行度：合并两量爪，其圆弧半径不应大于合并宽度的1/2。
基本尺寸用外径千分尺沿卡尺内量爪圆弧面母线在里、中、外3个位置检定。
平行度用外径千分尺在内量爪距外端2mm处开始检定，由里、中、外3个位置的最大与最小尺寸之差确定。
刀口内量爪的基本尺寸和平行度：先将1块尺寸为10mm的3级或5等量块的长边夹持于两外测量爪测量面之间，紧固螺钉后，该量块应能在量爪测量面间滑动而不脱落。
计测器具内校管理规范
计测器具内校管理规范一、目的根据本公司实际情况，大部分计量器具送检外校，其中对部分没有送外校、或无法外校的、或外校后使用频繁的器具进行不定期的内部校准，确保其准确度和适用性，以保持完好。
二、范围适应于游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等的内部校准。
三、校准基准：外校合格的游标卡尺、电子秤、温湿度计、万用表等。
四、校准步骤：4.1、卡尺内校程序：4.1.1 卡尺的类型4.1.1.1游标卡尺：由尺身、尺框和深度三部分组成。
其刀口内量爪用于测量内尺寸，外量爪用于测量外尺寸，尺身背面沟槽中装有深度尺用于测量孔或槽的深度。
（如图1）4.1.1.2带表卡尺该卡尺的尺身有毫米刻线并装有高精度齿条，以齿条为基准带动百分表转动，由此代替游标装置进行读数。
我司带表卡尺的百分表分度值为0.01mm（如图2）4.1.1.3数显卡尺该卡尺尺身装有高精度齿条，齿条运动带动圆形栅格片转动，用光电脉冲计数原理，将卡尺量爪的位移量转变为脉冲讯号，通过计数器和显示器将测量尺寸用数字显示在屏幕上。
（如图3）图1图2图34.1.2校准原理：利用主尺刻线间距与游标刻线间距之差来进行小数部分读数，整数部分由游标尺的零刻线所对应的主尺刻线确定。
4.1.3校准基准：①、外校合格的标准件。
②、选用外校合格的平台。
4.1.4 校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为6个月。
4.1.5校准步骤：4.1.6 判定标准：表示值误差不超过下表所列的标准即为合格：4.1.7 注意事项：4.1.7.1掌握好测力测量力对于卡尺来说是一个影响测量准确度的重要因素，测量时要掌握好量爪与工件表面接触时的压力，测量面与工件接触后，量爪应能沿工件表面滑动，但不能有松动，跌落的手感，有微动装置的卡尺应使用微动装置。
4.1.7.2注意减少测量孔径的误差用内量爪测孔径时，应先将固定量爪接触孔壁，再移动活动量爪找出最大尺寸，这样的测得值才是孔径尺寸，否则，测得值是弦长或其他尺寸。
卡尺内部校准规程
1.目的本规程规定了公司自行校准的卡尺校准方法、接受标准及校准周期。
2.适用范围适用于普通、指针式表盘以及数显游标卡尺的内部校准。
3.职责品质管理部负责此标准的执行 4． 参照标准JJG 30-2012《通用卡尺检定规程》 5． 通用技术要求5.1 外观5.1.1 卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰，表蒙透明清洁。
不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，无目力可见的断线或粗细不匀等，以及影响外观质量的其他缺陷。
5.1.2 卡尺上必须有制造厂名或商标、分度值和出厂编号。
5.1.3 使用中和后续检定的卡尺，允许有不影响使用的外观缺陷。
5.2 各部分相互作用5.2.1 尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象。
数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能稳定，工作可靠。
5.2.2 各紧固螺钉和微动装置的作用应可靠。
5.2.3 主尺尺身应有足够长度裕量，以保证在测量范围上限时尺框及微动装置在尺身之内。
5.3 各部分相对位置5.3.1 游标尺刻线与主标尺应平行，无目力可见倾斜。
5.3.2 游标尺标记表面棱边至主标尺标记表面的距离应不大于0.30mm 。
5.3.3 卡尺两外量爪合并时，应无目力可见的间隙。
6． 检定条件6.1 检定室内温度20±5℃。
6.2 检定室内相对湿度不大于80%。
6.3 检定前，应将被检卡尺及量块等检定用设备置于平板或木桌上，其平衡温度时间见下表1的规定。
表1 平衡温度时间表6.4 校准基准6.4.1 标准量块（外校合格的标准量块） 6.4.2 选用外校合格平台7. 检定方法及判定标准各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定。
e = L- L o式中：e —卡尺的示值误差L —卡尺的读数值L o —量块的长度8. 检定结果处理8.1 检定为合格卡尺，由检定人员填写《卡尺内校记录表》并提交相关人员审核后，贴上校准合格标签。
8.2 检定不合格卡尺，在《卡尺内校记录表》里注明不合格项目，并标示不合格标签，停止使用。
卡尺内校作业指导书
1.0目的
对卡尺进行内部校正，确保其准确度与适用性符合要求。
2.0适用范围
适用于带表卡尺、游标卡尺、电子卡尺、数显卡尺的内部校正。
3.0校正基准件
外校合格的标准量块（块规）
4.0环境要求
室温：23~25℃
5.0校验周期
6个月
6.0校正步骤
6.1检验人员必须戴手套，检验卡尺测量接触面是否平整、干净，无油渍、锈渍。
刻度值清
晰，指针无变形，推动表头，是否平滑、平稳。
6.2 调试归零，或使指针归零。
6.3 先取一块40mm基准量块进行度量，量块物表面要保持干净、平整。
6.4 连续测量三次，允许公差值+0.02mm，取平均值记录在《检定记录卡》内，在度量检测
时，卡尺必须要与量块垂直。
6.5 用同样的方法，用以下量块逐个度量，50mm允许公差+0.02mm，100mm允许公差
+0.02mm（50mm+100mm）允许公差+0.04mm，（50mm+100mm+70mm+80mm）允许公
差+0.06mm，每个量程必须测量三次以上，取其平均值记录于《仪器校正报告》内。
6.6 可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或其组合进行校正。
6.7 历次测量值与标准值之差，均在允许范围内，方可判定校正合格。
6.8 对校正合格的量具，贴附内校合格标识。
7.0 相关文件记录
《检定记录卡》。
数显卡尺内校管理办法
5.3.1.4用外爪夹持1个人10mm的量块，紧固螺栓后用量块可以滑动但不掉落，用千分尺量测内爪。
5.4.1卡尺示意图
5.4.1.2选择被检卡尺的适当校准点，由标准量块的标准值 ，从被检卡尺得到示值 ；
5.4.1.3读取并记录 和 值在校准原始记录上。
5.5.2校准周期
数显卡尺校准周期为一年，修理后校准合格才能使用。
5.5.3校准记录结果有校准部门进行保存，保存期限为二年。
5.6校准使用表格及标贴
5.6.1数显卡尺原始记录表；
5.6.2数显卡尺校准报告；
5.6.3校准不合格报告；
5.4.1.4按式（1）、（2）计算被检表的示值误差。
公式（1）
公式（2）
式中： ——被检卡尺的示值误差，V；
——被检卡尺的相对误差；
——被检卡尺示值，V；
——标准值，V；
5.4.1.5 应符合使用说明书的要求。
5.5校准结果的处理和校准周期
5.5.1校准结果的处理
经校准合格的被检卡尺出具校准证书和校准合格证，不合格的被检表出具校准不合格报告,并注明不合各项目。
5.1校准项目
5.1.1周期校准项目
5.1.1.1外观及附件；
5.1.1.2工作正常性；
5.1.1.3各量程内的示值误差。
5.1.2修理后校准项目
修理后的仪器校准时，一般按周期校准的项目进行校准，必要时可视修理情况增加有关的校准项目。
5.2校准方法
5.2.1外观及附件的检查
用目视法检查被检卡尺的外观及附件，其结果应符合4.1.1的规定。
4.2.1.1环境温度：（20±5）℃；
数字卡尺内校规范
三、作业程序：
3-1依《量检具校验一览表》上所使用的外校合格、且在有效期内的量块、平板，并找出《量检具设备校验履历表》及要求使用单位提供受检之设备。
3-2备妥清洁用布、治工具内校记录表。
3-3外观要求，数显卡尺表面不应有锈迹、碰伤、镀层脱落及其它影响质量的缺陷，数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象，各按钮功能可靠，工作稳定。
3-13校验合格后，数显卡尺校验周期为一年。
四、附表：
4-1仪器设备内校记录表
批 准：
审 核：
拟 制：
3-4各部分相互作用，尺框沿尺身移动应手感平稳，深度尺不应有窜动，紧固螺母的作用应可靠。
3-5刀口内量爪尺寸检测，将一块6等（或以上）量块置于两外量爪测面之间，旋紧固定螺钉，量块不应滑落，用杠杆千分尺在全长范围内测量内量爪尺寸，尺寸偏差由测得值与量块之差确定，检定结果不应大于下表的规定：
新制的和修理后
76.8
214.4
299.2
3-7-1外测量爪示值误差，用标准量块进行检测，各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确定，检定结果不应大于下表的规定。一般检测三点。下表为一般推荐检测点：
示值误差规定：
受检尺寸
示值误差
0～200
±0.03
≥200～300
0.04
≥300～500
0.05
3-7-2深度尺示值误差：用一块尺寸为20mm的6等或以上量块于平板上进行检定，读数值与量块尺寸之差即为检定结果。
使用中
+0.015～0
+0.015～-0.005
3-6示值变动性，移动尺框，使两外量面至手感接触时在表上读数，移动尺框五次，其最大与最小值之差为变动性，检定结果不应大于0.01mm。
电子数显卡尺内部校准规程
文件编号:WI2912
版本:2.1
分发编号:
分发日期:2011/1/5
1.ห้องสมุดไป่ตู้的
对电子数显卡尺进行内部校准,确保其准确度和适用性保持完好。
2.范围
适用于检验，设计开发以所使用的电子数显卡尺的内部校验。
3.校准用基准设备
外校合格的:1.电子数显卡尺(0-200mm)
4.环境条件
室温:25℃
△%=(U-V)/U*100
式中：U---------被校仪的指示值
V---------基准仪的读值
5.4校准判定
尺度检定值的误差均在0.5%以内，判定校准合格
6相关记录
内部测试报告
编写:
审核:
批准:
日期
日期:
日期:
共1页第1页
5.校准步骤
5.1被校的电子数显不应妨碍读数和影响正常工作的机械损伤，接线柱，旋钮等无松动，通电能正常工作。
5.2.调节电子数显卡尺,依次设定每个被检测点的数值，一般检测51.2mm,121.5mm,191.8mm为准And深杆测试20mm .在读值稳定时分别在<内校测试报告>中记录两尺实际值。
5.3根据以下公式计算误差：
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数显卡尺内校管理办法
1.0 目的及适用范围
1.1 目的
本管理办法规定了数显卡尺的技术要求、校准条件、校准项目、校准方法、校准结果的处理和校准周期。
1.2 适用范围
本管理办法用于新购置、使用中和修理后的数显卡尺功能的校准。
2.0 引用文件
JJG30-2002通用卡尺检定规程
3.0 术语和定义
不需用
4.0 一般要求
4.1 技术要求
4.1.1 外观及附件。
被检卡尺的外观应完好，无影响正常工作的机械损伤，其附件和使用说明书应齐全。
4.1.2 工作正常性
被检卡尺的各开关及显示功能应正常，通电后应能正常工作。
4.2 校准条件
4.2.1 环境条件如下：
4.2.1.1 环境温度：（20±5）℃；
4.2.1.2 相对湿度：20％～75％；
4.2.2 校准用设备
校准所用标准设备必须经过法定计量技术机构校准合格，并在有效期内。
标准设备的测量范围要涵盖被检仪器的测量范围，标准件的精准度最少小于被检卡尺的三分之一。
4.2.2.1 三等量块
4.2.2.2 数显千分尺
5.0 详细要求
5.1 校准项目
5.1.1 周期校准项目
5.1.1.1 外观及附件；
5.1.1.2 工作正常性；
5.1.1.3 各量程内的示值误差。
5.1.2 修理后校准项目
修理后的仪器校准时，一般按周期校准的项目进行校准，必要时可视修理情况增加有关的校准项目。
5.2 校准方法
5.2.1 外观及附件的检查
用目视法检查被检卡尺的外观及附件，其结果应符合4.1.1的规定。
5.2.2 工作正常性的检查
5.2.2.1 被校卡尺应在4.2.1规定的条件下放置2h以上。
5.2.2.2 被检卡尺各开关及功能键的功能应正常。
5.2.2.3 用被检卡尺外爪，深度尺量测标准量块，用千分尺测量卡尺的内爪。
5.3.1选择校准点
5.3.1.1 选择三个点对卡尺的长度测量进行校准；
5.3.1.2 数字显示器示值稳定性的校准：将卡尺的固定螺柱拧紧，将卡尺放在一固定位置1小时，示值
变化不得超过0.01mm ；
5.3.1.3 示值稳定变动性：将同一量块测量10次，最大值减最小值的差不得超过0.01mm.
5.3.1.4 用外爪夹持1个人10mm 的量块，紧固螺栓后用量块可以滑动但不掉落，用千分尺量测内爪。
5.4.1 卡尺示意图
5.4.1.2 选择被检卡尺的适当校准点，由标准量块的标准值 r U ，从被检卡尺得到示值t U ；
5.4.1.3 读取并记录r U 和t U 值在校准原始记录上。
5.4.1.4 按式（1）、（2）计算被检表的示值误差。
r t U U U -=∆ 公式（1）
%100⨯∆=r
U U r 公式（2）
∆——被检卡尺的示值误差，V；
式中：U
r——被检卡尺的相对误差；
U——被检卡尺示值，V；
t
U——标准值，V；
r
∆应符合使用说明书的要求。
5.4.1.5 U
5.5 校准结果的处理和校准周期
5.5.1 校准结果的处理
经校准合格的被检卡尺出具校准证书和校准合格证，不合格的被检表出具校准不合格报告,并注明不合各项目。
5.5.2 校准周期
数显卡尺校准周期为一年，修理后校准合格才能使用。
5.5.3 校准记录结果有校准部门进行保存，保存期限为二年。
5.6 校准使用表格及标贴
5.6.1 数显卡尺原始记录表；
5.6.2 数显卡尺校准报告；
5.6.3 校准不合格报告；
5.6.4 校准证（参见“计量设备控制程序”附录二）；
5.6.5 限用证（参见“计量设备控制程序”附录二）；
5.6.6 停用证（参见“计量设备控制程序”附录二）；。