非化学计量化合物3.3资料讲解

合集下载
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
从中可见,铁离子空位本身带负电,为了保持电中性; 两个电子空穴被吸引到这空位的周围,形成一种V色心。
根据质量作用定律
K[OO][PhO•2]12/[2VFe'']
[OO●]≈1 [h●]=2[VFe’’] 由此可得: [h●]∝PO21/6
随着氧压力的增大,电子空穴浓度增大, 电导率也相应增大。
h
根据质量作用定律,平衡时,[e’]=2[
V
• O

]

K[Vo..][Po2 ]1/2[e]2 [Oo]
VO••
1
P6 O2
1)∴TiO2的非化学计量对氧压力敏感,在还原气氛中
2)才升e高能 ,形P得成O2到T16i灰O电2-黑x导。色率烧∴规度的电随结律的T氧导i时增关O分,2率-加系x压氧,随,。升分而温反高压不度映而不是的降足金了升低会黄缺。导色高陷致的而浓TV呈i度OO•2指•。与数温
缺陷反应方程式应如下:
2T2-i1 2 O O 22T T iiV 'O ••3O O
2T T i4iO O 2T T iV iO • •' 3O 1 2O o 2
又∵
TiTi+e’= TiTi’
等价2于T T iO iO2T T i2 ie' V O ••1 2O 2
OO2e' VO ••12O2
半导体材料分为两大类: 掺杂半导体,如Si、Ge中掺杂B,P型,Si中掺P为n
型半导体; 非化学计量化合物半导体,又分为金属离子过剩
(n型)(包括负离子缺位和间隙正离子)和负离 子过剩(p型)(正离子缺位和间隙负离子)
一、由于负离子缺位,使金属离子过剩
TiO2、ZrO2会产生这种缺陷,分子式可 写为TiO2-x, ZrO2-x,产生原因是环境中缺 氧,晶格中的氧逸出到大气中,使晶体中 出现了氧空位。
为什么TiO2-x是一种n型半导体?
色心、色心的产生及恢复
“色心”是由于电子补偿而引起的一种缺陷。
某些晶体,如果有x射线,γ射线,中子或电子辐 照,往往会产生颜色。由于辐照破坏晶格,产生了各 种类型的点缺陷。为在缺陷区域保持电中性,过剩的 电子或过剩正电荷(电子空穴)就处在缺陷的位置上。 在点缺陷上的电荷,具有一系列分离的允许能级。这 些允许能级相当于在可见光谱区域的光子能级,能吸 收一定波长的光,使材料呈现某种颜色。
• 它是由一个负离子空位和一个在此位置上的电 子组成的。由于陷落电子能吸收一定波长的光 ,因而使晶体着色而的名。
• 如:TiO2在还原气氛下由黄色变为黑色。
• 正离子空位缺陷俘获空穴形成的色心称做V色 心.
TiO2-x结构缺陷示意图(I)
TiO2-x结构缺陷 在氧空位上捕获两个电 子,成为一种色心。色 心上的电子能吸收一定 波长的光,使氧化钛从 黄色变成蓝色直至灰黑 色。
3.wenku.baidu.com 非化学计量化合物
实际的化合物中,有一些化合物不符合定比定律, 负离子与正离子的比例并不是一个简单的固定的比例关 系,这些化合物称为非化学计量化合物。 非化学计量化合物的特点:
1)非化学计量化合物产生及缺陷浓度与气氛性质、 压力有关;
2)可以看作是高价化合物与低价化合物的固溶体;
3)缺陷浓度与温度有关,这点可以从平衡常数看出; 4)非化学计量化合物都是半导体。
h h
图2.25由于存在向隙负离子,使负离子过剩型的结构 (III)
对于UO2+x中的缺焰反应可以表示为: U3O8 U2O6 •UO2 U2O6 UO3
等价于:U 3 O U 12 O2 2O U U 2• • h • 2 O OiO '' O i''
根据质量作的物用浓是定P度律随型增着半K大氧导,压体[O这力Pi O'种'的2]1[/类h2增• ]型大的,缺间陷隙化氧合
e
图2.23 由于间隙正离子,使金属离子过剩型结构(II)
缺陷反应可以表示如下:
Z(g n )Z n i2 e
按质量作用定律 K [Zni][e]2 PZn
间隙锌离子的浓度与锌蒸汽压的关系为:
[Z n]iPZ1/n3
如果Zn离子化程度不足,可以有
Z(ng) Zi.ne(此为一种模型)
[Zn.i]PZ1/n2
把这种经过辐照而变色的晶体加热,能使缺陷扩 散掉,使辐照破坏得到修复,晶体失去颜色。
二、由于间隙正离子,使金属离子过剩
Zn1+xO和Cdl+xO属于这种类型。过剩的金 属离子进入间隙位置,带正电,为了保持 电中性,等价的电子被束缚在间隙位置金 属离子的周围,这也是一种色心。例如ZnO 在锌蒸汽中加热,颜色会逐渐加深,就是 形成这种缺陷的缘故。
又 [h●]=2[Oi’’] 由此可得: [Oi’’]∝PO21/6。
四、由于正离子空位的存在,引起负离子过剩
Cu2O、FeO属于这种类型的缺陷。以FeO为例 缺陷的生成反应:
F2 O e 3 F eO 2 FF• e e 3 O O V F''e
2 F F e e 2 3 O 2 (g ) F e2 O F F e e 2 h • 3 O O V F '' e 等价于: 1 2O2(g)O o2h•VF'' e
3)若PO2不变,则
2K 1/ 3
[e' ]
41/ 3
P1/ 6 O2
[e']Kexp{G} RT
• 色心缺陷:晶体构造中出现非计量的化学组成 ,将使晶体具有吸收光性能,这样造成的点缺 陷称为色心缺陷。
• 有F色心和V色心两种。
• F-色心:凡是自由电子缺陷在阴离子空位中而 形成的一种缺陷又称为F-色心。
实测ZnO电导率与
氧分压的关系支持了
单电荷间隙的模型,
2.1
即后一种是正确的。
2.3
log σ
2.5
2.70.6 1.0
1.4
1.8
2.2
2.6 3.0
Log PO2 (mmHg)
图 在650℃下,ZnO电导率与氧分压的关

三、由于存在间隙负离子,使负离子过剩
具有这种缺陷的结构如图2—25所示。 目前只发现UO2+x,可以看作U2O8在UO2中的 固溶体,具有这样的缺陷。当在晶格中存 在间隙负离子时,为了保持电中牲,结构 中引入电子空穴,相应的正离子升价,电 子空穴在电场下会运动。因此,这种材料 是P型半导体。
图2.26由于正离子空位的存在,引起负离子过剩型结构缺 陷(IV)
小结:非化学计量缺陷的浓度与气氛的性质及大小有关,
相关文档
最新文档