真空检漏
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闭,使容器与泵隔离,然后测量容器内的压力变化,作出压力随时 间的变化曲线。
A、若图像呈现出图中直线a的情况,即压力保持不变,这是由于真 空泵工作性能不良所造成的。
B、出现图曲线b的倩况,即压力开始时上升较快,然后上升速度渐 缓并逐渐趋于水平恒定状态,这说明主要是由于开始抽气后产 生的放气而造成的。
qL,t V gp / t
难以确定漏孔的位置,判断也不容易,实用性差。
2、辅助真空罩法: 辅助真空罩法是一种能够很好地区别被检件中漏气和放气的
静态升压法。该法借助一个辅助真空罩,组成如图所示的测试系 统。
内部抽真空后再关闭阀2,在△t内测的压力增长值△P1。再 将辅助真空罩罩在被检件外并密封好,然后将辅助真空罩 内抽真空到与被检件内部相同的压力,再次对被检件内部 抽真空后封闭,在时间间隔△t 内测得另一个压力增长值 △P2,这是单纯由被检件内部故气所引起的压力增长值。 那么系统的漏率为:
流时,漏孔对空气的漏率qL可用下式近似估算:
qL
1 d3n(
6
p02
p2 air
p02 )
四、各种检漏方法介绍
1、静态升压法: 静态升压法的检漏过程是在排除系统放气的情况下,将被检容
器抽空至必要的真空度,再关闭阀门使容器与真空泵隔离,然后 用真空计测量容器中压力随时间的变化,从而算出总漏率。如果 被测容器的容积为V,在时间间隔△t内测到的压力上升为△p,在 忽略容器中存在放气的情况下,则容器的总漏率为:
三、对检漏方法的要求
理想的检漏方法应满足以下几点要求: (1)检漏灵敏度高,反应时间短,稳定性好; (2)易于判定漏孔的位置及大小; (3)示漏物质在空气中的含量低,并易于得到,不腐蚀零件
不影响人身安全; (4)检漏范围宽,从大漏到小漏均易于找到漏孔; (5)应达到无损检漏,无油检漏; (6)结构简单,使用方便,对被检件不应有苛刻要求。
真空检漏法类型及其最小可检漏率
(3)背压检漏法:
背压检漏法是一种充压检漏与真空检漏相结合的方法, 多用于封离后的电子器件、半导体器件等密封件的无损检漏 技术中。其检漏过程基本上可分为充压、净化和检漏三个步 骤。 A、充压过程是将被检件在充有高压示漏气体的容器内存放 (或称浸泡)一定时间。 B、净化过程是采用干燥氮气流或干燥空气流在充压容器外部 或在其内部喷吹被检件。如不具备气源时也可使被检件静置, 以便去除吸附在被检件外表面上的示漏气体。 C、 检漏过程则是将净化后的被检件放人真空室内,将检漏 仪与真空室相连接后进行检漏。
(2)真空检漏法:
真空检漏法是将被检的真空容器或真空系统与检漏仪器的敏感 元件抽成真空状态,然后将示漏物质依次施加在被检容器或系统外 面的可疑部位。如果被检的容器或系统存在漏孔,示漏物质(如氦 气)不但会通过漏孔进入到容器或系统中去,同时也会进入到检漏 仪器的敏感元件所在的空间中去,从而通过敏感元件检测出示漏物 质,借以判断出漏孔存在的位置和大小。下表给出了真空检漏法中 所采用的各种检漏方法及其特点和它所能达到的最小可检漏率。
2、漏孔的判断步骤:
经过一段时间的抽气过程之后,如果达不到预定的极限真空度, 可从如下几个方面进行分析和判断,找出其原因:
(1)真空泵工作是否良好。 (2)真空系统内是否存在严重放气。 (3)真空系统容器壁或间隙处是否漏气。 (4)是否漏气与放气现象共存。
总结:漏否→为什么漏→哪里漏
查找上述几项原因的最普通方法是静态升压法。 这种方法通常是把被检测的容器抽到一定的低压后,将阀门关
C、如曲线c的情况为漏气。 D、如曲线d的情况为同时存在漏气和放气的现象。
二、检漏方法分类
按被检容器所处的状态分: (1)压力检漏法 压力检漏法是将被检的真空容器充入具有一定压力的示漏物质 (如水和空气),一旦被检容器上有漏孔存在,示漏物质就会 从漏孔中漏出,从而可以判断漏孔的位置。
压力检漏法最小可检漏率
4、气泡检漏法:
根据气泡形成的速率、气泡大小以及所用的气体和液体的物 理性质,可以大致估算出漏孔的漏率。这种方法属于压力检洞法。 它适用于允许承受正压的容器、管道等军部件的气密性检验。此 种方法简单、方便、直观、经济。 气泡检漏法在具体实用中也可分为两种: 4.1 水槽检漏法:根据形成气泡的大小(直径d)、速率(每秒钟形成 气泡的个数n)、充入气体的压强pair,可粗略估计漏率的大小。
真空检漏 主讲人: 李 勤 涛
2010.12
一、真空检漏的目的和基本概念
1、真空检漏的一些基本概念 (1)虚漏:虚漏是相对于实漏而言的一种物理现象,这种现象大都 是由于材料的放气、解吸、凝解气体的再蒸发或系统内存在的死空 间中气体的流出等原因而引起真空系统或容器中压力升高的现象。 (2)气密性:它是表征真空系统或容器的壁对空气不可渗透程度的 一种性能。 (3)漏孔:漏孔是指真空器壁上存在的形状不定、极其微小的孔洞 或间隙。 (4)漏率:漏率即漏气速率。 (5)最小可捡漏率:它是指采用某种捡漏方法或仪器可能检测出来 的最小漏率。
用肉眼观察一般有三种情况:
一是气泡小,形成速率均匀,气泡持续时间长,漏率范围
10-5~10-2Hale Waihona Puke Baidua·m3/s;
二是随机的大小气泡混合,漏率范围10-2~10-1pa·m3/s;
三是出现的气泡大,形成速率快,持续时间短,漏率范围 10-1~1pa·m3/s。
假设漏孔是一个直径很小的圆柱形毛细管,当气体流为粘滞
qL,t qtot qd V g(p1 p2 ) / t
3、压力平衡法: 是根据压力平衡的原理,借助于一个已知容积的辅助容
器上的真空规管测得不能安装真空规管的被检件总漏率的 静态升压法。
qL,t (V1 V2 )g(p2 p1) / t
压力平衡法因为保持时间可以选的很长,所以这种方法可做 得较为灵敏。为了检查小的漏孔,有时可将被捡件隔离几十个 小时甚至几天。但是应该注意的是,在检查之前要对被检件进 行很好的清洁和干燥处理,使其放气降到可以忽略的程度。对 于辅助容器来说,要求密封性能很好,即漏气和放气都要很小, 两个阀门的密封性能也要很好。
A、若图像呈现出图中直线a的情况,即压力保持不变,这是由于真 空泵工作性能不良所造成的。
B、出现图曲线b的倩况,即压力开始时上升较快,然后上升速度渐 缓并逐渐趋于水平恒定状态,这说明主要是由于开始抽气后产 生的放气而造成的。
qL,t V gp / t
难以确定漏孔的位置,判断也不容易,实用性差。
2、辅助真空罩法: 辅助真空罩法是一种能够很好地区别被检件中漏气和放气的
静态升压法。该法借助一个辅助真空罩,组成如图所示的测试系 统。
内部抽真空后再关闭阀2,在△t内测的压力增长值△P1。再 将辅助真空罩罩在被检件外并密封好,然后将辅助真空罩 内抽真空到与被检件内部相同的压力,再次对被检件内部 抽真空后封闭,在时间间隔△t 内测得另一个压力增长值 △P2,这是单纯由被检件内部故气所引起的压力增长值。 那么系统的漏率为:
流时,漏孔对空气的漏率qL可用下式近似估算:
qL
1 d3n(
6
p02
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p02 )
四、各种检漏方法介绍
1、静态升压法: 静态升压法的检漏过程是在排除系统放气的情况下,将被检容
器抽空至必要的真空度,再关闭阀门使容器与真空泵隔离,然后 用真空计测量容器中压力随时间的变化,从而算出总漏率。如果 被测容器的容积为V,在时间间隔△t内测到的压力上升为△p,在 忽略容器中存在放气的情况下,则容器的总漏率为:
三、对检漏方法的要求
理想的检漏方法应满足以下几点要求: (1)检漏灵敏度高,反应时间短,稳定性好; (2)易于判定漏孔的位置及大小; (3)示漏物质在空气中的含量低,并易于得到,不腐蚀零件
不影响人身安全; (4)检漏范围宽,从大漏到小漏均易于找到漏孔; (5)应达到无损检漏,无油检漏; (6)结构简单,使用方便,对被检件不应有苛刻要求。
真空检漏法类型及其最小可检漏率
(3)背压检漏法:
背压检漏法是一种充压检漏与真空检漏相结合的方法, 多用于封离后的电子器件、半导体器件等密封件的无损检漏 技术中。其检漏过程基本上可分为充压、净化和检漏三个步 骤。 A、充压过程是将被检件在充有高压示漏气体的容器内存放 (或称浸泡)一定时间。 B、净化过程是采用干燥氮气流或干燥空气流在充压容器外部 或在其内部喷吹被检件。如不具备气源时也可使被检件静置, 以便去除吸附在被检件外表面上的示漏气体。 C、 检漏过程则是将净化后的被检件放人真空室内,将检漏 仪与真空室相连接后进行检漏。
(2)真空检漏法:
真空检漏法是将被检的真空容器或真空系统与检漏仪器的敏感 元件抽成真空状态,然后将示漏物质依次施加在被检容器或系统外 面的可疑部位。如果被检的容器或系统存在漏孔,示漏物质(如氦 气)不但会通过漏孔进入到容器或系统中去,同时也会进入到检漏 仪器的敏感元件所在的空间中去,从而通过敏感元件检测出示漏物 质,借以判断出漏孔存在的位置和大小。下表给出了真空检漏法中 所采用的各种检漏方法及其特点和它所能达到的最小可检漏率。
2、漏孔的判断步骤:
经过一段时间的抽气过程之后,如果达不到预定的极限真空度, 可从如下几个方面进行分析和判断,找出其原因:
(1)真空泵工作是否良好。 (2)真空系统内是否存在严重放气。 (3)真空系统容器壁或间隙处是否漏气。 (4)是否漏气与放气现象共存。
总结:漏否→为什么漏→哪里漏
查找上述几项原因的最普通方法是静态升压法。 这种方法通常是把被检测的容器抽到一定的低压后,将阀门关
C、如曲线c的情况为漏气。 D、如曲线d的情况为同时存在漏气和放气的现象。
二、检漏方法分类
按被检容器所处的状态分: (1)压力检漏法 压力检漏法是将被检的真空容器充入具有一定压力的示漏物质 (如水和空气),一旦被检容器上有漏孔存在,示漏物质就会 从漏孔中漏出,从而可以判断漏孔的位置。
压力检漏法最小可检漏率
4、气泡检漏法:
根据气泡形成的速率、气泡大小以及所用的气体和液体的物 理性质,可以大致估算出漏孔的漏率。这种方法属于压力检洞法。 它适用于允许承受正压的容器、管道等军部件的气密性检验。此 种方法简单、方便、直观、经济。 气泡检漏法在具体实用中也可分为两种: 4.1 水槽检漏法:根据形成气泡的大小(直径d)、速率(每秒钟形成 气泡的个数n)、充入气体的压强pair,可粗略估计漏率的大小。
真空检漏 主讲人: 李 勤 涛
2010.12
一、真空检漏的目的和基本概念
1、真空检漏的一些基本概念 (1)虚漏:虚漏是相对于实漏而言的一种物理现象,这种现象大都 是由于材料的放气、解吸、凝解气体的再蒸发或系统内存在的死空 间中气体的流出等原因而引起真空系统或容器中压力升高的现象。 (2)气密性:它是表征真空系统或容器的壁对空气不可渗透程度的 一种性能。 (3)漏孔:漏孔是指真空器壁上存在的形状不定、极其微小的孔洞 或间隙。 (4)漏率:漏率即漏气速率。 (5)最小可捡漏率:它是指采用某种捡漏方法或仪器可能检测出来 的最小漏率。
用肉眼观察一般有三种情况:
一是气泡小,形成速率均匀,气泡持续时间长,漏率范围
10-5~10-2Hale Waihona Puke Baidua·m3/s;
二是随机的大小气泡混合,漏率范围10-2~10-1pa·m3/s;
三是出现的气泡大,形成速率快,持续时间短,漏率范围 10-1~1pa·m3/s。
假设漏孔是一个直径很小的圆柱形毛细管,当气体流为粘滞
qL,t qtot qd V g(p1 p2 ) / t
3、压力平衡法: 是根据压力平衡的原理,借助于一个已知容积的辅助容
器上的真空规管测得不能安装真空规管的被检件总漏率的 静态升压法。
qL,t (V1 V2 )g(p2 p1) / t
压力平衡法因为保持时间可以选的很长,所以这种方法可做 得较为灵敏。为了检查小的漏孔,有时可将被捡件隔离几十个 小时甚至几天。但是应该注意的是,在检查之前要对被检件进 行很好的清洁和干燥处理,使其放气降到可以忽略的程度。对 于辅助容器来说,要求密封性能很好,即漏气和放气都要很小, 两个阀门的密封性能也要很好。