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三．ICT测试程序的制作
（一）准备好2PCS空PCB板，1PCS实板， 1份BOM及原理图（邦线图），提供给 供应商分析
（二）供应商根据我们的要求制作测试机 架及原始程序
（三）根据BOM，电路图，针点图进行相 对应的测试程序的调试
1．单板的调试 按“Ctrl+E”进入元件编辑界面 先熟悉一下界面
Vs
Rx
Ix
L
3. 量测电容C&电感L：
(1).单个C&L（Mode A1.A2.A3.A4.A5 ）： 交流定电压:交流电压源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2лfCx,求得： Cx=Ix/2лfVs.Vs/Ix=Zl=2лfLx, 求得：Lx=Vs/2лfIx. 注:3UF以上电容用(Model DC)
5. 量测Open/Short：
即以阻抗判定：先对待测板上所有Pin点进行学 习,R<20Ω即归为Short Group，然后Test时进行比较， R<10Ω判定为Short,R>80Ω判为Open.
短路
10Ω
学习 参考点
20Ω
开路 80Ω
6.低压测试方法(LV) 低压功能测试是允许你供应某一定电压到零件两端，同时测量 零件两端的电压，如测电容反向、Zener二极管、或IC都可使 用此法。
图二
直流定电压源: 信号源Vs取恒压 （0.2V），量回 Ix，则
Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上图二.
(3).R//L(mode P1,P2,P3,P4,P5):
相位法测试:信号源取交流电压源Vs，籍相位法辅 助.|Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并|Y’|=I’x/Vs故：Rx=1/|Y’|Cosθ 如下 图:
对照坏机故障，加深印象
A 元件（Component）的调试(R,C,L,D,Q)
电阻（R）Debug:
(1).根据R的大小,系统自动调整测试电流大小. F9:单步测试 Alt+F9:整页测试 F5:对调AB点 F10 自动Guarding. Alt+H:查看串连元件.Alt+J:查看并联 元件. (2).R//C:Model(CV&V5) (3).R//D:Model(D2&V5). (4).R//L:Model(P1.P2.P3.P4.P5)
Vs
Cx
Ix
Vs
Lx
Ix
(2).C//R或L//R:(P1.P2.P3.P4.P5) 相位法测试:
1. |Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx 求得：Cx=Cx’Sinθ (Cx’=Ix’/2лfVs)
2.|Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’=1/ωCx 求得：Lx=Lx’/Sinθ(Lx’=Vs/2лfIx’) 如下图:
2. 量测电阻R：
(1).单个R(mode D1,D2):
直流定电流源: 利用Vx=IsRx（欧姆定律）， 则Rx=Vx/Is. 信号源Is取恒流 （0.1uA—5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如Байду номын сангаас下图一.
+
Vx=?
-
Is
Rx
+ Vs=0.2V -
Rx
Ix
C
图一 (2). R//C(mode V5,CV):
I1 R1
C Vc
ICT
When Vc=Va I1=(Va-Vc)/R1=0
7
3 +
2 -
U?
6
当Rx有旁路（R1)时， Ix=Is-I1≠Is 故：Vx/Is≠Rx此时取A 点电位Va, 送至C 点, 令Vc=Va, 则： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 从而：
Vx/Is=Rx如图:
Vs
Cx
Ix
R
Vs
Lx
Ix
R
4. 量测PN结：（D、Q、IC） 信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源,量PN结导 通电压
一般顺向电压0.7V;反向电压2.2V.
这里主要讲下三极管的三端量测法
晶体管做三端点量测时 ,假设晶体管为NPN type,实际值(ACTval)设定值为DA1所送电压， 标准值(STDval)设定值即为晶体管的VCES电 压值。改变实际值(ACTval)(从0.5V往上增 加) ，直到晶体管饱和导通(测试值应低于 0.2V)。如果晶体管为PNP type，改变实际值 (ACTval)栏的电压(从4.5V往下减少) ，直到 晶体管饱和导通（测试值应低0.2V）。
2. ICT能测:Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等.
3. ICT与ATE的区别: ICT只作静态测试,而ATE则作动态测试.即ICT对被测板不通
电,而ATE要对被测板通电才能测试,
二．ICT的测试原理
4
1. Guarding(隔离)的实现：
+
Vx
Is A Ix Rx
-
B Vb
Va
电容（C）Debug:
(1).单个电容3uf以上信号源既可用交流也可用直
流.300uf以上只可用DC模式.470pf以下用A4&A5; 470pf~3uf用A1.A2.A3模式.
ICT培训教材
目录
一.ICT的基本认识 二．ICT的测试原理 三．ICT测试程序的制作 四．ICT误测分析 五．ICT的转机流程 六.ICT程序调试时注意事项 七．ICT常见故障检修 八. 文件放置指引 九.覆盖率的定义
一.ICT的基本认识
1. ICT即在线测试仪（In Circuit Tester）,是一大堆高级 电表的组合。但它能对在线电路板上的元件测试进行有效的隔 离(Guarding),而万用表则不能.所以,万用表能测的它也能测,万 用表不能测的,它可能能测.
跳线测试(Jumper Test)
跳线测试(Jumper Test)采用一个比较器硬件线路，因此，测 试的结果只有１、２、３、４四个值，单位以JP表示，其代 表的意义如下：
１JP ： ＜ 10 欧姆(ohm) ２JP ： ＞ 10欧姆(ohm)， ＜ 20欧姆( ohm) ３JP ： ＞ 20欧姆(ohm)， ＜ 80欧姆( ohm) ４JP ： ＞ 80欧姆(ohm)
假设我们要测一个6V的稳压二极管,我们可以在实际 值中填入9V,标准值中填入6,当实际植的单位是V,而 标准值不是0时,系统会送出一个9V电压至稳压二极 管两端,然后量测稳压二极管的电压是否为5.6V,从而 判定好坏.LV模式最大送出电压为10V
7.高压测试方法(HV)
高压测试的原理与设定方法与低压相似,只是在模式里选 (HV),高压最大送出电压为50V